[發明專利]螺釘浮高檢測方法、裝置、電子裝置及存儲介質

有效

• 申請號: 202010612499.7
• 申請日: 2020-06-30
• 公開（公告）號: CN111780675B
• 公開（公告）日: 2022-05-13
• 發明（設計）人: 徐念
• 申請（專利權）人: OPPO（重慶）智能科技有限公司
• 主分類號: G01B11/06
• 分類號: G01B11/06;G01B11/14
• 代理公司: 華進聯合專利商標代理有限公司 44224
• 代理人: 米晶晶

本申請涉及一種螺釘浮高檢測方法，方法包括：確定AOI檢測的凈空區，凈空區為螺釘孔外部以及螺釘凹槽處；控制AOI沿第一方向進行掃描檢測，得到第一特征圖，第一特征圖不含所述凈空區的成像；根據第一特征圖，確定螺釘浮高的檢測結果。該方法引入凈空區，對可能對檢測產生干擾的因素進行排除，避免了螺釘凹槽對螺釘浮高檢測結果的影響，從而提高了螺釘檢測的準確率，降低了螺釘檢測的誤測率。

技術領域

本發明屬于電子制造領域，尤其涉及一種螺釘浮高檢測方法、裝置、電子裝置及存儲介質。

背景技術

電子產品在裝配制造過程中，難以避免需要使用到螺釘對電子產品的不同組件之間進行組合及固定，螺釘安裝是否到位對電子產品的裝配質量會有較大影響。螺釘浮高，即螺釘安裝不到位，會導致電子產品的結構不穩定、密封性能差等品質異常。因此在工業制造過程中，在螺釘安裝之后一般都會對螺釘的安裝質量進行檢測。

由于螺釘的尺寸不一，而且螺釘一般安裝完都處于螺釘孔中，人眼難以辨別螺釘是否存在浮高不良，目前采用自動光學檢測(Automatic Optical Inspector， AOI)對螺釘安裝情況進行檢測，但目前使用AOI檢測螺釘浮高的誤測率較高。

發明內容

本申請提供一種螺釘浮高檢測方法、裝置、電子裝置及存儲介質，用于解決目前螺釘浮高檢測誤測率高技術問題。

本申請第一方面提供一種螺釘浮高檢測方法，方法包括：

確定AOI檢測的凈空區，所述凈空區為螺釘孔外部以及螺釘凹槽處；

控制AOI沿第一方向進行掃描檢測，得到第一特征圖，所述第一特征圖不含所述凈空區的成像；

根據所述第一特征圖，確定螺釘浮高的檢測結果。

本申請第二方面提供一種螺釘浮高檢測裝置，裝置包括：

第一確定模塊，確定AOI檢測的凈空區，所述凈空區為螺釘孔外部以及螺釘凹槽處；

AOI控制模塊，用于控制AOI沿第一方向進行掃描檢測，得到第一特征圖，所述第一特征圖不含所述凈空區的成像；

第二確定模塊，用于根據所述第一特征圖，確定螺釘浮高的檢測結果。

本申請第三方面提供一種電子裝置，包括存儲器、處理器以及存儲在所述存儲器上可以被所述處理器執行的計算機程序，所述處理器執行所述計算機程序時，實現第一方面提供的螺釘檢測方法中的步驟。

本申請第四方面提供一種存儲介質，其上存儲有計算機程序，所述計算機程序被處理器執行時，實現第一方面提供的螺釘檢測方法中的步驟。

從上述本申請實施例可知，本申請提供的螺釘檢測方法，方法包括：確定 AOI檢測的凈空區，凈空區為螺釘孔外部以及螺釘凹槽處；控制AOI沿第一方向進行掃描檢測，得到第一特征圖，第一特征圖不含所述凈空區的成像；根據第一特征圖，確定螺釘浮高的檢測結果。該方法引入凈空區，對可能對檢測產生干擾的因素進行排除，避免了螺釘凹槽對螺釘浮高檢測結果的影響，從而提高了螺釘檢測的準確率，降低了螺釘檢測的誤測率。

附圖說明

為了更清楚地說明本發明實施例或現有技術中的技術方案，下面將對實施例或現有技術描述中所需要使用的附圖作簡單地介紹，顯而易見地，下面描述中的附圖僅僅是本發明的一些實施例，對于本領域技術人員來講，在不付出創造性勞動性的前提下，還可以根據這些附圖獲得其他的附圖。

圖1為一種電子設備的結構框圖；

圖2為螺釘安裝示意圖；

圖3為本申請實施例提供的螺釘浮高檢測方法的流程示意圖；

圖4本申請中AOI掃描凈空區的示意圖；