[發明專利]一種SSD固態硬盤的trim數據校驗測試方法、裝置及系統有效

申請號：	202010535732.6	申請日：	2020-06-12
公開（公告）號：	CN111737051B	公開（公告）日：	2022-07-19
發明（設計）人：	鄧京濤	申請（專利權）人：	蘇州浪潮智能科技有限公司
主分類號：	G06F11/14	分類號：	G06F11/14
代理公司：	濟南舜源專利事務所有限公司 37205	代理人：	劉雪萍
地址：	215100 江蘇省蘇州市吳***	國省代碼：	江蘇;32
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摘要：
搜索關鍵詞：	一種 ssd 固態硬盤 trim 數據校驗測試方法裝置系統
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【說明書】：

本發明公開一種SSD固態硬盤的trim數據校驗測試方法、裝置及系統，創建trim表，trim表中包含多個記錄位，記錄位的數量與待測SSD固態硬盤的邏輯區塊地址數量相同，一個記錄位對應一個邏輯區塊地址；對待測SSD固態硬盤下發trim命令時，將trim表中對應記錄位設置為無效標識；對待測SSD固態硬盤下發write命令時，將trim表中對應記錄位設置為有效標識；所有命令下發完成后，讀取待測SSD固態硬盤各個邏輯區塊地址的數據內容，并驗證trim表中各對應記錄位的標識信息，若所有邏輯區塊地址的數據內容與對應trim表中記錄位的標識信息相符，則待測SSD固態硬盤的trim數據校驗正常。本發明實時記錄SSD固態硬盤中邏輯區塊地址的數據有效性，構建測試用例，使trim數據校驗場景更加全面。

技術領域

本發明涉及SSD固態硬盤測試領域，具體涉及一種SSD固態硬盤的trim數據校驗測試方法、裝置及系統。

背景技術

現在的自動化測試手段，沒有有效的記錄trim過的數據內容，并且也沒有記錄哪些trim過的數據中被寫入了有效數據；這樣帶來的問題是，無法確認數據校驗的有效性；特別是在一些隨機trim+隨機write+上下電（正常或異常）的應用場景中，無法確認trim的數據是否無效，寫過的數據是否數據有效；現在的對SSD固態硬盤的trim數據校驗測試手段無法覆蓋實際應用中的相關場景。

發明內容

為解決上述問題，本發明提供一種SSD固態硬盤的trim數據校驗測試方法、裝置及系統，對隨機trim+隨機write的場景進行數據校驗功能測試，增加SSD固態硬盤的測試用例。

本發明的技術方案是：一種SSD固態硬盤的trim數據校驗測試方法，包括以下步驟：

創建trim表，trim表中包含多個記錄位，記錄位的數量與待測SSD固態硬盤的邏輯區塊地址數量相同，一個記錄位對應一個邏輯區塊地址；

對待測SSD固態硬盤下發trim命令時，將trim表中對應記錄位設置為無效標識；對待測SSD固態硬盤下發write命令時，將trim表中對應記錄位設置為有效標識；

所有命令下發完成后，讀取待測SSD固態硬盤各個邏輯區塊地址的數據內容，并驗證trim表中各對應記錄位的標識信息，若所有邏輯區塊地址的數據內容與對應trim表中記錄位的標識信息相符，則待測SSD固態硬盤的trim數據校驗正常。

進一步地，trim表為一塊連續的內存空間。

進一步地，內存空間的一個bit位為一個記錄位。

進一步地，

對待測SSD固態硬盤下發trim命令時，將trim表中對應記錄位設置為無效標識，是指將對應bit位置1；

對待測SSD固態硬盤下發write命令時，將trim表中對應記錄位設置為有效標識，是指將對應bit位置0。

進一步地，對待測SSD固態硬盤下發命令過程中，對待測SSD固態硬盤所在主機進行掉電、上電操作。