[發明專利]一種硬盤性能測試優化方法及裝置

在審

• 申請號: 202010534655.2
• 申請日: 2020-06-12
• 公開（公告）號: CN111752779A
• 公開（公告）日: 2020-10-09
• 發明（設計）人: 呂楊
• 申請（專利權）人: 蘇州浪潮智能科技有限公司
• 主分類號: G06F11/22
• 分類號: G06F11/22;G06F11/263
• 代理公司: 濟南誠智商標專利事務所有限公司 37105
• 代理人: 李修杰

本發明提出了一種硬盤性能測試優化方法，包括：配置硬盤性能測試環境；對硬盤進行多次寫預熱測試，直至硬盤處于穩定狀態；將不同硬盤性能測試進程對應的CPU進行綁定；設置性能測試參數，利用測試工具進行性能測試，性能測試過程中CPU不斷輪詢硬盤IO讀寫結果；獲取硬盤多次性能測試結果，并對測試結果進行分析，本發明還提出了一種硬盤性能測試優化裝置，有效解決由于測試進程進行時會被系統調配到不同物理核造成性能波動的問題以及硬盤與CPU信號的傳輸鏈路、BIOS與CPU的配置導致硬盤性能測試中測試結果不夠準確的問題，有效的提高了硬盤性能測試的可靠性以及準確性。

技術領域

本發明涉及硬盤測試領域，尤其是涉及一種硬盤性能測試優化方法及裝置。

背景技術

大數據分析逐漸在IT行業成為了一個熱門的話題，傳統存儲系統在大數據應用或者海量數據倉儲的數據挖掘應用的時候都需要很低的時間延遲。為了保證大數據分析業務能正常運行，相應的存儲系統需要足夠快，充分發揮應有的快速性能。

因此在服務器設計生產過程中，對硬盤性能的測試也成為非常重要的一環，在硬盤性能實際測試的過程中，影響到硬盤性能的因素較多一般是硬盤性能測試進程進行時會被系統調配到不同物理核，并且沒有考慮硬盤與CPU信號的傳輸鏈路、bios與CPU的配置等方面問題。

一方面硬盤性能測試進程進行時會被系統調配到不同物理核，就會造成性能的波動問題；另一方面不考慮硬盤與CPU信號的傳輸鏈路、BIOS與CPU的配置等方面問題，會導致硬盤性能測試中測試結果不夠準確的問題，不利于提高硬盤性能測試的準確順利進行。

發明內容

本發明為了解決現有技術中存在的問題，創新提出了一種硬盤性能測試優化方法及裝置，有效解決由于測試進程進行時會被系統調配到不同物理核造成性能波動的問題以及硬盤與CPU信號的傳輸鏈路、BIOS與CPU的配置導致硬盤性能測試中測試結果不夠準確的問題，有效的提高了硬盤性能測試的可靠性以及準確性。

本發明第一方面提供了一種硬盤性能測試優化方法，包括：

配置硬盤性能測試環境；

對硬盤進行多次寫預熱測試，直至硬盤處于穩定狀態；

將不同硬盤性能測試進程對應的CPU進行綁定；

設置性能測試參數，利用測試工具進行性能測試，性能測試過程中CPU不斷輪詢硬盤IO讀寫結果；

獲取硬盤多次性能測試結果，并對測試結果進行分析。

可選地，所述配置硬盤性能測試環境包括：

硬盤通過PCle接口直連CPU；

關閉CPU超線程，在BIOS中禁用C狀態和所有省電模式，關閉Turbo模式；

在OS下，選擇最新的穩定版系統內核；

配置CPU為性能模式；

禁用IRQ中斷服務。

可選地，將不同硬盤性能測試進程對應的CPU進行綁定具體是不同硬盤性能測試進程與對應的CPU中的多個物理核綁定。

可選地，獲取硬盤多次性能測試結果，并對測試結果進行分析具體包括：

獲取硬盤多次性能測試結果，判斷單次性能測試結果中同一性能測試參數在測試過程中的最大值與最小值的差值是否大于第一閾值，如果大于，則此次性能測試穩定性失敗，如果不大于，則此次性能測試穩定性通過。

進一步地，所述第一閾值為硬盤單次性能測試中同一性能測試參數測試過程中的平均值的20％。

可選地，獲取硬盤多次性能測試結果，并對測試結果進行分析具體包括：