[發明專利]共振波頻率確定方法及裝置有效
| 申請號: | 202010622344.1 | 申請日: | 2020-06-30 |
| 公開(公告)號: | CN111947769B | 公開(公告)日: | 2023-03-28 |
| 發明(設計)人: | 張益成;魏文斌;馮美名;甘文軍;謝航 | 申請(專利權)人: | 核動力運行研究所 |
| 主分類號: | G01H13/00 | 分類號: | G01H13/00 |
| 代理公司: | 核工業專利中心 11007 | 代理人: | 王朋 |
| 地址: | 430223 湖北省武漢*** | 國省代碼: | 湖北;42 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 共振 頻率 確定 方法 裝置 | ||
1.一種共振波頻率確定裝置,其特征在于,所述裝置包括:
獲取模塊,用于獲取待測共振波的采樣數據集合,所述采樣數據集合包括多個采樣數據,各相鄰采樣數據的采集間隔時長相同;
獲取模塊包括:采用預設頻率的超聲波對被檢工件進行壁厚測量,采集并存儲包含共振波的射頻信號的采樣數據形成采樣數據集合;
第一確定模塊,用于根據檢測被檢工件的超聲波的頻率、所述超聲波的標準傳播速度以及預估的被檢工件的厚度,確定待測共振波的預估波長值;
第一確定模塊包括:根據N=T*F/V確定待測共振波的預設波長值N,T為預估的被檢工件的厚度,F為檢測被檢工件的超聲波的頻率,V為檢測被檢工件的超聲波在相同工況下的標準傳播速度;
第二確定模塊,用于根據所述預估波長值,確定逼近離散函數;
卷積模塊,用于采用所述逼近離散函數作為窗口函數,對所述采樣數據集合進行卷積處理,得到目標離散函數;
第三確定模塊,用于根據所述目標離散函數,確定拐點數據集合,所述拐點數據集合包括所述目標離散函數各拐點的橫坐標;
第四確定模塊,用于根據所述拐點數據集合以及線性回歸模型,確定待測共振波的頻率。
2.根據權利要求1所述的裝置,其特征在于,所述第二確定模塊包括:
第一確定子模塊,用于將式(1)確定為逼近離散函數:
其中,A(n)為逼近離散函數,N為預估波長值,θ為任意角度的相位角,n∈(0,N-1)的正整數。
3.根據權利要求1所述的裝置,其特征在于,所述第三確定模塊包括:
獲取子模塊,用于獲取目標離散函數的各橫坐標Xi對應的縱坐標Yi,Xi為正整數,i為正整數;
判斷子模塊,用于判斷Yi*Yi+1與0的大小關系;
確定子模塊,用于在Yi*Yi+1≤0的情況下,根據Yi、Yi+1,采用插值法確定目標離散函數的拐點對應的橫坐標。
4.根據權利要求1所述的裝置,其特征在于,所述裝置還包括:
第一驗證模塊,用于在確定的待測共振波的頻率的倒數與所述預估波長值之差小于或等于預設閾值的情況下,將確定的待測共振波的頻率作為最終的計算結果;
第二驗證模塊,用于在確定的待測共振波的頻率的倒數與所述預估波長值之差大于預設閾值的情況下,將確定的待測共振波的頻率的倒數作為預估波長值,重復所述第二確定模塊、卷積模塊、第三確定模塊、第四確定模塊的操作,直至所述預估波長值之差小于或等于預設閾值。
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