[發明專利]倍增寄存器結構以及包括該倍增寄存器結構的EMCCD有效
| 申請號: | 202010567950.8 | 申請日: | 2020-06-19 |
| 公開(公告)號: | CN111787247B | 公開(公告)日: | 2022-09-16 |
| 發明(設計)人: | 白雪平;楊洪;鄭渝;曲鵬程 | 申請(專利權)人: | 中國電子科技集團公司第四十四研究所 |
| 主分類號: | H04N5/372 | 分類號: | H04N5/372;H01L31/107;H01L31/0352;H01L27/148 |
| 代理公司: | 重慶輝騰律師事務所 50215 | 代理人: | 王海軍 |
| 地址: | 400060 *** | 國省代碼: | 重慶;50 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 倍增 寄存器 結構 以及 包括 emccd | ||
1.一種提高EMCCD響應線性度的倍增寄存器結構,包括襯底和位于襯底之上的埋溝;在埋溝上覆蓋有柵介質,在柵介質上形成有第一電極Ф1、第二電極Фdc、第三電極Фem和第四電極Ф3;這四個電極依次對應為第一轉移相、直流相、倍增相以及第二轉移相;其特征在于,將埋溝按照各電極劃分出對應的第一埋溝、第二埋溝、第三埋溝以及第四埋溝;將第三電極Фem的倍增相向下對應的第三埋溝劃分為倍增埋溝和電荷埋溝,所述倍增埋溝用于電荷倍增;所述電荷埋溝用于存儲倍增后的電荷,且所述電荷埋溝的深度大于所述倍增埋溝的深度;所述倍增埋溝的濃度與其他埋溝的濃度一致,所述電荷埋溝的濃度略高于倍增埋溝的濃度,其中,其他埋溝包括第一埋溝、第二埋溝以及第四埋溝,電荷埋溝的濃度比倍增埋溝濃度高1/3~1倍。
2.根據權利要求1所述的一種提高EMCCD響應線性度的倍增寄存器結構,其特征在于,所述襯底為P型襯底,所述埋溝為N型埋溝或者所述襯底為N型襯底,所述埋溝為P型埋溝。
3.根據權利要求1所述的一種提高EMCCD響應線性度的倍增寄存器結構,其特征在于,在所述電荷埋溝處加注磷用于提高電荷埋溝濃度。
4.一種提高響應線性度的EMCCD,包括存儲區、光敏區、水平寄存器和讀出放大器,其特征在于,在所述水平寄存器和所述讀出放大器之間安裝有多個如權利要求1~3任一所述的倍增寄存器結構。
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