[發(fā)明專利]觸控光膜的檢測方法和檢測裝置

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 202010595212.4
• 申請日: 2020-06-24
• 公開（公告）號: CN111796715A
• 公開（公告）日: 2020-10-20
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 宋林東
• 申請（專利權(quán)）人: 歌爾光學(xué)科技有限公司
• 主分類號: G06F3/041
• 分類號: G06F3/041;G06F3/042
• 代理公司: 深圳市世紀(jì)恒程知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所 44287
• 代理人: 王韜

本發(fā)明公開了一種觸控光膜的檢測方法和檢測裝置，所述檢測方法包括：獲取投影光幕投影面的參考圖像，依據(jù)所述參考圖像獲取參考線的參考坐標(biāo)；其中，所述投影面設(shè)置有參考線；獲取觸控光膜在所述投影光幕投影面的投影圖像，依據(jù)所述投影圖像獲取所述觸控光膜的投影坐標(biāo)；將所述參考線的實際尺寸和所述參考坐標(biāo)與所述投影坐標(biāo)相結(jié)合確定所述觸控光膜的投影參數(shù)。本發(fā)明的技術(shù)方案能夠有效檢測出觸控光膜的投影參數(shù)。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及光檢測技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種觸控光膜的檢測方法和檢測裝置。

背景技術(shù)

投影光膜作為一種新的觸控輸入方式，由于設(shè)置靈活而應(yīng)用領(lǐng)域逐漸拓展。通常投影出的觸控光膜具有一定的有效觸控區(qū)域范圍，需要對觸控光膜在有效觸控區(qū)域內(nèi)的參數(shù)進(jìn)行檢測，確保投影出的觸控光膜合格。但是目前并無有效檢測觸控光膜的方案。

上述內(nèi)容僅用于輔助理解本申請的技術(shù)方案，并不代表承認(rèn)上述內(nèi)容是現(xiàn)有技術(shù)。

發(fā)明內(nèi)容

基于此，針對目前缺乏有效檢測觸控光膜參數(shù)的方案的問題，提供一種觸控光膜檢測方法和檢測裝置，旨有效檢測出觸控光膜的參數(shù)。

為實現(xiàn)上述目的，本發(fā)明提出的一種觸控光膜的檢測方法，獲取投影光幕投影面的參考圖像，依據(jù)所述參考圖像獲取參考線的參考坐標(biāo)；其中，所述投影面設(shè)置有參考線；

獲取觸控光膜在所述投影光幕投影面的投影圖像，依據(jù)所述投影圖像獲取所述觸控光膜的投影坐標(biāo)；

將所述參考線的實際尺寸和所述參考坐標(biāo)與所述投影坐標(biāo)相結(jié)合確定所述觸控光膜的投影參數(shù)。

可選地，所述獲取投影光幕投影面的參考圖像的步驟之前，包括：

獲取觸控光膜的有效觸控范圍，依據(jù)所述有效觸控范圍確定所述投影光幕距離光膜發(fā)生器的觸控近端和觸控遠(yuǎn)端；其中，所述光膜發(fā)生器用于發(fā)射觸控光膜；

所述獲取投影光幕投影面的參考圖像，依據(jù)所述參考圖像獲取參考線的參考坐標(biāo)的步驟，包括：

將所述投影光幕移動至所述觸控近端，獲取所述投影光幕投影面的第一參考圖像，依據(jù)所述第一參考圖像獲取參考線的第一參考坐標(biāo)；其中，所述參考圖像包括第一參考圖像，所述參考坐標(biāo)包括第一參考坐標(biāo)；

所述獲取觸控光膜在所述投影光幕投影面的投影圖像，依據(jù)所述投影圖像獲取所述觸控光膜的投影坐標(biāo)的步驟，包括：

獲取觸控光膜在所述投影光幕投影面的第一投影圖像，依據(jù)所述第一投影圖像獲取第一投影坐標(biāo)；其中，所述投影圖像包括第一投影圖像，所述投影坐標(biāo)包括第一投影坐標(biāo)。

可選地，所述參考線和所述投影面的反射率不同；

所述依據(jù)所述第一參考圖像獲取參考線的第一參考坐標(biāo)的步驟，包括：

獲取所述第一參考圖像的參考亮度，對所述第一參考圖像的參考亮度進(jìn)行二值化處理；

依據(jù)二值化處理后的明暗位置確定所述參考線的第一參考坐標(biāo)。

可選地，所述依據(jù)所述第一投影圖像獲取第一投影坐標(biāo)的步驟，包括：

獲取所述第一投影圖像的投影亮度，對所述第一投影圖像的投影亮度進(jìn)行二值化處理；

依據(jù)二值化處理后的明暗位置確定所述第一投影圖像的第一投影坐標(biāo)。