[發明專利]存儲器單粒子效應的動態測試結果的數據處理方法及裝置

有效

• 申請號: 202010619291.8
• 申請日: 2020-06-30
• 公開（公告）號: CN111798917B
• 公開（公告）日: 2021-07-30
• 發明（設計）人: 郭紅霞;琚安安;張鳳祁;周益春;歐陽曉平;張鴻
• 申請（專利權）人: 湘潭大學
• 主分類號: G11C29/56
• 分類號: G11C29/56
• 代理公司: 北京中政聯科專利代理事務所(普通合伙) 11489
• 代理人: 鄭久興

本申請公開了一種存儲器單粒子效應的動態測試結果的數據處理方法，包括：獲取所述存儲器單粒子效應的動態測試結果；將所述動態測試結果中的錯誤數據按所述存儲器的讀周期逐行保存為二維數組，一個讀周期對應于所述二維數組中的一行；對所述二維數組中的元素從最后一行開始按行遍歷排查，刪除每一行中相對上一行中重復出現的元素，得到第一數組。通常本申請所述的數據處理方法，可以對存儲器單粒子效應動態測試結果中大量重復出現的錯誤數據進行刪減,從而有效縮減測試結果的數據量，以方便對結果數據的后續處理和傳輸。

技術領域

本申請涉及電子器件單粒子效應測試技術領域，尤其涉及一種存儲器單粒子效應的動態測試結果的數據處理方法及裝置。

背景技術

電子元器件應用到航天航空器之前都要對其進行抗輻射性能評估與研究。據統計航天器中約70％的電子元器件損壞是由單粒子效應導致，單粒子效應(Single EventEffect,動態)造成的危害在輻射效應中占比最大。單粒子效應是指在空間輻射環境中，單個高能粒子如重離子、質子、中子或α粒子入射到器件中，與內部的材料產生相互作用并在靈敏區域內沉積能量，使器件發生短暫或永久性的功能損壞和邏輯變化。

在電子元器件中，存儲器的使用最為廣泛和基礎。航天器的集成電路和系統中，需要各種存儲器來存儲指令和數據，可以說有數據傳輸的地方就有存儲器的存在。因此對存儲器開展抗輻照性能測試，特別是單粒子效應測試，有著巨大的科研意義和經濟價值。

存儲器的單粒子效應測試方法一般分為靜態測試和動態測試。

靜態測試是指先向存儲器中寫入數據，然后讓器件在輻照源下輻照一段時間，輻照結束后通常只需要獲取一次讀出數據并與輻照前的寫入數據進行比較。將發生變化的數據稱為“錯誤數據”，統計發生錯誤的地址與個數。

動態測試是指首先向存儲器中寫入數據，然后在輻照的過程中連續從存儲器中多次讀出數據并做比較，測試系統連續將每次讀出的錯誤數據記錄下來直到輻照結束。

由此可見，動態測試產生的數據量要比靜態測試多。而且在實際測試過程中，為了得到單個粒子的測試效果，要求存儲器的讀出速度盡可能快、讀數據間隔盡可能短，從而更使得動態測試得到的數據量會相比靜態測試產生的數據發生暴漲。

發明內容

(一)發明目的

本申請要解決的技術問題是提供一種存儲器單粒子效應動態測試結果的數據處理方法，用以克服動態測試過程中數據暴漲導致的數據量過大的問題。

(二)技術方案

第一方面，本申請實施例提供的存儲器單粒子效應的動態測試結果的數據處理方法，包括：

獲取所述存儲器單粒子效應的動態測試結果；

將所述動態測試結果中的錯誤數據按所述存儲器的讀周期逐行保存為二維數組，一個讀周期對應于所述二維數組中的一行；

對所述二維數組中的元素從最后一行開始按行遍歷排查，刪除每一行中相對上一行中重復出現的元素，得到第一數組。

第二方面，本申請實施例提供的存儲器單粒子效應的動態測試結果的數據處理裝置，包括：

測試結果獲取模塊，用于獲取所述存儲器單粒子效應的動態測試結果；

錯誤數據保存模塊，用于將所述動態測試結果中的錯誤數據按所述存儲器的讀周期逐行保存為二維數組，一個讀周期對應于所述二維數組中的一行；

數組排查刪除模塊，用于對所述二維數組中的元素從最后一行開始按行遍歷排查，刪除每一行中相對上一行中重復出現的元素。

第三方面，本申請實施例提供的一種電子設備，包括存儲器和處理器；所述存儲器，用于存儲計算機程序；所述處理器，用于當執行所述計算機程序時，實現上述第一方面所述的數據處理方法。