[發明專利]存儲裝置及其低級格式化方法

有效

• 申請號: 202010536531.8
• 申請日: 2020-06-12
• 公開（公告）號: CN111696598B
• 公開（公告）日: 2022-04-26
• 發明（設計）人: 周宇峰;陳雙喜
• 申請（專利權）人: 合肥沛睿微電子股份有限公司
• 主分類號: G11C7/24
• 分類號: G11C7/24;G11C7/20
• 代理公司: 北京國昊天誠知識產權代理有限公司 11315
• 代理人: 李有財

1.一種存儲裝置的低級格式化方法，所述存儲裝置具有多個存儲區塊，其特征在于，包括：

搜尋所述存儲裝置的所述多個存儲區塊中，是否已存在一可靠性及壽命周期測試結果或一固件儲存信息，其中，所述可靠性及壽命周期測試結果包含所述存儲裝置的一擦寫次數紀錄及一寫入太字節紀錄，以及所述固件儲存信息包含所述存儲裝置的所述擦寫次數紀錄及所述寫入太字節紀錄；

若所述存儲裝置的所述多個存儲區塊中存在有所述可靠性及壽命周期測試結果或所述固件儲存信息，則判斷所述擦寫次數紀錄及所述寫入太字節紀錄是否記載所述存儲裝置的擦寫次數及寫入太字節；

若所述存儲裝置的所述多個存儲區塊中不存在所述可靠性及壽命周期測試結果及所述固件儲存信息，則將所述存儲裝置的所述擦寫次數及所述寫入太字節的默認值寫入所述存儲裝置的所述存儲區塊；

若所述擦寫次數紀錄及所述寫入太字節紀錄有記載所述存儲裝置的所述擦寫次數及所述寫入太字節，則將所記載的擦寫次數及寫入太字節的值寫入所述存儲裝置的所述存儲區塊；以及

若所述擦寫次數紀錄及所述寫入太字節紀錄未記載所述存儲裝置的所述擦寫次數及所述寫入太字節，則將所述存儲裝置的所述擦寫次數及所述寫入太字節的默認值寫入所述存儲裝置的所述存儲區塊。

2.如權利要求1所述的存儲裝置的低級格式化方法，其特征在于，另包含確認所述擦寫次數紀錄及所述寫入太字節紀錄的有效性。

3.如權利要求1所述的存儲裝置的低級格式化方法，其特征在于，另包括：

讀取所述存儲裝置的所述存儲區塊；

由所述存儲裝置的所述存儲區塊取得所述擦寫次數紀錄及所述寫入太字節紀錄；以及

將所取得的所述擦寫次數紀錄及所述寫入太字節紀錄整合成為所述可靠性及壽命周期測試結果。

4.如權利要求1所述的存儲裝置的低級格式化方法，其特征在于，在所述存儲裝置的所述多個存儲區塊中，儲存著所述存儲裝置于不同時間點的所述擦寫次數紀錄及所述寫入太字節紀錄，所述方法另包括：

讀取所述存儲裝置的所述存儲區塊；

取得所述存儲裝置的最新時間點的所述擦寫次數紀錄及所述寫入太字節紀錄；以及

將所取得的所述擦寫次數紀錄及所述寫入太字節紀錄寫回所述存儲裝置的所述多個存儲區塊中的一既定存儲區塊，以產生所述固件儲存信息。

5.如權利要求1所述的存儲裝置的低級格式化方法，其特征在于，所述存儲裝置為閃存存儲裝置。

6.如權利要求3所述的存儲裝置的低級格式化方法，其特征在于，在所述擦寫次數紀錄及所述寫入太字節紀錄的取得及寫入的過程中，所述的存儲裝置的低級格式化方法另包含：

測試所述存儲裝置的所述多個存儲區塊；以及

將所述多個存儲區塊的測試結果寫入所述可靠性及壽命周期測試結果內。

7.如權利要求6所述的存儲裝置的低級格式化方法，其特征在于，所述多個存儲區塊的測試結果、所述擦寫次數紀錄及所述寫入太字節紀錄將整合成為所述可靠性及壽命周期測試結果。