[發明專利]光學標記點序號誤識別檢測方法、裝置、設備及存儲介質

有效

• 申請號: 202010542826.6
• 申請日: 2020-06-15
• 公開（公告）號: CN111681268B
• 公開（公告）日: 2023-06-02
• 發明（設計）人: 杭建偉;許秋子
• 申請（專利權）人: 深圳市瑞立視多媒體科技有限公司
• 主分類號: G06T7/246
• 分類號: G06T7/246;G06V10/764
• 代理公司: 北京市京大律師事務所 11321
• 代理人: 于亭

1.一種光學標記點序號誤識別檢測方法，應用于光學動作捕捉系統，其特征在于，所述光學標記點序號誤識別檢測方法包括：

獲取被捕捉部位所有光學標記點分別在t₁時刻圖像中的第一三維位置坐標和在t₂時刻圖像中的第二三維位置坐標，其中，所述被捕捉部位為剛體或近似剛體，t₁時刻為上一時刻，t₂時刻為當前時刻；

基于所述第一三維位置坐標與所述第二三維位置坐標，分別對應生成t₁時刻所述光學標記點兩兩之間的第一向量集合和t₂時刻所述光學標記點兩兩之間的第二向量集合；

基于所述第一向量集合與所述第二向量集合，分別對應生成t₁時刻所述第一向量集合中各向量兩兩之間的第一向量點積集合和t₂時刻所述第二向量集合中各向量兩兩之間的第二向量點積集合，并將所述第一、二向量點積進行二值化處理，得到所述t₁時刻與所述t₂時刻對應的矩陣M₁、M₂，其中，所述將所述第一、二向量點積進行二值化處理，得到所述t₁時刻與所述t₂時刻對應的矩陣M₁、M₂包括：依次判斷所述第一向量點積集合中各第一向量點積的值是否大于零，若所述第一向量點積的值大于零，則將所述第一向量點積賦值為1，否則賦值為0，將所述第一向量點積進行二值化后得到的值作為矩陣元素，得到所述光學標記點在t₁時刻對應的矩陣M₁，依次判斷所述第二向量點積集合中各第二向量點積的值是否大于零，若所述第二向量點積的值大于零，則將所述第二向量點積賦值為1，否則賦值為0，將所述第二向量點積進行二值化后得到的值作為矩陣元素，得到所述光學標記點在t₂時刻對應的矩陣M₂；

根據所述矩陣M₂與所述矩陣M₁，判斷所述光學標記點是否存在錯誤標序，其中，所述根據所述矩陣M₂與所述矩陣M₁，判斷所述光學標記點是否存在錯誤標序包括：分別獲取所述矩陣M₁中的元素與所述矩陣M₂中的元素，按照矩陣行列順序，依次判斷所述矩陣M₁中的元素與所述矩陣M₂中的元素是否相同，若相同，則確定所述矩陣M₁與所述矩陣M₂對應被捕捉部位的光學標記點中不存在標序錯誤的光學標記點，否則確定存在。

2.根據權利要求1所述的光學標記點序號誤識別檢測方法，其特征在于，在所述獲取被捕捉部位所有光學標記點分別在t₁時刻圖像中的第一三維位置坐標和在t₂時刻圖像中的第二三維位置坐標之前，還包括：

獲取被捕捉部位表面所有光學標記點的序號信息；

根據預置分類配置，對所述光學標記點序號進行分類，得到分類結果；

基于所述分類結果，得到所述被捕捉部位不同部位對應的光學標記點。