[發明專利]一種內存檢測方法和裝置

有效

• 申請號: 202010551093.2
• 申請日: 2020-06-17
• 公開（公告）號: CN111459713B
• 公開（公告）日: 2020-09-25
• 發明（設計）人: 王旭;周廣蘊;張曉丹
• 申請（專利權）人: 北京機電工程研究所
• 主分類號: G06F11/10
• 分類號: G06F11/10
• 代理公司: 北京天達知識產權代理事務所(普通合伙) 11386
• 代理人: 牛洪瑜

本發明涉及一種內存檢測方法和裝置，屬于內存檢測技術領域，解決了現有技術中無法滿足數據包的完整性校驗的問題。內存檢測方法包括：根據數據庫中的區域標號與數據頭和數據尾的一一對應關系，對每個內存區域中的待測數據分別進行封裝；根據區域標號對待測數據進行排序；當檢測到缺失內存區域時，增加空內存塊，其中，空內存塊包括空數據、數據頭和數據尾；將相鄰的數據尾與數據頭進行比較；以及當相鄰的數據尾與數據頭相同時，確定待測數據為完整數據。實現了通過將相鄰的數據尾與數據頭進行比較，能夠確定待測數據為完整數據，從而減少了對硬件平臺的依賴性，保證數據存取的完整性。

技術領域

本發明涉及內存檢測技術領域，尤其涉及一種內存檢測方法和裝置。

背景技術

對于穩定性要求高的用戶來說，內存錯誤可能會引起致命性的問題，內存錯誤對于系統的正常運行起到了阻礙作用。內存錯誤主要是內存單元的讀寫問題，或者是在執行相關內存操作時所出現的一系列錯誤，這是導致絕大多數軟件發生紊亂的根本原因。因此需要用內存檢測技術對內存錯誤進行檢測，尤其在嵌入式領域，安全可靠性是至關重要的。

常見的奇偶校驗、ECC校驗的實現都是從內存硬件方面進行的改進，這種方法固然簡便可靠，但對硬件有了更高的要求；同時對內存的容錯要求不同，硬件構造就會不同，成本就會提升。通常，針對某些內存錯誤，會采用專業的內存測試工具，一般需要在測試工具環境下進行程序的編譯、調試和運行進行動態測試，這些測試工具會自動給出內存泄漏的測試結果，甚至可以定位產生內存泄漏的代碼位置。另外，還可以使用操作系統的性能監視器實時監視內存的使用情況，通過查看內存的使用數據來判斷內存的問題。而從數據存取時，對內存中數據的完整性如果有一個初步檢測方式，那么之后在應用過程中，在一定程度上可以避免造成內存發生錯誤的情況。

在航空航天領域，嵌入式系統的可靠性需要內存檢測技術的支持，針對數據包的完整性校驗，傳統的通用技術已經無法滿足對內存的差異化需求。

發明內容

鑒于上述的分析，本發明實施例旨在提供一種內存檢測方法和裝置，用以解決現有技術無法滿足數據包的完整性校驗的問題。

一方面，本發明實施例提供了一種內存檢測方法，包括：根據數據庫中的區域標號與數據頭和數據尾的一一對應關系，對每個內存區域中的待測數據分別進行封裝；根據所述區域標號對所述待測數據進行排序；當檢測到缺失內存區域時，增加空內存塊，其中，所述空內存塊包括空數據、數據頭和數據尾；將相鄰的數據尾與數據頭進行比較；以及當所述相鄰的數據尾與數據頭相同時，確定所述待測數據為完整數據。

上述技術方案的有益效果如下：通過將相鄰的數據尾與數據頭進行比較，能夠確定待測數據為完整數據。因此，能夠減少了對硬件平臺的依賴性，保證數據存取的完整性，并且保證了程序的穩定性和可靠性。

基于上述方法的進一步改進，在分別對每個內存區域中的待測數據進行封裝之前，對內存空間進行分區分塊，其中，所述分區分塊包括：將所述內存空間劃分為多個內存區域；以及將所述多個內存區域中的每個內存區域劃分為一個或多個內存塊。

基于上述方法的進一步改進，根據數據庫中的區域標號與數據頭和數據尾的一一對應關系，分別對每個內存區域中的待測數據進行封裝進一步包括：對所述多個內存區域依次進行標號，使得每個內存區域中的內存塊數據具有對應的區域標號；以及根據數據庫中的區域標號與數據頭和數據尾的一一對應關系，對所述內存塊數據增加與所述區域標號相對應的數據頭和數據尾。

基于上述方法的進一步改進，根據所述區域標號對所述待測數據進行排序進一步包括：根據封裝后的待測數據的所述區域標號從小到大對所述待測數據進行排序。

基于上述方法的進一步改進，當檢測到缺失內存區域時，增加空內存塊進一步包括：將與排序后的待測數據的區域標號進行檢查，以確定是否存在缺失內存區域；以及當存在所述缺失內存區域時，增加與所述缺失內存區域相對應的空內存塊。