[發明專利]一種芯片字符檢測及計數器

在審

• 申請號: 202010545492.8
• 申請日: 2020-06-16
• 公開（公告）號: CN111781211A
• 公開（公告）日: 2020-10-16
• 發明（設計）人: 黃宏廣;周偉波;黃歡;劉志通
• 申請（專利權）人: 珠海市捷銳科技有限公司
• 主分類號: G01N21/898
• 分類號: G01N21/898;G01N21/01
• 代理公司: 廣州市紅荔專利代理有限公司 44214
• 代理人: 王賢義

本發明旨在提供一種結構簡單，既能夠節省人力又能夠提高檢測效率，而且還能夠避免出現漏檢、誤測等問題，確保芯片字符檢測質量的芯片字符檢測及計數器。本發明包括機臺、輸送機構、CCD檢測機構、上料機構以及下料機構，輸送機構設置在上料機構和下料機構的下方，CCD檢測機構的檢測端設置在輸送機構的上方，上料機構和下料機構分別設置在CCD檢測機構的兩側，上料機構與下料機構均包括托盤模塊和升降模塊，托盤模塊包括設置在機臺上的第一機架以及環繞設置在第一機架上的若干個第一氣缸，升降模塊設置在第一機架的下方，第一氣缸的輸出端設置有承重凸起，承重凸起與托盤上的凹槽相適配。本發明應用于自動化檢測領域。

技術領域

本發明應用于自動化檢測領域，特別涉及一種芯片字符檢測及計數器。

背景技術

在芯片的生產過程中，一般都會在芯片上印刷字符以顯示該芯片的具體型號，因此相應地需要對芯片進行字符檢測，將字符不準確、不清晰、不完整的芯片挑選出來后進行額外處理，從而保證芯片的生產質量。但是，傳統的字符檢測都是通過人工肉眼的方式進行實時檢測，不僅浪費人力，效率低下，而且人工肉眼頻繁對芯片字符進行檢測，勞動強度大，容易造成肉眼疲勞，因此容易產生漏檢、誤測等問題，導致不良品流入下一道工序中，影響芯片的生產質量。

現有一公開號為207467726U的中國專利提出了一種操作簡便并且自動化程度較高的全自動上下料模組，但是該全自動上下料模組結構比較復雜，并且缺少自動檢測裝置，因此在上下料的過程中不能對產品進行檢測操作。如能設計出一種結構簡單，既能夠節省人力又能夠提高檢測效率，而且還能夠避免出現漏檢、誤測等問題，確保芯片字符檢測質量的芯片字符檢測及計數器，則能夠很好地解決上述問題。

發明內容

本發明所要解決的技術問題是克服現有技術的不足，提供了一種結構簡單，既能夠節省人力又能夠提高檢測效率，而且還能夠避免出現漏檢、誤測等問題，確保芯片字符檢測質量的芯片字符檢測及計數器。

本發明所采用的技術方案是：本發明包括機臺、輸送機構、CCD檢測機構、上料機構以及下料機構，所述輸送機構設置在所述上料機構和所述下料機構的下方，所述CCD檢測機構的檢測端設置在所述輸送機構的上方，所述上料機構和所述下料機構分別設置在所述CCD檢測機構的兩側，所述上料機構與所述下料機構均包括托盤模塊和升降模塊，所述托盤模塊包括設置在機臺上的第一機架以及環繞設置在所述第一機架上的若干個第一氣缸，所述升降模塊設置在所述第一機架的下方，所述第一氣缸的輸出端設置有承重凸起，所述承重凸起與托盤上的凹槽相適配。

由上述方案可見，在上料機構中，其第一機架能夠堆疊多個放置有芯片的托盤，而第一氣缸的輸出端上所設置的承重凸起與位于最下面的托盤的凹槽相適配，從而起到支撐所有托盤的作用，而升降模塊設置在第一機架的下方，既能夠起到支撐所有托盤的作用，又能夠帶動托盤下降到輸送機構上。

而在下料機構中，其升降模塊能夠將輸送機構輸送過來的托盤頂升起來，而氣缸的輸出端上所設置的承重凸起與托盤的凹槽相適配，從而起到支撐托盤的作用，通過升降機構的升降作用以及氣缸輸出端的伸縮作用，能夠不斷地將托盤堆疊起來。

因此，上料機構能夠將堆疊的托盤通過輸送機構逐個地輸送到下料機構中堆疊起來，并且在輸送的過程中可以經過CCD檢測機構的拍照，拍出來的照片經過與合格的芯片照片相對比，從而判斷出已測芯片字符是否準確、清晰、完整。與傳統的人工肉眼檢測相對比，本發明實現了芯片字符的自動化檢測，降低了勞動強度，既能夠節省人力又能夠提高檢測效率，而且還能夠避免出現漏檢、誤測等問題，確保芯片字符檢測質量。