[發明專利]一種架體量測系統、圖像定位方法、電子設備及存儲介質

有效

• 申請號: 202010624053.6
• 申請日: 2020-06-30
• 公開（公告）號: CN111754576B
• 公開（公告）日: 2023-08-08
• 發明（設計）人: 彭登;劉玉平;陶永康;韓定;盧佳;梁煒岳;周森標;傅志剛;楊海溢
• 申請（專利權）人: 廣東博智林機器人有限公司
• 主分類號: G06T7/73
• 分類號: G06T7/73;G06T7/13;G06T7/66
• 代理公司: 北京超凡宏宇專利代理事務所(特殊普通合伙) 11463
• 代理人: 李飛

本申請實施例提供一種架體量測系統、圖像定位方法、電子設備及存儲介質，涉及定點測繪技術領域。該裝置包括圖像采集設備和環繞在所述圖像采集設備四周的多個立柱；靶標結構件，設置在所述立柱上，所述圖像采集設備水平旋轉對所述立柱進行拍攝，以獲取靶標結構件圖像，對靶標結構件圖像進行靶標區域分割和角點檢測，確定中心點，以根據靶標結構件圖像的中心點定位測量點，便于通過定位架體測量點對架體進行進一步地方正性和傾斜度的檢測，通過二維圖像的檢測識別和定位，能夠自動化的精確定位測量點，對測量設備沒有高要求，降低成本，解決了現有方法需要人工作業，效率和精度低，成本高的問題。

技術領域

本申請涉及定點測繪技術領域，具體而言，涉及一種架體量測系統、圖像定位方法、電子設備及存儲介質。

背景技術

隨著建筑勞動力越來越緊缺、行業對安全越來越重視，以及對建筑質量的要求越來越高，很多傳統的建筑測量方法也急需找到更加穩定高效和安全的替代方案。傳統的建筑外側架體的方正性和傾斜度需要作業人員用全站儀肉眼瞄準，定點測量，單次測量用時在1-2min，假設共有20根柱體，那測量完全部的柱體需要至少30分鐘；并且，架體調整過程也需要人工機械的去調整，這種人工調整的方式，既不高效，又不精確，很依賴作業人員的經驗；而且建筑工地上待的時間越長，風險系數就越高。

如果通過高精度的三維激光設備測量，高精度(毫米級)的激光雷達設備動輒幾十萬，無疑增加了成本，并且這樣昂貴的設備，在建筑工地環境下也會增加防護保管的難度。

發明內容

本申請實施例的目的在于提供一種架體量測系統、圖像定位方法、電子設備及存儲介質，通過二維圖像的檢測識別和定位，能夠自動化的精確定位測量點，對測量設備沒有高要求，降低成本，解決了現有方法需要人工作業，效率和精度低，成本高的問題。

本申請實施例提供了一種架體量測系統，所述架體量測系統包括：

圖像采集設備和環繞在所述圖像采集設備四周的多個立柱；

靶標結構件，設置在所述立柱上，所述圖像采集設備旋轉并對所述立柱進行拍攝，以獲取靶標結構件圖像，并根據所述靶標結構件圖像定位測量點。

在上述實現過程中，利用圖像采集設備采集二維圖像，對圖像采集設備沒有較高要求，普通相機即可實現；對二維圖像利用圖像處理的技術手段進行處理，即可根據靶標結構件的中心點定位測量點，實現自動定位測量點，并且具有較高的精度，無需人工現場測量，解決現有方法需要人工作業，風險系數高、效率和精度低，成本高的問題。

進一步地，所述靶標結構件包括：

靶標本體；

第一定位層，設置在所述靶標本體上，用于圈定定位區域；

第二定位層，設置在所述第一定位層內，用于在所述定位區域內確定測量點。

在上述實現過程中，通過第一定位層圈定定位區域，利用第二定位層在圈定的定位區域內進行精確定位。

進一步地，所述靶標結構件包括：

靶標本體，其上涂覆有用于增強辨識度的底色層；

所述第一定位層包括全局幾何特征層，所述全局幾何特征層的中心與所述靶標本體的中心重合；

所述第二定位層包括局部幾何特征層，所述局部幾何特征層的中心與所述全局幾何特征層的中心重合，所述局部幾何特征層和所述全局幾何特征層的顏色相同且為淺色，以根據所述局部幾何特征層的中心定位測量點。

在上述實現過程中，靶標本體上的底色層具有抗強光干擾的能力，全局幾何特征層用于提供特征信息進行識別，可以抵御圖像復雜背景的干擾，便于識別；局部幾何特征層用于精確定位，識別靶標本體的中心，以根據靶標本體的中心定位測量點。