[發(fā)明專利]存儲器單粒子效應的動態(tài)測試結(jié)果的數(shù)據(jù)處理方法及裝置

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 202010619291.8
• 申請日: 2020-06-30
• 公開（公告）號: CN111798917B
• 公開（公告）日: 2021-07-30
• 發(fā)明（設計）人: 郭紅霞;琚安安;張鳳祁;周益春;歐陽曉平;張鴻
• 申請（專利權(quán)）人: 湘潭大學
• 主分類號: G11C29/56
• 分類號: G11C29/56
• 代理公司: 北京中政聯(lián)科專利代理事務所(普通合伙) 11489
• 代理人: 鄭久興

1.存儲器單粒子效應的動態(tài)測試結(jié)果的數(shù)據(jù)處理方法，其特征在于，包括：

獲取所述存儲器單粒子效應的動態(tài)測試結(jié)果；

將所述動態(tài)測試結(jié)果中的錯誤數(shù)據(jù)按所述存儲器的讀周期逐行保存為二維數(shù)組，一個讀周期對應于所述二維數(shù)組中的一行；

對所述二維數(shù)組中的元素從最后一行開始按行遍歷排查，刪除每一行中相對上一行中重復出現(xiàn)的元素，得到第一數(shù)組。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的數(shù)據(jù)處理方法，其特征在于，所述將所述動態(tài)測試結(jié)果中的錯誤數(shù)據(jù)按所述存儲器的讀周期逐行保存為二維數(shù)組，包括：

獲取所述動態(tài)測試結(jié)果中所述存儲器的讀周期數(shù)M；

獲取所述存儲器的每個讀周期的錯誤數(shù)據(jù)的個數(shù)N_i，i＝1、2、3…M；

將M個N_i中的最大數(shù)賦值給N；

建立M行N列的二維數(shù)組；

將所述動態(tài)測試結(jié)果中的錯誤數(shù)據(jù)按所述存儲器的讀周期逐行保存到所述M行N列的二維數(shù)組。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的數(shù)據(jù)處理方法，其特征在于，所述獲取 所述動態(tài)測試結(jié)果中所述存儲器的讀周期數(shù)M，包括：

定義m＝0；

對所述動態(tài)測試結(jié)果從頭遍歷排查，當讀取到所述存儲器的讀周期的結(jié)束標志時，m值自動加1；

對所述動態(tài)測試結(jié)果遍歷排查結(jié)束后，將最后的m值賦值給所述讀周期數(shù)M。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的數(shù)據(jù)處理方法，其特征在于，所述對所述動態(tài)測試結(jié)果從頭遍歷排查，當讀取到所述存儲器的讀周期的結(jié)束標志時，m值自動加1，包括：

利用readline()函數(shù)從頭逐行識讀所述動態(tài)測試結(jié)果；

當所述readline()函數(shù)識讀出所述結(jié)束標志時，所述m值自動加1。

5.根據(jù)權(quán)利要求2所述的數(shù)據(jù)處理方法，其特征在于，所述將所述動態(tài)測試結(jié)果中的錯誤數(shù)據(jù)按所述存儲器的讀周期逐行保存到所述M行N列的二維數(shù)組，包括：

定義i＝1；

對所述動態(tài)測試結(jié)果中的錯誤數(shù)據(jù)按所述存儲器的讀周期逐周期提取，將提取出的第i讀周期的全部所述錯誤數(shù)據(jù)，按位逐一保存到所述M行N列的二維數(shù)組的第i行，i值自動加1，

重復上述提取和保存的過程，直到i＝M。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的數(shù)據(jù)處理方法，其特征在于，所述對所述動態(tài)測試結(jié)果中的錯誤數(shù)據(jù)按所述存儲器的讀周期逐周期掃描提取，將提取出的第i讀周期的全部所述錯誤數(shù)據(jù)，按位逐一保存到所述M行N列的二維數(shù)組的第i行，包括：

利用find()函數(shù)提取第i讀周期中的全部所述錯誤數(shù)據(jù)，并確定第i讀周期中全部所述錯誤數(shù)據(jù)的個數(shù)N_i；

將N_i個所述錯誤數(shù)據(jù)按位逐一保存到所述M行N列的二維數(shù)組的第i行。

7.根據(jù)權(quán)利要求1所述的數(shù)據(jù)處理方法，其特征在于，還包括：

對所述二維數(shù)組中的元素從第一行開始向下按行遍歷排查，刪除每一行中相對下一行中相同的元素，得到第二數(shù)組；

將所述第二數(shù)組中的全部所述錯誤數(shù)據(jù)逐一與所述第一數(shù)組的全部所述錯誤數(shù)據(jù)進行對比；

對所述第一數(shù)組中與所述第二數(shù)組中相同的所述錯誤數(shù)據(jù)進行標記。

8.存儲器單粒子效應的動態(tài)測試結(jié)果的數(shù)據(jù)處理裝置，其特征在于，包括：

測試結(jié)果獲取模塊，用于獲取所述存儲器單粒子效應的動態(tài)測試結(jié)果；

錯誤數(shù)據(jù)保存模塊，用于將所述動態(tài)測試結(jié)果中的錯誤數(shù)據(jù)按所述存儲器的讀周期逐行保存為二維數(shù)組，一個讀周期對應于所述二維數(shù)組中的一行；

數(shù)組排查刪除模塊，用于對所述二維數(shù)組中的元素從最后一行開始按行遍歷排查，刪除每一行中相對上一行中重復出現(xiàn)的元素。

9.一種電子設備，其特征在于，包括存儲器和處理器；所述存儲器，用于存儲計算機程序；所述處理器，用于當執(zhí)行所述計算機程序時，實現(xiàn)如權(quán)利要求1-8任一項所述的數(shù)據(jù)處理方法。

10.計算機可讀存儲介質(zhì)，其特征在于，所述存儲介質(zhì)上存儲有計算機程序，當所述計算機程序被處理器執(zhí)行時，實現(xiàn)如權(quán)利要求1-8任一項所述的數(shù)據(jù)處理方法。