[發(fā)明專利]一種SSD固態(tài)硬盤的trim數(shù)據(jù)校驗測試方法、裝置及系統(tǒng)

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 202010535732.6
• 申請日: 2020-06-12
• 公開（公告）號: CN111737051B
• 公開（公告）日: 2022-07-19
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 鄧京濤
• 申請（專利權(quán)）人: 蘇州浪潮智能科技有限公司
• 主分類號: G06F11/14
• 分類號: G06F11/14
• 代理公司: 濟南舜源專利事務(wù)所有限公司 37205
• 代理人: 劉雪萍

1.一種SSD固態(tài)硬盤的trim數(shù)據(jù)校驗測試方法，其特征在于，包括以下步驟：

創(chuàng)建trim表，trim表中包含多個記錄位，記錄位的數(shù)量與待測SSD固態(tài)硬盤的邏輯區(qū)塊地址數(shù)量相同，一個記錄位對應(yīng)一個邏輯區(qū)塊地址；

對待測SSD固態(tài)硬盤下發(fā)trim命令時，將trim表中對應(yīng)記錄位設(shè)置為無效標識；對待測SSD固態(tài)硬盤下發(fā)write命令時，將trim表中對應(yīng)記錄位設(shè)置為有效標識；

所有命令下發(fā)完成后，讀取待測SSD固態(tài)硬盤各個邏輯區(qū)塊地址的數(shù)據(jù)內(nèi)容，并驗證trim表中各對應(yīng)記錄位的標識信息，若所有邏輯區(qū)塊地址的數(shù)據(jù)內(nèi)容與對應(yīng)trim表中記錄位的標識信息相符，則待測SSD固態(tài)硬盤的trim數(shù)據(jù)校驗正常。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的SSD固態(tài)硬盤的trim數(shù)據(jù)校驗測試方法，其特征在于，trim表為一塊連續(xù)的內(nèi)存空間。

3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的SSD固態(tài)硬盤的trim數(shù)據(jù)校驗測試方法，其特征在于，內(nèi)存空間的一個bit位為一個記錄位。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的SSD固態(tài)硬盤的trim數(shù)據(jù)校驗測試方法，其特征在于，

對待測SSD固態(tài)硬盤下發(fā)trim命令時，將trim表中對應(yīng)記錄位設(shè)置為無效標識，是指將對應(yīng)bit位置1；

對待測SSD固態(tài)硬盤下發(fā)write命令時，將trim表中對應(yīng)記錄位設(shè)置為有效標識，是指將對應(yīng)bit位置0。

5.根據(jù)權(quán)利要求1-4任一項所述的SSD固態(tài)硬盤的trim數(shù)據(jù)校驗測試方法，其特征在于，對待測SSD固態(tài)硬盤下發(fā)命令過程中，對待測SSD固態(tài)硬盤所在主機進行掉電、上電操作。

6.根據(jù)權(quán)利要求5所述的SSD固態(tài)硬盤的trim數(shù)據(jù)校驗測試方法，其特征在于，該方法還包括測試場景搭建過程，所述測試場景搭建過程包括：

將控制機和被控機進行連接，在被控機上安裝待測SSD固態(tài)硬盤；

該方法中，在控制機上創(chuàng)建trim表。

7.一種SSD固態(tài)硬盤的trim數(shù)據(jù)校驗測試裝置，其特征在于，包括，

trim表創(chuàng)建模塊：創(chuàng)建trim表，trim表中包含多個記錄位，記錄位的數(shù)量與待測SSD固態(tài)硬盤的邏輯區(qū)塊地址數(shù)量相同，一個記錄位對應(yīng)一個邏輯區(qū)塊地址；

標識信息記錄模塊：對待測SSD固態(tài)硬盤下發(fā)trim命令時，將trim表中對應(yīng)記錄位設(shè)置為無效標識；對待測SSD固態(tài)硬盤下發(fā)write命令時，將trim表中對應(yīng)記錄位設(shè)置為有效標識；

測試模塊：所有命令下發(fā)完成后，讀取待測SSD固態(tài)硬盤各個邏輯區(qū)塊地址的數(shù)據(jù)內(nèi)容，并驗證trim表中各對應(yīng)記錄位的標識信息，若所有邏輯區(qū)塊地址的數(shù)據(jù)內(nèi)容與對應(yīng)trim表中記錄位的標識信息相符，則待測SSD固態(tài)硬盤的trim數(shù)據(jù)校驗正常。

8.根據(jù)權(quán)利要求7所述的SSD固態(tài)硬盤的trim數(shù)據(jù)校驗測試裝置，其特征在于，trim表創(chuàng)建模塊所創(chuàng)建trim表為一塊連續(xù)的內(nèi)存空間；內(nèi)存空間的一個bit位為一個記錄位；

標識信息記錄模塊對待測SSD固態(tài)硬盤下發(fā)trim命令時，將trim表中對應(yīng)記錄位設(shè)置為無效標識，是指將對應(yīng)bit位設(shè)置為1；

標識信息記錄模塊對待測SSD固態(tài)硬盤下發(fā)write命令時，將trim表中對應(yīng)記錄位設(shè)置為有效標識，是指將對應(yīng)bit位設(shè)置為0。

9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的SSD固態(tài)硬盤的trim數(shù)據(jù)校驗測試裝置，其特征在于，該裝置還包括，

上下電模塊：對待測SSD固態(tài)硬盤下發(fā)命令過程中，對待測SSD固態(tài)硬盤所在主機進行掉電、上電操作。

10.一種SSD固態(tài)硬盤的trim數(shù)據(jù)校驗測試系統(tǒng)，其特征在于，包括控制機和被控機，所述控制機配置有權(quán)利要求7-9任一項所述的裝置，待測SSD固態(tài)硬盤安裝于所述被控機上。