[發(fā)明專利]一種控制散熱器流量的三維異構(gòu)模組制作方法有效
| 申請?zhí)枺?/td> | 202010588587.8 | 申請日: | 2020-06-24 |
| 公開(公告)號(hào): | CN111653490B | 公開(公告)日: | 2021-12-17 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 馮光建 | 申請(專利權(quán))人: | 浙江集邁科微電子有限公司 |
| 主分類號(hào): | H01L21/48 | 分類號(hào): | H01L21/48;B81C1/00 |
| 代理公司: | 杭州天昊專利代理事務(wù)所(特殊普通合伙) 33283 | 代理人: | 董世博 |
| 地址: | 313100 浙江省湖州市長興縣經(jīng)濟(jì)技術(shù)開發(fā)*** | 國省代碼: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 控制 散熱器 流量 三維 模組 制作方法 | ||
本發(fā)明公開了一種控制散熱器流量的三維異構(gòu)模組制作方法,具體包括如下步驟:101)標(biāo)尺制作步驟、102)TSV孔制作步驟、103)鍵合步驟;本發(fā)明提供能滿足多種液體流速需求的一種控制散熱器流量的三維異構(gòu)模組制作方法。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及半導(dǎo)體技術(shù)領(lǐng)域,更具體的說,它涉及一種控制散熱器流量的三維異構(gòu)模組制作方法。
背景技術(shù)
微波毫米波射頻集成電路技術(shù)是現(xiàn)代國防武器裝備和互聯(lián)網(wǎng)產(chǎn)業(yè)的基礎(chǔ),隨著智能通信、智能家居、智能物流、智能交通等“互聯(lián)網(wǎng)+”經(jīng)濟(jì)的快速興起,承擔(dān)數(shù)據(jù)接入和傳輸功能的微波毫米波射頻集成電路也存在巨大現(xiàn)實(shí)需求及潛在市場。
但是對于高頻率的微系統(tǒng),天線陣列的面積越來越小,且天線之間的距離要保持在某個(gè)特定范圍,才能使整個(gè)模組具備優(yōu)良的通信能力。但是對于射頻芯片這種模擬器件芯片來講,其面積不能像數(shù)字芯片一樣成倍率的縮小,這樣就會(huì)出現(xiàn)特高頻率的射頻微系統(tǒng)將沒有足夠的面積同時(shí)放置PA/LNA,需要把PA/LNA堆疊起來,如此基于導(dǎo)熱銅柱對上層芯片進(jìn)行散熱將變得非常困難。
為解決這個(gè)問題,在芯片下方設(shè)置液冷散熱微流道開始被引入,液冷通道可以通過控制單位時(shí)間內(nèi)流入模組內(nèi)液體的量來控制模組中芯片的溫度,以此保證芯片在工作時(shí)不會(huì)因?yàn)闇囟冗^高而提前失效。但是在實(shí)際應(yīng)用中發(fā)現(xiàn)對于多層堆疊的微流通道,不同層的微流道中液體的流速除了跟下面的泵體壓力,微流道的入口直徑和出口直徑以及微流道的橫截面積關(guān)系較大,而這些關(guān)鍵尺寸在設(shè)計(jì)時(shí)就已經(jīng)固化,這樣對于不同層的堆疊,其實(shí)需要的模組的參數(shù)是不同的,如果按照不同的層數(shù)來設(shè)計(jì)不同的尺寸,會(huì)大大增加流片費(fèi)用。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明克服了現(xiàn)有技術(shù)的不足,提供能滿足多種液體流速需求的一種控制散熱器流量的三維異構(gòu)模組制作方法。
本發(fā)明的技術(shù)方案如下:
一種控制散熱器流量的三維異構(gòu)模組制作方法,具體包括如下步驟:
101)標(biāo)尺制作步驟:在待鍵合載板和底座鍵合載板的表面設(shè)置標(biāo)尺,標(biāo)尺用于待鍵合載板和底座鍵合載板上芯片的對準(zhǔn)檢驗(yàn);標(biāo)尺采用線條狀或者直角狀;
其中,標(biāo)尺制作過程如下:在待鍵合載板和底座鍵合載板上表面沉積氧化硅或者氮化硅,或者直接熱氧化形成絕緣層,通過物理濺射、磁控濺射或者蒸鍍工藝在絕緣層上方制作種子層,通過光刻,電鍍工藝在種子層上制作對準(zhǔn)標(biāo)記金屬形成標(biāo)尺;或者通過光刻、干法刻蝕工藝在待鍵合載板和底座鍵合載板上表面刻蝕出相應(yīng)凹槽形成標(biāo)尺,或者在凹槽基礎(chǔ)上通過大馬士革工藝或者PVD工藝在凹槽內(nèi)填充金屬形成標(biāo)尺,或者在填充金屬處再用氧化硅或氮化硅覆蓋形成標(biāo)尺;
待鍵合載板和底座鍵合載板都采用4、6、8、12寸中的一種尺寸,厚度范圍為200um到2000um之間,材質(zhì)采用硅、玻璃、石英、碳化硅、氧化鋁、環(huán)氧樹脂、聚氨酯中的一種;
102)TSV孔制作步驟:待鍵合載板和底座鍵合載板上都通過光刻,刻蝕工藝制作TSV孔,TSV孔的直徑范圍在1um到1000um,深度在10um到1000um之間;減薄待鍵合載板和底座鍵合載板的底部,使TSV孔底部露出;或者待鍵合載板或底座鍵合載板其中之一的TSV孔改成長條形凹槽;
103)鍵合步驟:用共晶鍵合工藝把待鍵合載板和底座鍵合載板鍵合在一起,使步驟102)的TSV孔與TSV孔,或者TSV孔與凹槽相互連接形成微流道;其中,形成微流道前進(jìn)行對準(zhǔn)過程,在待鍵合載板周圍設(shè)置推動(dòng)裝置,由推動(dòng)裝置微調(diào)待鍵合載板的位置,使不同面積的微流道注入散熱液體后能有一樣的控溫效果,達(dá)到該效果后去除推動(dòng)裝置。
進(jìn)一步的,步驟103)中形成微流道之后通過紅外或者X-ray檢測對準(zhǔn)表面的差異程度,以判斷是否符合設(shè)定需求,若不符合繼續(xù)通過推動(dòng)裝置進(jìn)行調(diào)整,直到符合設(shè)定需求。
進(jìn)一步的,推動(dòng)裝置采用可實(shí)現(xiàn)手動(dòng)0.1微米精度的微調(diào)裝置,實(shí)現(xiàn)對功能模組進(jìn)行兩個(gè)軸向的微小移動(dòng)和旋轉(zhuǎn)移動(dòng)。
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H01L21-02 .半導(dǎo)體器件或其部件的制造或處理
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H01L21-66 .在制造或處理過程中的測試或測量
H01L21-67 .專門適用于在制造或處理過程中處理半導(dǎo)體或電固體器件的裝置;專門適合于在半導(dǎo)體或電固體器件或部件的制造或處理過程中處理晶片的裝置
H01L21-70 .由在一共用基片內(nèi)或其上形成的多個(gè)固態(tài)組件或集成電路組成的器件或其部件的制造或處理;集成電路器件或其特殊部件的制造
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