[發(fā)明專利]帶檢查系統(tǒng)、帶檢查方法和帶檢查程序的存儲(chǔ)介質(zhì)

在審

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202010595849.3
• 申請(qǐng)日: 2020-06-28
• 公開（公告）號(hào): CN112150375A
• 公開（公告）日: 2020-12-29
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 西澤輝
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 京瓷辦公信息系統(tǒng)株式會(huì)社
• 主分類號(hào): G06T5/00
• 分類號(hào): G06T5/00;G06T7/00;G01N21/88
• 代理公司: 北京信慧永光知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 11290
• 代理人: 鹿屹;李雪春

1.一種帶檢查系統(tǒng)，根據(jù)拍攝圖像形成裝置的中間轉(zhuǎn)印帶得到的第一帶圖像，檢測(cè)作為所述中間轉(zhuǎn)印帶的異常部位的帶缺陷，其特征在于，

包括缺陷候補(bǔ)檢測(cè)部，所述缺陷候補(bǔ)檢測(cè)部進(jìn)行所述第一帶圖像的預(yù)處理，并且從進(jìn)行了所述預(yù)處理的第二帶圖像檢測(cè)所述帶缺陷的候補(bǔ)，

所述預(yù)處理包括去除所述中間轉(zhuǎn)印帶的至少由拍攝引起的噪聲的噪聲去除處理，所述噪聲去除處理包括針對(duì)由所述拍攝引起的噪聲，根據(jù)所述帶缺陷的標(biāo)準(zhǔn)尺寸從所述第一帶圖像去除預(yù)定尺寸的噪聲的處理。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的帶檢查系統(tǒng)，其特征在于，所述預(yù)定尺寸是比所述帶缺陷的所述標(biāo)準(zhǔn)尺寸小的第一尺寸和比所述帶缺陷的所述標(biāo)準(zhǔn)尺寸大的第二尺寸，所述噪聲去除處理去除所述第一尺寸以下的噪聲和所述第二尺寸以上的噪聲。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的帶檢查系統(tǒng)，其特征在于，所述噪聲去除處理還包括去除由所述中間轉(zhuǎn)印帶的生成工序引起的沿著所述中間轉(zhuǎn)印帶的寬度方向延伸的噪聲的處理。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的帶檢查系統(tǒng)，其特征在于，所述噪聲去除處理從所述第一帶圖像得到與以正視狀態(tài)拍攝所述中間轉(zhuǎn)印帶得到的帶圖像等同的帶圖像，并從所述等同的圖像去除沿著所述中間轉(zhuǎn)印帶的所述寬度方向延伸的帶狀或者條狀的噪聲。

5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的帶檢查系統(tǒng)，其特征在于，所述噪聲去除處理為了得到所述等同的圖像，以作為暫定的修正角度的暫定修正角度，使所述第一帶圖像暫時(shí)地剪切變形，根據(jù)暫時(shí)剪切變形的所述第一帶圖像的每行的明度值，從多個(gè)所述暫定修正角度確定所述中間轉(zhuǎn)印帶的部分的傾斜角度，并且根據(jù)所述確定的傾斜角度，進(jìn)行所述第一帶圖像的剪切變形。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的帶檢查系統(tǒng)，其特征在于，還包括是否合格判定部，所述是否合格判定部針對(duì)由所述缺陷候補(bǔ)檢測(cè)部檢測(cè)出的所述候補(bǔ)，利用學(xué)習(xí)模型來判定所述中間轉(zhuǎn)印帶的品質(zhì)是否合格。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的帶檢查系統(tǒng)，其特征在于，還包括學(xué)習(xí)模型生成部，所述學(xué)習(xí)模型生成部使用由所述缺陷候補(bǔ)檢測(cè)部檢測(cè)出的所述候補(bǔ)，來生成所述學(xué)習(xí)模型。

8.一種帶檢查方法，根據(jù)拍攝圖像形成裝置的中間轉(zhuǎn)印帶得到的第一帶圖像，檢測(cè)作為所述中間轉(zhuǎn)印帶的異常部位的帶缺陷，其特征在于，包括：

進(jìn)行所述第一帶圖像的預(yù)處理；以及

從進(jìn)行了所述預(yù)處理的第二帶圖像檢測(cè)所述帶缺陷的候補(bǔ)，

所述預(yù)處理包括去除所述中間轉(zhuǎn)印帶的至少由拍攝引起的噪聲的噪聲去除處理，所述噪聲去除處理針對(duì)由所述拍攝引起的噪聲，根據(jù)所述帶缺陷的標(biāo)準(zhǔn)尺寸從所述第一帶圖像去除預(yù)定尺寸的噪聲。

9.一種計(jì)算機(jī)可讀取的存儲(chǔ)介質(zhì)，其特征在于，存儲(chǔ)有使計(jì)算機(jī)執(zhí)行權(quán)利要求8所述的帶檢查方法的帶檢查程序。