[發(fā)明專利]功率器件測(cè)試探針卡用彈簧式泄壓結(jié)構(gòu)及其安裝標(biāo)定方法有效
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202010621064.9 | 申請(qǐng)日: | 2020-07-01 |
| 公開(公告)號(hào): | CN111720599B | 公開(公告)日: | 2021-01-19 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 趙梁玉;王艾琳;王興剛;周明 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 強(qiáng)一半導(dǎo)體(蘇州)有限公司 |
| 主分類號(hào): | F16K17/06 | 分類號(hào): | F16K17/06;G01R1/067;G01R31/26 |
| 代理公司: | 暫無信息 | 代理人: | 暫無信息 |
| 地址: | 215000 江蘇省蘇州*** | 國(guó)省代碼: | 江蘇;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 功率 器件 測(cè)試 探針 彈簧 式泄壓 結(jié)構(gòu) 及其 安裝 標(biāo)定 方法 | ||
本發(fā)明一種功率器件測(cè)試探針卡用彈簧式泄壓結(jié)構(gòu)及其安裝標(biāo)定方法屬于半導(dǎo)體器件測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域;泄壓孔底部還設(shè)置有調(diào)節(jié)閥,包括三層階梯,下層階梯的截面直徑大于泄壓孔截面直徑,中層階梯的截面直徑與泄壓孔截面直徑為間隙配合關(guān)系,上層階梯套有螺紋;泄壓孔內(nèi)壁攻有螺紋,并旋擰有調(diào)整件,調(diào)整件包括接觸端,連接端和螺紋端,接觸端為環(huán)形,外壁套有螺紋,旋擰在泄壓孔的內(nèi)壁,連接端為多個(gè),每個(gè)連接端均連接在接觸端內(nèi)壁與螺紋端之間,螺紋端外壁套有螺紋,彈簧分別連接在上層階梯外壁與螺紋端外壁之間;本發(fā)明應(yīng)用于功率器件高溫高壓測(cè)試探針卡,能夠同時(shí)抑制高電壓環(huán)境下探針之間非正常放電和高溫度環(huán)境下探針卡翹曲變形和探針位置漂移。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明一種功率器件測(cè)試探針卡用彈簧式泄壓結(jié)構(gòu)及其安裝標(biāo)定方法屬于半導(dǎo)體器件測(cè)試技術(shù)領(lǐng)域。
背景技術(shù)
隨著MEMS技術(shù)和半導(dǎo)體技術(shù)的不斷發(fā)展,小型化高功率器件的產(chǎn)量逐年攀升。很多器件要在高電壓和高溫度環(huán)境下進(jìn)行工作。確保這些器件能夠在如此惡劣環(huán)境下正常工作,需要用探針卡對(duì)其性能進(jìn)行測(cè)試。
功率器件測(cè)試的一項(xiàng)重要指標(biāo)是擊穿電壓,該電壓可以高達(dá)幾千伏,在如此高電壓下進(jìn)行測(cè)試,探針卡的探針之間就可能產(chǎn)生非正常放電現(xiàn)象,瞬間就可以損壞測(cè)試設(shè)備以及被測(cè)晶圓。
功率器件測(cè)試的另一項(xiàng)重要指標(biāo)是工作溫度,一般來講,測(cè)試芯片要求在-40攝氏度到125攝氏度之間均能夠正常工作,而汽車領(lǐng)域中的部分芯片,要求其能夠在180攝氏度以上的環(huán)境下正常工作,那么我們就需要對(duì)其在180攝氏度以上的工作情況進(jìn)行測(cè)試。由于探針卡各部件之間存在熱膨脹系數(shù)差異,從室溫到180攝氏度以上的溫度變化會(huì)造成探針卡的翹曲變形和探針的位置漂移,這不僅降低了測(cè)試效果和效率,嚴(yán)重時(shí)甚至造成測(cè)試失敗、探針卡損傷等問題。
可見,如何抑制高電壓環(huán)境下探針之間非正常放電現(xiàn)象,以及如何抑制高溫度環(huán)境下探針卡翹曲變形和探針位置漂移,是現(xiàn)階段功率器件測(cè)試探針卡技術(shù)亟待解決的關(guān)鍵技術(shù)問題,然而,目前還沒有發(fā)現(xiàn)能夠同時(shí)突破這兩個(gè)技術(shù)難題的探針卡。
發(fā)明內(nèi)容
針對(duì)上述問題,本發(fā)明公開了一種功率器件測(cè)試探針卡用彈簧式泄壓結(jié)構(gòu)及其安裝標(biāo)定方法,該項(xiàng)技術(shù)應(yīng)用于功率器件高溫高壓測(cè)試探針卡,不僅能夠抑制高電壓環(huán)境下探針之間非正常放電現(xiàn)象,而且能夠抑制高溫度環(huán)境下探針卡翹曲變形和探針位置漂移。
本發(fā)明的目的是這樣實(shí)現(xiàn)的:
功率器件測(cè)試探針卡用彈簧式泄壓結(jié)構(gòu),在進(jìn)氣系統(tǒng)上設(shè)置有泄壓孔,所述泄壓孔底部還設(shè)置有調(diào)節(jié)閥;所述調(diào)節(jié)閥為三層階梯結(jié)構(gòu),包括截面直徑依次減小的下層階梯、中層階梯和上層階梯,所述下層階梯和中層階梯之間設(shè)置有密封圈,下層階梯的截面直徑大于泄壓孔截面直徑,中層階梯的截面直徑與泄壓孔截面直徑之間為間隙配合關(guān)系,上層階梯套有螺紋;所述泄壓孔內(nèi)壁攻有螺紋,并旋擰有調(diào)整件,所述調(diào)整件包括接觸端,連接端和螺紋端,所述接觸端為環(huán)形,外壁套有螺紋,旋擰在泄壓孔的內(nèi)壁,所述連接端為多個(gè),在圓周方向均勻分布,每個(gè)連接端均連接在接觸端內(nèi)壁與螺紋端之間,所述螺紋端外壁套有螺紋,且與上層階梯的螺紋參數(shù)相同,螺紋端底部設(shè)置有一字或十字凹槽,彈簧分別連接在上層階梯外壁與螺紋端外壁之間。
功率器件測(cè)試探針卡用彈簧式泄壓結(jié)構(gòu)的安裝方法,包括以下步驟:
步驟a、將調(diào)整件的接觸端旋擰入泄壓孔中;
步驟b、將彈簧的上端旋擰在調(diào)整件的螺紋端,將彈簧的下端旋擰在調(diào)節(jié)閥的上層階梯。
功率器件測(cè)試探針卡用彈簧式泄壓結(jié)構(gòu)的標(biāo)定方法,包括以下步驟:
步驟a、設(shè)定高溫高壓氣體壓強(qiáng)閾值;
步驟b、將調(diào)整件的接觸端旋擰入泄壓孔中;
步驟c、將彈簧的上端旋擰在調(diào)整件的螺紋端,將彈簧的下端旋擰在調(diào)節(jié)閥的上層階梯,將調(diào)節(jié)閥的下端連接拉力測(cè)量裝置;
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