[發明專利]X射線成像裝置和X射線成像方法

在審

• 申請號: 202010590946.3
• 申請日: 2020-06-24
• 公開（公告）號: CN112304986A
• 公開（公告）日: 2021-02-02
• 發明（設計）人: 森本直樹;木村健士;白井太郎;土岐貴弘
• 申請（專利權）人: 株式會社島津制作所
• 主分類號: G01N23/041
• 分類號: G01N23/041;G01N23/083;G01N23/20025;G01N23/20
• 代理公司: 北京林達劉知識產權代理事務所(普通合伙) 11277
• 代理人: 劉新宇

本發明提供一種X射線成像裝置和X射線成像方法。該X射線成像裝置構成為：從體數據獲取多個切片圖像數據，通過進行第一處理來獲取多個第一處理圖像數據，通過進行第二處理來獲取多個第二處理圖像數據，基于獲取到的多個第二處理圖像數據來檢測被攝體的邊緣，獲取包括檢測到的被攝體的邊緣的邊緣圖像數據。

技術領域

本發明涉及一種X射線成像裝置和X射線成像方法。

背景技術

以往，已知一種具備X射線源和檢測器的X射線成像裝置。這種裝置例如在國際公開第2014/030115號中公開。

上述國際公開第2014/030115號公開了一種具備X射線源和X射線檢測器的微分相位對比度攝像用X射線攝像系統(X射線成像裝置)、。

在此，雖然并未在上述國際公開第2014/030115號中明確記載，但在如上述專利文獻1中記載的以往的X射線攝像系統中，有時通過重構處理來獲取三維的體數據。在該情況下，有時根據三維的體數據來檢測被攝體的邊緣。然而，作為被攝體的邊緣的檢測處理，在進行Canny法等標準的邊緣檢測處理的情況下，生成因被攝體的三維構造引起的假的邊緣，因此存在無法高精度地進行被攝體的邊緣解析這樣的問題。

發明內容

本發明是為了解決上述問題而完成的，本發明的一個目的在于提供一種能夠在根據三維的體數據來檢測被攝體的邊緣的情況下高精度地進行被攝體的邊緣解析的X射線成像裝置和X射線成像方法。

為了達成上述目的，本發明的第一方面的X射線成像裝置具備：X射線源；檢測器，其檢測從X射線源照射并通過了被攝體的X射線；以及圖像處理部，其基于由檢測器得到的X射線的檢測數據，通過重構處理來獲取三維的體數據，其中，圖像處理部構成為：從體數據獲取多個切片圖像數據，通過對獲取到的多個切片圖像數據中的各個切片圖像數據進行作為第一處理的微分處理，來獲取各自與多個切片圖像數據中的各個切片圖像數據對應的多個第一處理圖像數據，通過對獲取到的多個第一處理圖像數據進行包括加法處理的第二處理，來獲取多個第二處理圖像數據，基于獲取到的多個第二處理圖像數據來檢測被攝體的邊緣，獲取包括檢測到的被攝體的邊緣的邊緣圖像數據。

本發明的第二方面的X射線成像方法包括以下步驟：檢測通過了被攝體的X射線；基于X射線的檢測數據，通過重構處理來獲取三維的體數據；從體數據獲取多個切片圖像數據；通過對多個切片圖像數據中的各個切片圖像數據進行作為第一處理的微分處理，來獲取各自與多個切片圖像數據中的各個切片圖像數據對應的多個第一處理圖像數據；通過對多個第一處理圖像數據進行包括加法處理的第二處理，來獲取多個第二處理圖像數據；以及基于多個第二處理圖像數據來檢測被攝體的邊緣，獲取包括檢測到的被攝體的邊緣的邊緣圖像數據。

根據本發明，如上所述，從三維的體數據獲取多個切片圖像數據，通過對獲取到的多個切片圖像數據中的各個切片圖像數據進行作為第一處理的微分處理，來獲取各自與多個切片圖像數據中的各個切片圖像數據對應的多個第一處理圖像數據。由此，能夠獲取包括表示真的邊緣的信號和表示假的邊緣的信號的第一處理圖像數據。并且，通過對多個第一處理圖像數據進行包括加法處理的第二處理，來獲取多個第二處理圖像數據。由此，能夠獲取表示真的邊緣的信號不被消除而留下且表示假的邊緣的信號被消除的第二處理圖像數據。并且，基于多個第二處理圖像數據來檢測被攝體的邊緣，獲取包括檢測到的被攝體的邊緣的邊緣圖像數據。由此，能夠高精度地檢測被攝體的邊緣，并且能夠獲取包括高精度地檢測到的被攝體的邊緣的邊緣圖像數據。其結果，能夠在根據三維的體數據檢測被攝體的邊緣的情況下，基于包括高精度地檢測到的被攝體的邊緣的邊緣圖像數據來高精度地進行被攝體的邊緣解析。

附圖說明

圖1是表示一實施方式的X射線成像裝置的結構的圖。

圖2是表示被一實施方式的X射線成像裝置拍攝的被攝體的圖。

圖3A是表示被攝體的吸收像的一例的照片。