[發明專利]一種SSD固態硬盤的trim數據校驗測試方法、裝置及系統

有效

• 申請號: 202010535732.6
• 申請日: 2020-06-12
• 公開（公告）號: CN111737051B
• 公開（公告）日: 2022-07-19
• 發明（設計）人: 鄧京濤
• 申請（專利權）人: 蘇州浪潮智能科技有限公司
• 主分類號: G06F11/14
• 分類號: G06F11/14
• 代理公司: 濟南舜源專利事務所有限公司 37205
• 代理人: 劉雪萍

1.一種SSD固態硬盤的trim數據校驗測試方法，其特征在于，包括以下步驟：

創建trim表，trim表中包含多個記錄位，記錄位的數量與待測SSD固態硬盤的邏輯區塊地址數量相同，一個記錄位對應一個邏輯區塊地址；

對待測SSD固態硬盤下發trim命令時，將trim表中對應記錄位設置為無效標識；對待測SSD固態硬盤下發write命令時，將trim表中對應記錄位設置為有效標識；

所有命令下發完成后，讀取待測SSD固態硬盤各個邏輯區塊地址的數據內容，并驗證trim表中各對應記錄位的標識信息，若所有邏輯區塊地址的數據內容與對應trim表中記錄位的標識信息相符，則待測SSD固態硬盤的trim數據校驗正常。

2.根據權利要求1所述的SSD固態硬盤的trim數據校驗測試方法，其特征在于，trim表為一塊連續的內存空間。

3.根據權利要求2所述的SSD固態硬盤的trim數據校驗測試方法，其特征在于，內存空間的一個bit位為一個記錄位。

4.根據權利要求3所述的SSD固態硬盤的trim數據校驗測試方法，其特征在于，

對待測SSD固態硬盤下發trim命令時，將trim表中對應記錄位設置為無效標識，是指將對應bit位置1；

對待測SSD固態硬盤下發write命令時，將trim表中對應記錄位設置為有效標識，是指將對應bit位置0。

5.根據權利要求1-4任一項所述的SSD固態硬盤的trim數據校驗測試方法，其特征在于，對待測SSD固態硬盤下發命令過程中，對待測SSD固態硬盤所在主機進行掉電、上電操作。

6.根據權利要求5所述的SSD固態硬盤的trim數據校驗測試方法，其特征在于，該方法還包括測試場景搭建過程，所述測試場景搭建過程包括：

將控制機和被控機進行連接，在被控機上安裝待測SSD固態硬盤；

該方法中，在控制機上創建trim表。

7.一種SSD固態硬盤的trim數據校驗測試裝置，其特征在于，包括，

trim表創建模塊：創建trim表，trim表中包含多個記錄位，記錄位的數量與待測SSD固態硬盤的邏輯區塊地址數量相同，一個記錄位對應一個邏輯區塊地址；

標識信息記錄模塊：對待測SSD固態硬盤下發trim命令時，將trim表中對應記錄位設置為無效標識；對待測SSD固態硬盤下發write命令時，將trim表中對應記錄位設置為有效標識；

測試模塊：所有命令下發完成后，讀取待測SSD固態硬盤各個邏輯區塊地址的數據內容，并驗證trim表中各對應記錄位的標識信息，若所有邏輯區塊地址的數據內容與對應trim表中記錄位的標識信息相符，則待測SSD固態硬盤的trim數據校驗正常。

8.根據權利要求7所述的SSD固態硬盤的trim數據校驗測試裝置，其特征在于，trim表創建模塊所創建trim表為一塊連續的內存空間；內存空間的一個bit位為一個記錄位；

標識信息記錄模塊對待測SSD固態硬盤下發trim命令時，將trim表中對應記錄位設置為無效標識，是指將對應bit位設置為1；

標識信息記錄模塊對待測SSD固態硬盤下發write命令時，將trim表中對應記錄位設置為有效標識，是指將對應bit位設置為0。

9.根據權利要求8所述的SSD固態硬盤的trim數據校驗測試裝置，其特征在于，該裝置還包括，

上下電模塊：對待測SSD固態硬盤下發命令過程中，對待測SSD固態硬盤所在主機進行掉電、上電操作。

10.一種SSD固態硬盤的trim數據校驗測試系統，其特征在于，包括控制機和被控機，所述控制機配置有權利要求7-9任一項所述的裝置，待測SSD固態硬盤安裝于所述被控機上。