[發明專利]一種內存檢測方法和裝置

有效

• 申請號: 202010551093.2
• 申請日: 2020-06-17
• 公開（公告）號: CN111459713B
• 公開（公告）日: 2020-09-25
• 發明（設計）人: 王旭;周廣蘊;張曉丹
• 申請（專利權）人: 北京機電工程研究所
• 主分類號: G06F11/10
• 分類號: G06F11/10
• 代理公司: 北京天達知識產權代理事務所(普通合伙) 11386
• 代理人: 牛洪瑜

1.一種內存檢測方法，其特征在于，包括：

根據數據庫中的區域標號與數據頭和數據尾的一一對應關系，對每個內存區域中的待測數據分別進行封裝；

根據所述區域標號對所述待測數據進行排序；

當檢測到缺失內存區域時，增加空內存塊，其中，所述空內存塊包括空數據、數據頭和數據尾；

將相鄰的數據尾與數據頭進行比較；以及

當所述相鄰的數據尾與數據頭相同時，確定所述待測數據為完整數據。

2.根據權利要求1所述的內存檢測方法，其特征在于，在分別對每個內存區域中的待測數據進行封裝之前，對內存空間進行分區分塊，其中，所述分區分塊包括：

將所述內存空間劃分為多個內存區域；以及

將所述多個內存區域中的每個內存區域劃分為一個或多個內存塊。

3.根據權利要求2所述的內存檢測方法，其特征在于，根據數據庫中的區域標號與數據頭和數據尾的一一對應關系，分別對每個內存區域中的待測數據進行封裝進一步包括：

對所述多個內存區域依次進行標號，使得每個內存區域中的內存塊數據具有對應的區域標號；以及

根據數據庫中的區域標號與數據頭和數據尾的一一對應關系，對所述內存塊數據增加與所述區域標號相對應的數據頭和數據尾。

4.根據權利要求3所述的內存檢測方法，其特征在于，根據所述區域標號對所述待測數據進行排序進一步包括：根據封裝后的待測數據的所述區域標號從小到大對所述待測數據進行排序。

5.根據權利要求1所述的內存檢測方法，其特征在于，當檢測到缺失內存區域時，增加空內存塊進一步包括：

將與排序后的待測數據的區域標號進行檢查，以確定是否存在缺失內存區域；以及

當存在所述缺失內存區域時，增加與所述缺失內存區域相對應的空內存塊。

6.根據權利要求2所述的內存檢測方法，其特征在于，將相鄰的數據尾與數據頭進行比較進一步包括：

將第n個內存區域中的任一個內存塊的數據尾與第（n+1）個內存區域中的任一個內存塊的數據頭進行比較，其中，n大于等于1。

7.根據權利要求6所述的內存檢測方法，其特征在于，當所述相鄰的數據尾與數據頭相同時，所述待測數據為完整數據進一步包括：

當第n個內存區域中的任一內存塊的數據尾與第（n+1）個內存區域中的任一內存塊的數據頭都相同時，確定形成完整的數據鏈條而沒有丟失數據；

否則沒有形成完整的數據鏈條，確定丟失數據。

8.一種內存檢測裝置，其特征在于，包括：

封裝模塊，用于根據數據庫中的區域標號與數據頭和數據尾的一一對應關系，分別對每個內存區域中的待測數據進行封裝；

排序模塊，用于根據所述區域標號對所述待測數據進行排序；

檢測和增加模塊，用于當檢測到缺失內存區域時，增加空內存塊，其中，所述空內存塊包括空數據、數據頭和數據尾；

比較模塊，將相鄰的數據尾與數據頭進行比較；以及

完整性確定模塊，當所述相鄰的數據尾與數據頭相同時，所述待測數據為完整數據。

9.根據權利要求8所述的內存檢測裝置，其特征在于，所述封裝模塊還用于：

對所述每個內存區域依次進行標號，使得每個內存區域中的內存塊數據具有對應的區域標號；以及

根據數據庫中的區域標號與數據頭和數據尾的一一對應關系，對所述內存塊數據增加與所述區域標號相對應的數據頭和數據尾。

10.根據權利要求9所述的內存檢測裝置，其特征在于，

所述排序模塊還用于根據封裝后的數據的所述區域標號從小到大對待測數據進行排序；以及

檢測和增加模塊還用于將與排序后的待測數據的區域標號進行檢查，以確定是否存在缺失內存區域；以及當存在所述缺失內存區域時，增加與所述缺失內存區域相對應的空內存塊。