[發明專利]質譜分析裝置在審
| 申請號： | 202010567636.X | 申請日： | 2020-06-19 |
| 公開（公告）號： | CN112216594A | 公開（公告）日： | 2021-01-12 |
| 發明（設計）人： | 立石勇介 | 申請（專利權）人： | 株式會社島津制作所 |
| 主分類號： | H01J49/06 | 分類號： | H01J49/06;H01J49/40;G01N30/72 |
| 代理公司： | 北京林達劉知識產權代理事務所(普通合伙) 11277 | 代理人： | 劉新宇 |
| 地址： | 日本*** | 國省代碼： | 暫無信息 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 譜分析 裝置 | ||
1.一種質譜分析裝置，具備：離子阱，其通過高頻電場捕捉離子；以及飛行時間質譜分析器，其對從所述離子阱射出的離子進行質譜分析，所述質譜分析裝置重復執行以下動作：在將源自試樣成分的離子捕捉到所述離子阱之后，從該離子阱射出該離子，并利用所述飛行時間質譜分析器對該離子進行分析，所述質譜分析裝置還具備：
捕捉電壓產生部，其對構成所述離子阱的電極中的至少一個電極施加離子捕捉用的高頻電壓；
射出電壓產生部，其對構成所述離子阱的電極中的至少一個電極施加相位與所述高頻電壓的相位同步的離子射出用電壓；
控制部，在所述飛行時間質譜分析器中對從所述離子阱射出的離子進行質譜分析的期間，所述控制部控制所述捕捉電壓產生部和所述射出電壓產生部，使得將接下來要分析的離子導入并捕捉到所述離子阱中；
空白信號獲取部，其事先在所述控制部的控制下使所述離子阱與測定源自試樣的離子時同樣地進行動作的狀態下，獲取測定期間或測定窗中的規定時間范圍的空白信號，并存儲該空白信號的數據，所述測定期間為從離子射出時間點起到一次測定結束的時間點為止的期間，所述測定窗為該測定期間的一部分；
噪聲去除部，其在所述控制部的控制下，按照與所述測定期間對應的測定期間或與所述測定窗對應的測定窗中的經過時間，從在該測定期間或該測定窗中由所述飛行時間質譜分析器針對作為測定對象的試樣得到的信號強度數據中減去所述空白信號的數據；以及
譜制作部，其基于由所述噪聲去除部去除噪聲后的信號強度數據來制作質譜。
2.根據權利要求1所述的質譜分析裝置，其特征在于，
所述捕捉用的高頻電壓是矩形波電壓。
3.根據權利要求1所述的質譜分析裝置，其特征在于，
所述飛行時間質譜分析器是使離子沿大致相同的飛行軌道多次重復飛行的多重環繞型的飛行時間質譜分析器。
4.根據權利要求2所述的質譜分析裝置，其特征在于，
所述飛行時間質譜分析器是使離子沿大致相同的飛行軌道多次重復飛行的多重環繞型的飛行時間質譜分析器。
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