[發明專利]一種除塵方法

在審

• 申請號: 202010582737.4
• 申請日: 2020-06-23
• 公開（公告）號: CN111921986A
• 公開（公告）日: 2020-11-13
• 發明（設計）人: 徐崇友
• 申請（專利權）人: 深圳賦元軟件有限公司
• 主分類號: B08B7/00
• 分類號: B08B7/00;B08B13/00;G01N21/94;G01B11/00;G01B11/02;G01B11/06;G01B11/14;G01F23/00;B65G47/90
• 代理公司: 深圳眾鼎專利商標代理事務所(普通合伙) 44325
• 代理人: 譚果林

本發明提供了一種除塵方法，包括以下步驟：選取一具有粘性半固體部的除塵頭；判斷所述除塵頭的粘性半固體部的尺寸是否處于使用范圍；若所述除塵頭的粘性半固體部的尺寸處于使用范圍，則控制所述粘性半固體部進行多次除塵；若所述除塵頭的粘性半固體部的尺寸沒有處于使用范圍，則返回執行所述選取選取一具有粘性半固體部的除塵頭的步驟；控制所述粘性半固體部浸入到粘塵液中持續到浸液時間范圍，使所述粘性半固體部形成待干燥半固體部；控制所述待干燥半固體部從所述粘塵液中取出，控制所述待干燥半固體部進行本干燥并持續到本干燥時間,該除塵頭在去除灰塵后不易在被清潔的被檢測面產生新的污染物且對粘性灰塵的清洗效率高。

技術領域

本發明屬于除塵技術領域，更具體地說，是涉及一種除塵方法。

背景技術

電子元器件和光學元件在生產組裝的過程中，通常需要對電子元器件和光學元件進行表面外觀檢測。表面外觀檢測通常是檢測電子元器件的表面和光學元件的表面是否有瑕疵、臟污、劃痕、裂紋、破損、灰塵、指紋、水印、wire bond異常和die bond異常等表面外觀問題。當電子元器件的表面和光學元件的表面被檢查到灰塵時，還需要對具有灰塵的電子元器件的表面和具有灰塵的光學元件的表面進行清潔。現有的灰塵清除裝置通常采用濕法清洗方法或吹氣清潔方法實現對電子元器件的表面和光學元件的表面進行清潔。濕法清洗方法和吹氣清潔方法在清洗的過程中會將具有灰塵的電子元器件和不具有灰塵的電子元器件放在一起清潔，或將具有灰塵的光學元件和不具有灰塵的光學元件放在一起清潔，容易導致原本不具有灰塵的電子元器件的表面被污染和不具有灰塵的光學元件的表面被污染，另外，濕法清洗方法和吹氣方法對粘性灰塵的清除效率較低。

發明內容

本發明的目的在于提供一種除塵方法，以解決現有技術中存在的濕法清洗方法和吹氣清潔方法容易導致不具有灰塵的表面被污染和對粘性灰塵的清除效率低的技術問題。

為實現上述目的，本發明采用的技術方案是：提供一種除塵方法，包括以下步驟：選取一具有粘性半固體部的除塵頭；

判斷所述除塵頭的粘性半固體部的尺寸是否處于使用范圍；若所述除塵頭的粘性半固體部的尺寸處于使用范圍，則控制所述粘性半固體部進行多次除塵；若所述除塵頭的粘性半固體部的尺寸沒有處于使用范圍，則返回執行所述選取選取一具有粘性半固體部的除塵頭的步驟；控制所述粘性半固體部浸入到粘塵液中持續到浸液時間范圍，使所述粘性半固體部形成待干燥半固體部；

控制所述待干燥半固體部從所述粘塵液中取出，控制所述待干燥半固體部進行本干燥并持續到本干燥時間，使所述待干燥半固體部形成優化的所述粘性半固體部，返回執行所述判斷所述除塵頭的粘性半固體部的尺寸是否處于使用范圍；若所述除塵頭的粘性半固體部的尺寸處于使用范圍，則控制所述粘性半固體部進行多次除塵；若所述除塵頭的粘性半固體部的尺寸沒有處于使用范圍，則返回執行所述選取選取一具有粘性半固體部的除塵頭的步驟的步驟。

進一步地，將所述控制所述待干燥半固體部從所述粘塵液中取出，控制所述待干燥半固體部進行本干燥并持續到本干燥時間，使所述待干燥半固體部形成優化的所述粘性半固體部，返回執行所述判斷所述除塵頭的粘性半固體部的尺寸是否處于使用范圍；若所述除塵頭的粘性半固體部的尺寸處于使用范圍，則控制所述粘性半固體部進行多次除塵；若所述除塵頭的粘性半固體部的尺寸沒有處于使用范圍，則返回執行所述選取選取一具有粘性半固體部的除塵頭的步驟的步驟的步驟可選擇性設為以下步驟：

控制所述粘性半固體部從所述粘塵液中取出，將所述除塵頭放置在放置裝置上，返回執行所述選取一具有粘性半固體部的除塵頭的步驟。

進一步地，將所述控制所述粘性半固體部浸入到所述粘塵液中持續到浸液時間范圍，使所述粘性半固體部形成待干燥半固體部設為：

根據浸入深度控制所述粘性半固體部浸入到所述粘塵液中持續到浸液時間范圍，使所述粘性半固體部形成待干燥半固體部；