[發(fā)明專利]光學(xué)標(biāo)記點(diǎn)序號(hào)誤識(shí)別檢測(cè)方法、裝置、設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202010542826.6
• 申請(qǐng)日: 2020-06-15
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN111681268B
• 公開(kāi)（公告）日: 2023-06-02
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 杭建偉;許秋子
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: 深圳市瑞立視多媒體科技有限公司
• 主分類號(hào): G06T7/246
• 分類號(hào): G06T7/246;G06V10/764
• 代理公司: 北京市京大律師事務(wù)所 11321
• 代理人: 于亭

本發(fā)明涉及計(jì)算機(jī)視覺(jué)識(shí)別技術(shù)領(lǐng)域，公開(kāi)了一種光學(xué)標(biāo)記點(diǎn)序號(hào)誤識(shí)別檢測(cè)方法、裝置、設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)。光學(xué)標(biāo)記點(diǎn)序號(hào)誤識(shí)別檢測(cè)方法包括：獲取剛體同一部位所有光學(xué)標(biāo)記點(diǎn)分別在tsubgt;1/subgt;時(shí)刻圖像中的第一三維位置坐標(biāo)和在tsubgt;2/subgt;時(shí)刻圖像中的第二三維位置坐標(biāo)，并根據(jù)該三維位置信息計(jì)算對(duì)應(yīng)生成tsubgt;1/subgt;時(shí)刻的第一向量點(diǎn)積集合和tsubgt;2/subgt;時(shí)刻的第二向量點(diǎn)積集合；將第一、二向量點(diǎn)積進(jìn)行二值化處理之后得到的集合分別記為矩陣Msubgt;1/subgt;、Msubgt;2/subgt;，根據(jù)矩陣Msubgt;2/subgt;與矩陣Msubgt;1/subgt;，判斷光學(xué)標(biāo)記點(diǎn)是否存在錯(cuò)誤標(biāo)序。本發(fā)明通過(guò)檢測(cè)標(biāo)記點(diǎn)序號(hào)是否對(duì)應(yīng)錯(cuò)誤，解決了由于特定部位標(biāo)記點(diǎn)太多等原因?qū)е碌恼`識(shí)標(biāo)記點(diǎn)而導(dǎo)致解算錯(cuò)誤，影響動(dòng)作捕捉精度的技術(shù)問(wèn)題，從而提高動(dòng)作捕捉精度。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及計(jì)算機(jī)視覺(jué)識(shí)別技術(shù)領(lǐng)域，尤其涉及一種光學(xué)標(biāo)記點(diǎn)序號(hào)誤識(shí)別檢測(cè)方法、裝置、設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)。

背景技術(shù)

光學(xué)動(dòng)作捕捉系統(tǒng)是通過(guò)高速相機(jī)捕捉光學(xué)標(biāo)記點(diǎn)，識(shí)別跟蹤物體的運(yùn)動(dòng)軌跡，以實(shí)現(xiàn)包含VR在內(nèi)的各種環(huán)境三維大空間人機(jī)交互的動(dòng)作捕捉技術(shù)。現(xiàn)有的光學(xué)動(dòng)作捕捉技術(shù)，通常是在架設(shè)好的紅外攝像頭周邊不斷發(fā)出高頻的固定波長(zhǎng)的紅外線信號(hào)，作為空間位置追蹤的基礎(chǔ)。

但在實(shí)際應(yīng)用過(guò)程中，上述動(dòng)作捕捉技術(shù)存在一定缺陷，由于光學(xué)動(dòng)捕全身貼標(biāo)記點(diǎn)太多，像手部等標(biāo)記點(diǎn)比較密集的部位尤其明顯，為了避免標(biāo)記點(diǎn)的序號(hào)發(fā)生錯(cuò)亂而導(dǎo)致的識(shí)別(位置追蹤)錯(cuò)誤進(jìn)而導(dǎo)致解算錯(cuò)誤，因此需要判斷標(biāo)記點(diǎn)的序號(hào)是否發(fā)生錯(cuò)亂，進(jìn)而提高動(dòng)作捕捉精度。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的主要目的在于解決目前由于光學(xué)標(biāo)記點(diǎn)太多，使得標(biāo)記點(diǎn)序號(hào)發(fā)生錯(cuò)亂，進(jìn)而導(dǎo)致解算錯(cuò)誤和動(dòng)作捕捉精度低的技術(shù)問(wèn)題。

本發(fā)明第一方面提供了一種光學(xué)標(biāo)記點(diǎn)序號(hào)誤識(shí)別檢測(cè)，包括：

獲取被捕捉部位同一部位所有光學(xué)標(biāo)記點(diǎn)分別在t₁時(shí)刻圖像中的第一三維位置坐標(biāo)和在t₂時(shí)刻圖像中的第二三維位置坐標(biāo)，其中，所述被捕捉部位為剛體或近似剛體，t₁時(shí)刻為上一時(shí)刻，t₂時(shí)刻為當(dāng)前時(shí)刻；

基于所述第一三維位置坐標(biāo)與所述第二三維位置坐標(biāo)，分別對(duì)應(yīng)生成t₁時(shí)刻所述光學(xué)標(biāo)記點(diǎn)兩兩之間的第一向量集合和t₂時(shí)刻所述光學(xué)標(biāo)記點(diǎn)兩兩之間的第二向量集合；

基于所述第一向量集合與所述第二向量集合，分別對(duì)應(yīng)生成t₁時(shí)刻所述第一向量集合中各向量?jī)蓛芍g的第一向量點(diǎn)積集合和t₂時(shí)刻所述第二向量集合中各向量?jī)蓛芍g的第二向量點(diǎn)積集合，并將所述第一、二向量點(diǎn)積進(jìn)行二值化處理，得到所述t₁時(shí)刻與所述t₂時(shí)刻對(duì)應(yīng)的矩陣M₁、M₂；

根據(jù)所述矩陣M₂與所述矩陣M₁，判斷所述光學(xué)標(biāo)記點(diǎn)是否存在錯(cuò)誤標(biāo)序。

可選的，在本發(fā)明第一方面的第一種實(shí)現(xiàn)方式中，所述將所述第一、二向量點(diǎn)積集合分別記為矩陣M₁、M₂包括：

依次判斷所述第一向量點(diǎn)積集合中各第一向量點(diǎn)積的值是否大于零；若所述第一向量點(diǎn)積的值大于零，則將所述第一向量點(diǎn)積賦值為1，否則賦值為0；將所述第一向量點(diǎn)積進(jìn)行二值化后得到的值作為矩陣元素，得到所述光學(xué)標(biāo)記點(diǎn)在t₁時(shí)刻對(duì)應(yīng)的矩陣M₁；