[發(fā)明專(zhuān)利]一種熱電堆芯片批量測(cè)試裝置及方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202010550074.8 | 申請(qǐng)日: | 2020-06-16 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN111579915A | 公開(kāi)(公告)日: | 2020-08-25 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 夏賢沖;嚴(yán)江榮;顏天寶 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 佛山市川東磁電股份有限公司 |
| 主分類(lèi)號(hào): | G01R31/01 | 分類(lèi)號(hào): | G01R31/01;G01R31/28;G01J5/14 |
| 代理公司: | 佛山信智匯知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(特殊普通合伙) 44629 | 代理人: | 郭文娟 |
| 地址: | 528500 廣東省佛山*** | 國(guó)省代碼: | 廣東;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 熱電 芯片 批量 測(cè)試 裝置 方法 | ||
本發(fā)明提供了一種熱電堆芯片批量測(cè)試裝置,包括電壓信號(hào)采集模塊、信號(hào)處理模塊、顯示模塊及供電模塊。電壓信號(hào)采集模塊用于采集多個(gè)熱電堆芯片TP電壓信號(hào)、TP電阻信號(hào)及NTC電阻信號(hào)。信號(hào)處理模塊用于獲取TP輸出電壓值、TP電阻值以及NTC電阻值,并分別比較多個(gè)熱電堆芯片的TP輸出電壓值、TP電阻值以及NTC電阻值是否處在TP電壓標(biāo)準(zhǔn)值范圍、TP電阻標(biāo)準(zhǔn)值范圍以及NTC電阻標(biāo)準(zhǔn)值范圍之內(nèi),以判斷相應(yīng)的熱電堆芯片是否為不良品。本發(fā)明可以提高熱電堆測(cè)試的效率,進(jìn)一步保證了熱電堆產(chǎn)品測(cè)試的質(zhì)量。相應(yīng)地,本發(fā)明還提供一種熱電堆芯片批量測(cè)試方法。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明涉及傳感器技術(shù)領(lǐng)域,具體而言,涉及一種熱電堆芯片批量測(cè)試裝置及方法。
背景技術(shù)
熱電堆是一種熱釋紅外線傳感器,是由熱電偶構(gòu)成的一種器件,其作為溫度檢測(cè)器件,在耳式體溫計(jì)、放射溫度計(jì)、電烤爐、食品溫度檢測(cè)等領(lǐng)域中獲得了廣泛的應(yīng)用。
所有熱電堆芯片都必須經(jīng)過(guò)測(cè)試才能使用,其一般是通過(guò)測(cè)試TP電阻、NTC電阻來(lái)判斷是否合格。目前熱電堆芯片的測(cè)試方法是對(duì)單個(gè)熱電堆芯片進(jìn)行測(cè)試,判斷其是否合格,然后再對(duì)下一個(gè)熱電堆芯片進(jìn)行測(cè)試。該方法無(wú)法批量測(cè)試熱電堆芯片,其效率低下。
發(fā)明內(nèi)容
為了克服現(xiàn)有熱電堆芯片測(cè)試方法效率低下的問(wèn)題,本發(fā)明提供了一種熱電堆芯片批量測(cè)試裝置及方法,其具體技術(shù)方案如下:
一種熱電堆芯片批量測(cè)試裝置,包括:
電壓信號(hào)采集模塊,用于采集多個(gè)熱電堆芯片TP正極與TP負(fù)極之間的TP電壓信號(hào)、TP正極與TP負(fù)極之間的TP電阻信號(hào)以及NTC正極與接地腳之間的NTC電阻信號(hào);
信號(hào)處理模塊,預(yù)存有TP電壓標(biāo)準(zhǔn)值范圍、TP電阻標(biāo)準(zhǔn)值范圍以及NTC電阻標(biāo)準(zhǔn)值范圍,輸入端與電壓信號(hào)采集模塊的輸出端電連接,用于接收多個(gè)熱電堆芯片的TP電壓信號(hào)、TP電阻信號(hào)以及NTC電阻信號(hào)以獲取TP輸出電壓值、TP電阻值以及NTC電阻值,并分別比較多個(gè)熱電堆芯片的TP輸出電壓值、TP電阻值以及NTC電阻值是否處在TP電壓標(biāo)準(zhǔn)值范圍、TP電阻標(biāo)準(zhǔn)值范圍以及NTC電阻標(biāo)準(zhǔn)值范圍之內(nèi),當(dāng)熱電堆芯片的TP輸出電壓值不在TP電壓標(biāo)準(zhǔn)值范圍內(nèi)或TP電阻值不在TP電阻標(biāo)準(zhǔn)值范圍內(nèi)或NTC電阻值不在NTC電阻標(biāo)準(zhǔn)值范圍內(nèi)時(shí),判斷相應(yīng)的熱電堆芯片為不良品,否則判斷相應(yīng)的熱電堆芯片為良品;
顯示模塊,與信號(hào)處理模塊電連接,用于顯示多個(gè)熱電堆芯片的TP輸出電壓值、TP電阻值、NTC電阻值以及多個(gè)熱電堆芯片的判斷結(jié)果;
供電模塊,分別與電壓信號(hào)采集模塊、信號(hào)處理模塊以及顯示模塊電連接,用于給電壓信號(hào)采集模塊、信號(hào)處理模塊以及顯示模塊提供工作電壓。供電電路由變壓電路、線性穩(wěn)壓電路組成,其作用是把220V的市電轉(zhuǎn)換為穩(wěn)定的5V直流電壓,以為整個(gè)裝置提供工作電源。
可選的,所述電壓信號(hào)采集模塊包括多路切換電路、ADC采樣電路以及分壓電路,所述多路切換電路的輸入端分別與多個(gè)熱電堆芯片的TP正極、TP負(fù)極、NTC正極以及接地腳電連接,所述多路切換電路的輸出端分別與ADC采樣電路的輸入端以及分壓電路的輸入端電連接;所述ADC采樣電路用于多個(gè)熱電堆芯片TP正極與TP負(fù)極之間的TP電壓信號(hào),所述分壓電路用于采集多個(gè)熱電堆芯片TP正極與TP負(fù)極之間的TP電阻信號(hào)以及NTC正極與接地腳之間的NTC電阻信號(hào),所述ADC采樣電路的輸出端以及分壓電路的輸出端均與信號(hào)處理模塊的輸入端電連接。
可選的,所述顯示模塊包括LCD顯示屏、雙色LED燈蜂鳴器,所述LCD顯示屏、雙色LED燈以及蜂鳴器均與信號(hào)處理模塊電連接,所述LCD顯示屏用于顯示多個(gè)熱電堆芯片的TP輸出電壓值、TP電阻值以及NTC電阻值,所述雙色LED燈用于顯示多個(gè)熱電堆芯片的判斷結(jié)果。
LCD顯示屏、雙色LED燈以及蜂鳴器與信號(hào)處理模塊之間可以直接電連接,也可以根據(jù)需要,增加驅(qū)動(dòng)放大電路,以驅(qū)動(dòng)LCD顯示屏、雙色LED燈以及蜂鳴器工作。
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G01R 測(cè)量電變量;測(cè)量磁變量
G01R31-00 電性能的測(cè)試裝置;電故障的探測(cè)裝置;以所進(jìn)行的測(cè)試在其他位置未提供為特征的電測(cè)試裝置
G01R31-01 .對(duì)相似的物品依次進(jìn)行測(cè)試,例如在成批生產(chǎn)中的“過(guò)端—不過(guò)端”測(cè)試;測(cè)試對(duì)象多點(diǎn)通過(guò)測(cè)試站
G01R31-02 .對(duì)電設(shè)備、線路或元件進(jìn)行短路、斷路、泄漏或不正確連接的測(cè)試
G01R31-08 .探測(cè)電纜、傳輸線或網(wǎng)絡(luò)中的故障
G01R31-12 .測(cè)試介電強(qiáng)度或擊穿電壓
G01R31-24 .放電管的測(cè)試
- 軟件測(cè)試系統(tǒng)及測(cè)試方法
- 自動(dòng)化測(cè)試方法和裝置
- 一種應(yīng)用于視頻點(diǎn)播系統(tǒng)的測(cè)試裝置及測(cè)試方法
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- 一種工廠測(cè)試方法、系統(tǒng)、測(cè)試終端及被測(cè)試終端
- 一種軟件測(cè)試的方法、裝置及電子設(shè)備
- 測(cè)試方法、測(cè)試裝置、測(cè)試設(shè)備及計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì)
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