[發明專利]用于檢測EVI1基因相對表達量的方法、引物和探針以及試劑盒

在審

• 申請號: 202010537585.6
• 申請日: 2020-06-12
• 公開（公告）號: CN111733239A
• 公開（公告）日: 2020-10-02
• 發明（設計）人: 裘振亞;李允章;王淑一
• 申請（專利權）人: 杭州艾迪康醫學檢驗中心有限公司
• 主分類號: C12Q1/6886
• 分類號: C12Q1/6886;C12Q1/6851
• 代理公司: 浙江杭州金通專利事務所有限公司 33100
• 代理人: 黃素萍;徐關壽

1.用于檢測EVI1基因相對表達量的引物和探針，其特征在于：所述引物和探針包括：

(1)檢測EVI1基因的上游引物EVI1-F、下游引物EVI1-R和探針EVI1-Probe，其中，

EVI1-F：CCCATGTGCCAGAGGAACTT

EVI1-R：CAGTGACAGCATCATAGCATATGC

EVI1-Probe：FAM-CAGCCGTTACACAGAAAGTCCAAATCGC-TAMRA

(2)檢測內參基因ABL的引物ABL-F，ABL-R，探針ABL-Probe；其中，

ABL-F：GATACGAAGGGAGGGTGTACCA

ABL-R：CTCGGCCAGGGTGTTGAA

ABL-Probe：FAM-TGCTTCTGATGGCAAGCTCTACGTCTCCT-TAMRA。

2.如權利要求1所述的引物和探針，其特征在于EVI1上游引物、下游引物和探針的摩爾比為1:1:1。

3.如權利要求1所述的引物和探針，其特征在于ABL-F:ABL-R:ABL-Probe的摩爾比為1:1:1。

4.一種檢測樣本中EVI1基因相對表達量的方法，所述方法包括以下步驟：

(1)提取樣本中的RNA；

(2)將步驟(1)中的RNA逆轉錄cDNA；

(3)加入(2)中獲得的cDNA到反應管中，利用針對EVI1的上、下游引物EVI1-F和EVI1-R以及探針EVI1-Probe檢測樣本中的EVI1基因的熒光信號；利用針對ABL內參基因的上、下游引物ABL-F和ABL-R以及探針ABL-Probe檢測樣本中的ABL內參基因的熒光信號，其堿基序列如下所示：

EVI1-F：CCCATGTGCCAGAGGAACTT

EVI1-R：CAGTGACAGCATCATAGCATATGC

EVI1-Probe：FAM-CAGCCGTTACACAGAAAGTCCAAATCGC-TAMRA；

ABL-F：GATACGAAGGGAGGGTGTACCA

ABL-R：CTCGGCCAGGGTGTTGAA

ABL-Probe：FAM-TGCTTCTGATGGCAAGCTCTACGTCTCCT-TAMRA。

(4)根據EVI1基因的熒光信號和ABL內參基因的熒光信號，確定樣本中的EVI1基因的相對表達量。

5.一種檢測樣本中EVI1基因相對表達量的試劑盒，所述試劑盒包括檢測體系PCR反應液，其特征在于，所述檢測體系PCR反應液包括：

(1)針對EVI1基因的上游引物EVI1-F、下游引物EVI1-R和探針EVI1-Probe，其堿基序列如下所示：

EVI1-F：CCCATGTGCCAGAGGAACTT

EVI1-R：CAGTGACAGCATCATAGCATATGC

EVI1-Probe：FAM-CAGCCGTTACACAGAAAGTCCAAATCGC-TAMRA；

(2)針對內參基因ABL的上游引物ABL-F、下游引物ABL-R和探針ABL-Probe，其堿基序列如下所示：

ABL-F：GATACGAAGGGAGGGTGTACCA

ABL-R：CTCGGCCAGGGTGTTGAA

ABL-Probe：FAM-TGCTTCTGATGGCAAGCTCTACGTCTCCT-TAMRA。