[發(fā)明專利]一種適用于大電流測(cè)試的探針測(cè)試底座

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• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202010554812.6
• 申請(qǐng)日: 2020-06-17
• 公開（公告）號(hào): CN111537869A
• 公開（公告）日: 2020-08-14
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 劉澤鑫
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 深圳市容微精密電子有限公司
• 主分類號(hào): G01R31/28
• 分類號(hào): G01R31/28;G01R1/04
• 代理公司: 深圳鴻業(yè)專利代理有限公司 44546
• 代理人: 朱海東;劉莎

1.一種適用于大電流測(cè)試的探針測(cè)試底座，包括基板(1)，其特征在于：所述基板(1)的上端開設(shè)有放置槽(6)，所述基板(1)的表面開設(shè)有固定孔(2)，所述基板(1)的內(nèi)壁設(shè)置有連接裝置(5)，所述連接裝置(5)包括包裹座(51)，所述包裹座(51)位于基板(1)的內(nèi)壁，所述包裹座(51)的表面與基板(1)的內(nèi)壁固定連接，所述包裹座(51)的上端插設(shè)并固定連接有導(dǎo)筒(55)，所述導(dǎo)筒(55)的下端固定連接有連接桿(53)，所述導(dǎo)筒(55)的內(nèi)壁固定連接有壓縮彈簧(54)，所述壓縮彈簧(54)的上端固定連接有導(dǎo)桿(52)，所述導(dǎo)桿(52)的表面與導(dǎo)筒(55)的內(nèi)壁滑動(dòng)連接，所述導(dǎo)桿(52)與包裹座(51)的內(nèi)壁相抵，且導(dǎo)桿(52)與包裹座(51)電性連接。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種適用于大電流測(cè)試的探針測(cè)試底座，其特征在于：所述基板(1)的上端設(shè)置有防護(hù)裝置(3)，所述防護(hù)裝置(3)包括防護(hù)塊(34)，所述防護(hù)塊(34)的下端與基板(1)的上端轉(zhuǎn)動(dòng)連接，所述防護(hù)塊(34)的表面固定連接有定位塊(33)，所述基板(1)的上端固定連接有安裝架(31)，所述安裝架(31)的表面插設(shè)并滑動(dòng)連接有卡塊(32)，所述卡塊(32)的下端與定位塊(33)的上端相抵。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的一種適用于大電流測(cè)試的探針測(cè)試底座，其特征在于：所述防護(hù)塊(34)的上端設(shè)置有定位裝置(4)，所述定位裝置(4)包括拉伸彈簧(43)，所述拉伸彈簧(43)與防護(hù)塊(34)的上端固定連接，所述拉伸彈簧(43)的數(shù)量為兩個(gè)，所述拉伸彈簧(43)的上端固定連接有連接塊(44)，所述連接塊(44)的下端固定連接有滑桿(42)，所述滑桿(42)貫穿防護(hù)塊(34)并與其內(nèi)壁滑動(dòng)連接，所述滑桿(42)的下端固定連接有抵板(41)。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種適用于大電流測(cè)試的探針測(cè)試底座，其特征在于：所述防護(hù)塊(34)的上端設(shè)置有限位裝置(7)，所述限位裝置(7)包括傳動(dòng)桿(72)，所述傳動(dòng)桿(72)貫穿防護(hù)塊(34)，所述傳動(dòng)桿(72)與防護(hù)塊(34)螺紋連接，所述傳動(dòng)桿(72)的下端轉(zhuǎn)動(dòng)連接有抵塊(74)。

5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種適用于大電流測(cè)試的探針測(cè)試底座，其特征在于：所述滑桿(42)的數(shù)量為兩個(gè)，兩個(gè)所述滑桿(42)間呈鏡像設(shè)置，所述滑桿(42)的一端貫穿拉伸彈簧(43)并與其內(nèi)壁滑動(dòng)連接。

6.根據(jù)權(quán)利要求4所述的一種適用于大電流測(cè)試的探針測(cè)試底座，其特征在于：所述傳動(dòng)桿(72)上套設(shè)并固定連接有限位塊(73)，所述限位塊(73)的上端與連接塊(44)的下端相抵，所述傳動(dòng)桿(72)的上端固定連接有調(diào)節(jié)塊(71)。

7.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種適用于大電流測(cè)試的探針測(cè)試底座，其特征在于：所述抵板(41)的上端開設(shè)有通孔，所述抵塊(74)貫穿通孔，所述抵塊(74)的表面與通孔的內(nèi)壁滑動(dòng)連接。