[發明專利]螺釘浮高檢測方法、裝置、電子裝置及存儲介質

有效

• 申請號: 202010612499.7
• 申請日: 2020-06-30
• 公開（公告）號: CN111780675B
• 公開（公告）日: 2022-05-13
• 發明（設計）人: 徐念
• 申請（專利權）人: OPPO（重慶）智能科技有限公司
• 主分類號: G01B11/06
• 分類號: G01B11/06;G01B11/14
• 代理公司: 華進聯合專利商標代理有限公司 44224
• 代理人: 米晶晶

1.一種螺釘浮高檢測方法，其特征在于，所述方法包括：

獲取AOI掃描得到的待測產品的預覽圖；

根據所述預覽圖確定螺釘孔位置、螺釘位置以及螺釘凹槽位置；

確定螺釘孔外部以及螺釘凹槽處為AOI檢測的凈空區，所述凈空區為螺釘孔外部以及螺釘凹槽處；

控制AOI沿第一方向進行掃描檢測，得到第一特征圖，所述第一特征圖不含所述凈空區的成像；

根據所述第一特征圖，確定螺釘浮高的檢測結果。

2.根據權利要求1所述的螺釘浮高檢測方法，其特征在于，所述根據所述第一特征圖，確定螺釘浮高的檢測結果，包括：

根據所述第一特征圖，確定所述第一特征圖的第一下降沿、第一上升沿、第二下降沿以及第二上升沿；

根據所述第一上升沿以及所述第二下降沿確定螺釘浮高的檢測結果。

3.根據權利要求2所述的螺釘浮高檢測方法，其特征在于，所述根據所述第一上升沿以及所述第二下降沿確定螺釘浮高的檢測結果，包括：

確定所述第一上升沿的起點以及所述第二下降沿的起點；

計算所述第一上升沿的起點與所述第二下降沿的起點之間的高度差；

若所述高度差處于預設范圍內，則確定所述螺釘浮高檢測合格，若所述高度差不處于預設范圍內，則確定所述螺釘浮高檢測結果為不合格。

4.根據權利要求3所述的螺釘浮高檢測方法，其特征在于，所述方法還包括：

獲取所述待測產品的產品編號；

將所述產品編號與所述檢測結果關聯存儲于存儲器中。

5.根據權利要求1所述的螺釘浮高檢測方法，其特征在于，所述確定AOI檢測的凈空區之前，還包括：

對AOI進行校準，并將校準記錄存儲于存儲器中。

6.根據權利要求1所述的螺釘浮高檢測方法，其特征在于，所述根據所述第一特征圖，確定螺釘浮高的檢測結果之前，還包括：

控制AOI沿第二方向進行掃描檢測，得到第二特征圖，所述第二方向與所述第一方向垂直，所述第二特征圖不含所述凈空區的成像；

則所述根據所述第一特征圖，確定螺釘浮高的檢測結果，包括：

根據所述第一特征圖以及所述第二特征圖，確定螺釘浮高的檢測結果。

7.一種螺釘浮高檢測裝置，其特征在于，所述裝置包括：

第一確定模塊，用于獲取AOI掃描得到的待測產品的預覽圖；根據所述預覽圖確定螺釘孔位置、螺釘位置以及螺釘凹槽位置；確定螺釘孔外部以及螺釘凹槽處為AOI檢測的凈空區，所述凈空區為螺釘孔外部以及螺釘凹槽處；

AOI控制模塊，用于控制AOI沿第一方向進行掃描檢測，得到第一特征圖，所述第一特征圖不含所述凈空區的成像；

第二確定模塊，用于根據所述第一特征圖，確定螺釘浮高的檢測結果。

8.一種電子裝置，包括存儲器、處理器以及存儲在所述存儲器上可以被所述處理器執行的計算機程序，其特征在于，所述處理器執行所述計算機程序時，實現權利要求1～6中任意一項所述方法中的步驟。

9.一種存儲介質，其上存儲有計算機程序，其特征在于，所述計算機程序被處理器執行時，實現權利要求1～6中任意一項所述方法中的步驟。