[發(fā)明專利]分割曝光掩模、分割曝光方法、曝光圖案和觸摸傳感器在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202010575711.7 | 申請(qǐng)日: | 2020-06-22 |
| 公開(公告)號(hào): | CN112230506A | 公開(公告)日: | 2021-01-15 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 金炳仁;張民錫 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 東友精細(xì)化工有限公司 |
| 主分類號(hào): | G03F1/00 | 分類號(hào): | G03F1/00;G03F1/70;G03F7/20;G03F7/22;G03F9/00 |
| 代理公司: | 北京市中倫律師事務(wù)所 11410 | 代理人: | 鐘錦舜;姜香丹 |
| 地址: | 韓國全*** | 國省代碼: | 暫無信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 分割 曝光 方法 圖案 觸摸 傳感器 | ||
1.一種分割曝光掩模,所述分割曝光掩模用于在具有N個(gè)分割曝光區(qū)域的基板上通過分割曝光形成圖案,N是3以上的自然數(shù),其中,
所述分割曝光掩模具有與2至N-1個(gè)分割曝光區(qū)域相對(duì)應(yīng)的尺寸,并且被分割為2至N-1個(gè)。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的分割曝光掩模,其中,當(dāng)作為掩模分割區(qū)域的數(shù)量的所述2至N-1的數(shù)量為M時(shí),使用所述分割曝光掩模的曝光拍攝的數(shù)量為N+M-1。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的分割曝光掩模,其中,所述掩模分割區(qū)域選擇性地由透光區(qū)域或遮光區(qū)域構(gòu)成。
4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的分割曝光掩模,其中,第一次到第M次曝光拍攝將所述基板從一端到第M分割曝光區(qū)域曝光,并且在所述基板的一個(gè)方向上將透光區(qū)域依次增加一個(gè)掩模分割區(qū)域,從而第M次曝光拍攝將掩模分割區(qū)域全部構(gòu)成為透光區(qū)域,
從第M+1次至第N-2次的曝光拍攝在第M次曝光拍攝中在所述基板的另一端方向上依次移動(dòng)一個(gè)掩模分割區(qū)域的同時(shí)進(jìn)行曝光,并且將掩模分割區(qū)域全部構(gòu)成為透光區(qū)域,并且
從第N-1次到第N+M-1次的曝光拍攝將所述基板從所述另一端沿所述一個(gè)方向曝光至第M分割曝光區(qū)域,第N-1次曝光拍攝將掩模分割區(qū)域全部構(gòu)成為透光區(qū)域,并且從第N次曝光拍攝起,在所述基板的一個(gè)方向上將遮光區(qū)域依次增加一個(gè)掩模分割區(qū)域,從而第N+M-1次曝光拍攝將M-1個(gè)掩模分割區(qū)域構(gòu)成為遮光區(qū)域。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的分割曝光掩模,其中,當(dāng)用一個(gè)曝光掩模對(duì)所述基板進(jìn)行一次曝光時(shí)的曝光量為E時(shí),每次曝光拍攝的曝光量為E/M。
6.一種分割曝光方法,所述分割曝光方法包括如下步驟:
基板分割步驟,將基板分割為N個(gè)分割曝光區(qū)域,其中N是3以上的自然數(shù);
掩模分割步驟,將具有與2至N-1個(gè)分割曝光區(qū)域相對(duì)應(yīng)的尺寸的分割曝光掩模分割為2至N-1個(gè)掩模分割區(qū)域;
曝光量調(diào)節(jié)步驟,當(dāng)所述2至N-1的數(shù)量為M并且用一個(gè)曝光掩模對(duì)所述基板進(jìn)行一次曝光時(shí)的曝光量為E時(shí),所述分割曝光掩模的曝光量減小為E/M;
分割曝光步驟,將掩模分割區(qū)域選擇性地構(gòu)成為透光區(qū)域或遮光區(qū)域,通過N+M-1次的曝光拍攝將所述基板從一端到另一端順序地曝光,并且使至少一個(gè)掩模分割區(qū)域重疊。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的分割曝光方法,其中,在所述分割曝光步驟中,
第一次到第M次曝光拍攝將所述基板從一端到第M分割曝光區(qū)域曝光,并且在所述基板的一個(gè)方向上將透光區(qū)域依次增加一個(gè)掩模分割區(qū)域,從而第M次曝光拍攝將掩模分割區(qū)域全部構(gòu)成為透光區(qū)域,
從第M+1次至第N-2次的曝光拍攝在第M次曝光拍攝中在所述基板的另一端方向上依次移動(dòng)一個(gè)掩模分割區(qū)域的同時(shí)進(jìn)行曝光,并且將掩模分割區(qū)域全部構(gòu)成為透光區(qū)域,
從第N-1次到第N+M-1次的曝光拍攝將所述基板從所述另一端沿所述一個(gè)方向曝光至第M分割曝光區(qū)域,第N-1次曝光拍攝將掩模分割區(qū)域全部構(gòu)成為透光區(qū)域,并且從第N次曝光拍攝起,在所述基板的一個(gè)方向上將遮光區(qū)域依次增加一個(gè)掩模分割區(qū)域,從而第N+M-1次曝光拍攝將M-1個(gè)掩模分割區(qū)域構(gòu)成為遮光區(qū)域。
8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的分割曝光方法,其中,在所述分割曝光步驟中,將所述基板的分割曝光區(qū)域的邊界處的圖案的階差或線寬的差與不重疊的分割曝光相比減小1/M倍。
9.根據(jù)權(quán)利要求6至8中任一項(xiàng)所述的分割曝光方法,其中,
所述分割曝光方法用于在觸摸傳感器中形成圖案。
10.一種通過根據(jù)權(quán)利要求9所述的分割曝光方法制造的觸摸傳感器。
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G03F 圖紋面的照相制版工藝,例如,印刷工藝、半導(dǎo)體器件的加工工藝;其所用材料;其所用原版;其所用專用設(shè)備
G03F1-00 用于圖紋面的照相制版的原版,例如掩膜,光掩膜;其所用空白掩膜或其所用薄膜;其專門適用于此的容器;其制備
G03F1-20 .用于通過帶電粒子束(CPB)輻照成像的掩膜或空白掩膜,例如通過電子束;其制備
G03F1-22 .用于通過100nm或更短波長輻照成像的掩膜或空白掩膜,例如 X射線掩膜、深紫外
G03F1-26 .相移掩膜[PSM];PSM空白;其制備
G03F1-36 .具有臨近校正特征的掩膜;其制備,例如光學(xué)臨近校正(OPC)設(shè)計(jì)工藝
G03F1-38 .具有輔助特征的掩膜,例如用于校準(zhǔn)或測(cè)試的特殊涂層或標(biāo)記;其制備
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