[發明專利]一種架體量測系統、圖像定位方法、電子設備及存儲介質

有效

• 申請號: 202010624053.6
• 申請日: 2020-06-30
• 公開（公告）號: CN111754576B
• 公開（公告）日: 2023-08-08
• 發明（設計）人: 彭登;劉玉平;陶永康;韓定;盧佳;梁煒岳;周森標;傅志剛;楊海溢
• 申請（專利權）人: 廣東博智林機器人有限公司
• 主分類號: G06T7/73
• 分類號: G06T7/73;G06T7/13;G06T7/66
• 代理公司: 北京超凡宏宇專利代理事務所(特殊普通合伙) 11463
• 代理人: 李飛

1.一種架體量測系統，其特征在于，所述架體量測系統包括：

圖像采集設備和環繞在所述圖像采集設備四周的多個立柱；

靶標結構件，設置在所述立柱上，具體包括靶標本體、第一定位層和第二定位層，其中，所述第一定位層設置在所述靶標本體上，用于圈定定位區域；所述第二定位層設置在所述第一定位層內，用于在所述定位區域內確定測量點；

所述圖像采集設備旋轉并對所述立柱進行拍攝，以獲取靶標結構件圖像，并根據所述靶標結構件圖像定位所述測量點。

2.根據權利要求1所述的架體量測系統，其特征在于，所述靶標結構件包括：

靶標本體，其上涂覆有用于增強辨識度的底色層；

所述第一定位層包括全局幾何特征層，所述全局幾何特征層的中心與所述靶標本體的中心重合；

所述第二定位層包括局部幾何特征層，所述局部幾何特征層的中心與所述全局幾何特征層的中心重合，所述局部幾何特征層和所述全局幾何特征層的顏色相同且為淺色，以根據所述局部幾何特征層的中心定位測量點。

3.根據權利要求2所述的架體量測系統，其特征在于：

所述全局幾何特征層為圓環，所述局部幾何特征層為方格，所述方格的數量為兩個，且所述方格的任一角點重合且設置在所述圓環的圓心，以根據所述方格的重合角點確定測量點。

4.一種圖像定位方法，其特征在于，應用于權利要求1-3任一項所述的架體量測系統，所述方法包括：

接收圖像采集設備采集的靶標結構件圖像并對所述圖像進行預處理；

對預處理后的圖像進行目標檢測，以分割出靶標區域；

對所述靶標區域進行角點檢測，以確定靶標中心點；

根據所述靶標中心點定位測量點。

5.根據權利要求4所述的圖像定位方法，其特征在于，所述對預處理后的圖像進行目標檢測，以分割出靶標區域，包括：

利用橢圓擬合提取種子點；

對所述種子點進行區域生長，以獲取橢圓內部信息；

利用判別器對所述橢圓內部信息進行比對，以判定所述橢圓內部信息是否為靶標信息；

若是，則分割出靶標區域。

6.根據權利要求5所述的圖像定位方法，其特征在于，所述利用橢圓擬合提取種子點，包括：

對預處理后的圖像進行邊緣檢測，以提取方向相同的邊緣點；

將方向相同且距離滿足預定閾值的邊緣點連接并構成圓弧；

對所述圓弧進行篩選和提?。?/p>

對提取的圓弧進行橢圓參數擬合，并通過距離聚類來確定橢圓中心，以將所述橢圓中心作為種子點。

7.根據權利要求4所述的圖像定位方法，其特征在于，所述對所述靶標區域進行角點檢測，以確定靶標中心點，包括：

對所述靶標區域進行區域生長以獲取靶標內部信息；

根據所述靶標內部信息進行角點檢測，以獲取靶標結構件內兩個方格的交點，所述交點為靶標中心點。

8.根據權利要求4所述的圖像定位方法，其特征在于，所述對所述靶標區域進行角點檢測，以確定靶標中心點，包括：

遍歷所述角點，并以角點為中心做圓；

對所述圓進行采樣，獲取采樣點；

計算所述采樣點的灰度直方圖并利用所述灰度直方圖計算與標準灰度直方圖的相關系數，所述標準灰度直方圖為標準靶標模板圖像的中心點的灰度直方圖；

根據相關系數確定靶標中心點的像素坐標。

9.一種電子設備，其特征在于，所述電子設備包括存儲器以及處理器，所述存儲器用于存儲計算機程序，所述處理器運行所述計算機程序以使計算機設備執行根據權利要求4至8中任一項所述的圖像定位方法。

10.一種可讀存儲介質，其特征在于，所述可讀存儲介質中存儲有計算機程序指令，所述計算機程序指令被一處理器讀取并運行時，執行權利要求4至8任一項所述的圖像定位方法。