[發明專利]觸控光膜的檢測方法和檢測裝置

在審

• 申請號: 202010595212.4
• 申請日: 2020-06-24
• 公開（公告）號: CN111796715A
• 公開（公告）日: 2020-10-20
• 發明（設計）人: 宋林東
• 申請（專利權）人: 歌爾光學科技有限公司
• 主分類號: G06F3/041
• 分類號: G06F3/041;G06F3/042
• 代理公司: 深圳市世紀恒程知識產權代理事務所 44287
• 代理人: 王韜

1.一種觸控光膜的檢測方法，其特征在于，所述檢測方法包括：

獲取投影光幕投影面的參考圖像，依據所述參考圖像獲取參考線的參考坐標；其中，所述投影面設置有參考線；

獲取觸控光膜在所述投影光幕投影面的投影圖像，依據所述投影圖像獲取所述觸控光膜的投影坐標；

將所述參考線的實際尺寸和所述參考坐標與所述投影坐標相結合確定所述觸控光膜的投影參數。

2.如權利要求1所述的觸控光膜的檢測方法，其特征在于，所述獲取投影光幕投影面的參考圖像的步驟之前，包括：

獲取觸控光膜的有效觸控范圍，依據所述有效觸控范圍確定所述投影光幕距離光膜發生器的觸控近端和觸控遠端；其中，所述光膜發生器用于發射觸控光膜；

所述獲取投影光幕投影面的參考圖像，依據所述參考圖像獲取參考線的參考坐標的步驟，包括：

將所述投影光幕移動至所述觸控近端，獲取所述投影光幕投影面的第一參考圖像，依據所述第一參考圖像獲取參考線的第一參考坐標；其中，所述參考圖像包括第一參考圖像，所述參考坐標包括第一參考坐標；

所述獲取觸控光膜在所述投影光幕投影面的投影圖像，依據所述投影圖像獲取所述觸控光膜的投影坐標的步驟，包括：

獲取觸控光膜在所述投影光幕投影面的第一投影圖像，依據所述第一投影圖像獲取第一投影坐標；其中，所述投影圖像包括第一投影圖像，所述投影坐標包括第一投影坐標。

3.如權利要求2所述的觸控光膜的檢測方法，其特征在于，所述參考線和所述投影面的反射率不同；

所述依據所述第一參考圖像獲取參考線的第一參考坐標的步驟，包括：

獲取所述第一參考圖像的參考亮度，對所述第一參考圖像的參考亮度進行二值化處理；

依據二值化處理后的明暗位置確定所述參考線的第一參考坐標。

4.如權利要求3所述的觸控光膜的檢測方法，其特征在于，所述依據所述第一投影圖像獲取第一投影坐標的步驟，包括：

獲取所述第一投影圖像的投影亮度，對所述第一投影圖像的投影亮度進行二值化處理；

依據二值化處理后的明暗位置確定所述第一投影圖像的第一投影坐標。

5.如權利要求4所述的觸控光膜的檢測方法，其特征在于，所述參考線包括垂直于所述觸控光膜的縱向邊和平行于所述觸控光膜的橫向邊，所述縱向邊長度為A，所述橫向邊長度為B，所述第一參考坐標的縱向坐標包括縱向兩端的L₀和L₁，所述第一投影坐標的縱向坐標包括縱向兩端的L₀`和L<sub>1</sub>`，所述觸控光膜的縱向下方設置觸控基準面，所述投影參數包括所述第一投影圖像縱向方向的中心點距離所述觸控基準面的第一距離C₀，則

C₀＝[((L₁`+L<sub>0</sub>`)/2)－((L₁+L₀)/2)]×[A/(L₁－L₀)]。

6.如權利要求5所述的觸控光膜的檢測方法，其特征在于，所述獲取投影光幕投影面的參考圖像，依據所述參考圖像獲取參考線的參考坐標的步驟，包括：

將所述投影光幕移動至所述觸控遠端，獲取所述投影光幕投影面的第二參考圖像，依據所述第二參考圖像獲取參考線的第二參考坐標；其中，所述參考圖像還包括第二參考圖像，所述參考坐標還包括第二參考坐標；

所述獲取觸控光膜在所述投影光幕投影面的投影圖像，依據所述投影圖像獲取所述觸控光膜的投影坐標的步驟，包括：

獲取所述投影光幕投影面的第二投影圖像，依據所述第二投影圖像獲取所述觸控光膜的第二投影坐標；其中，所述投影圖像還包括第二投影圖像，所述投影坐標還包括第二投影坐標。