[發明專利]存儲裝置及其低級格式化方法

有效

• 申請號: 202010536531.8
• 申請日: 2020-06-12
• 公開（公告）號: CN111696598B
• 公開（公告）日: 2022-04-26
• 發明（設計）人: 周宇峰;陳雙喜
• 申請（專利權）人: 合肥沛睿微電子股份有限公司
• 主分類號: G11C7/24
• 分類號: G11C7/24;G11C7/20
• 代理公司: 北京國昊天誠知識產權代理有限公司 11315
• 代理人: 李有財

本發明涉及一種存儲裝置及其低級格式化方法，所述方法包括搜尋所述存儲裝置的多個存儲區塊中，是否已存在一RDT測試結果或一固件儲存信息，所述RDT測試結果及所述固件儲存信息皆包含一擦寫次數紀錄及一寫入太字節紀錄；若不存在有所述RDT測試結果或所述固件儲存信息，則判斷所述擦寫次數紀錄及所述寫入太字節紀錄中，是否有記載一擦寫次數及一寫入太字節；若不存在所述RDT測試結果及所述固件儲存信息，則將所述擦寫次數及所述寫入太字節的值設為0；若有記載所述擦寫次數及所述寫入太字節，則將所記載的擦寫次數及寫入太字節的值寫入所述存儲區塊；以及若未記載所述擦寫次數及所述寫入太字節，則將所述擦寫次數及所述寫入太字節的值設為0。

技術領域

本發明涉及存儲裝置及其低級格式化方法，尤指一種閃存存儲裝置及其低級格式化方法。

背景技術

固態驅動器(Solid State Disk或Solid State Drive，簡稱SSD)俗稱固態硬盤，固態硬盤是用固態電子存儲芯片陣列而制成的硬盤。SSD的P/E(Program-Erase)Cycle指的是SSD中的存儲介質NAND的擦寫次數，而TBW(Terabyte Write，寫入太字節)指的是SSD的整個壽命周期中，總共可供寫入的兆字節的數目。所述兩參數均是衡量SSD壽命的指標。

圖1為現有的SSD系統固件(Whole System Firmware)11由所述存儲區塊131讀取配置文件(config)的示意圖。首先，在SSD進行低級格式化之前，低級格式化固件12會將其內部的一配置文件寫入NAND 13的一個存儲區塊131中，接著系統固件11由所述存儲區塊131讀取該配置文件，該配置文件包含了許多的參數信息，例如低級格式化模式等。由這些參數，可以決定低級格式化要開RDT固件(Reliability and Duration Test Firmware)14(見圖2)或系統固件(Whole System Firmware)11。

圖2為低級格式化開RDT固件14的示意圖。參照圖2及圖4，系統固件(Whole SystemFirmware)11由所述存儲區塊131讀取所述配置文件，并取得低級格式化開RDT固件14的信息(步驟S41)，因此RDT固件14開始對NAND 13中的各個存儲區塊131逐一檢測(步驟S42)，并將測試的結果寫回NAND 13的一存儲區塊131中(步驟S43)。

圖3顯示低級格式化開系統固件(Whole System Firmware)11的示意圖。在此模式中，如圖5所示，系統固件(Whole System Firmware)11仍由所述存儲區塊131讀取所述配置文件，并取得低級格式化開系統固件11的信息(步驟S51)。接著，系統固件11會執行主控器讀取運作(步驟S52a)、主控器寫入運作(步驟S52b)、垃圾收集運作(步驟S52c)等等。在此模式下，系統固件11所讀取的信息將常駐于SRAM內，系統固件11可以隨時修改(更新)其內容，并每隔一段時間將P/E Cycle、TBW信息寫入NAND備份。

圖6顯示現有低級格式化的流程圖，包含判斷低級格式化是開RDT固件14(也就是，進行圖2的模式)或系統固件11(也就是，進行圖3的模式)(步驟S61)、檢查NAND損毀的區塊(步驟S62)、校準數據選取脈沖相位(步驟S63)，以及將相關參數(損毀的區塊、選取到的脈沖相位)更新至固件，并將更新后固件寫入NAND(步驟S64)等等。

此外，在SSD出貨前，會先進行圖2的低級格式化開RDT固件的模式，再進行圖3的開系統固件(Whole System Firmware)的模式。然而，在所述圖2的RDT固件的檢測過程中，對區塊進行檢測需要執行讀取及寫入的動作，因此會破壞原本寫入的數據(如圖2中所示的刪除線)，故所述的P/E Cycle及TBW信息將會消失。如此一來，對于退料審查(ReturnMerchandise Authorization，RMA)的SSD，無法在重新進行低級格式化后，繼承SSD前次的P/E Cycle及TBW信息。