[發明專利]一種硬盤性能測試優化方法及裝置

在審

• 申請號: 202010534655.2
• 申請日: 2020-06-12
• 公開（公告）號: CN111752779A
• 公開（公告）日: 2020-10-09
• 發明（設計）人: 呂楊
• 申請（專利權）人: 蘇州浪潮智能科技有限公司
• 主分類號: G06F11/22
• 分類號: G06F11/22;G06F11/263
• 代理公司: 濟南誠智商標專利事務所有限公司 37105
• 代理人: 李修杰

1.一種硬盤性能測試優化方法，其特征是，包括：

配置硬盤性能測試環境；

對硬盤進行多次寫預熱測試，直至硬盤處于穩定狀態；

將不同硬盤性能測試進程對應的CPU進行綁定；

設置性能測試參數，利用測試工具進行性能測試，性能測試過程中CPU不斷輪詢硬盤IO讀寫結果；

獲取硬盤多次性能測試結果，并對測試結果進行分析。

2.根據權利要求1所述的硬盤性能測試優化方法，其特征是，所述配置硬盤性能測試環境包括：

硬盤通過PCle接口直連CPU；

關閉CPU超線程，在BIOS中禁用C狀態和所有省電模式，關閉Turbo模式；

在OS下，選擇最新的穩定版系統內核；

配置CPU為性能模式；

禁用IRQ中斷服務。

3.根據權利要求1所述的硬盤性能測試優化方法，其特征是，將不同硬盤性能測試進程對應的CPU進行綁定具體是不同硬盤性能測試進程與對應的CPU中的多個物理核綁定。

4.根據權利要求1所述的硬盤性能測試優化方法，其特征是，獲取硬盤多次性能測試結果，并對測試結果進行分析具體包括：

獲取硬盤多次性能測試結果，判斷單次性能測試結果中同一性能測試參數在測試過程中的最大值與最小值的差值是否大于第一閾值，如果大于，則此次性能測試穩定性失敗，如果不大于，則此次性能測試穩定性通過。

5.根據權利要求4所述的硬盤性能測試優化方法，其特征是，所述第一閾值為硬盤單次性能測試中同一性能測試參數測試過程中的平均值的20％。

6.根據權利要求4所述的硬盤性能測試優化方法，其特征是，獲取硬盤多次性能測試結果，并對測試結果進行分析具體包括：

獲取硬盤多次性能測試結果，建立穩態值公式：

其中，x為第x次性能測試，為性能測試次數的平均值，y為第x次性能測試的測試結果，為多次性能測試的測試結果的平均值，slope(y)為第x次穩態值，判斷slope(y)的最大值與最小值的差值是否大于第二閾值，如果大于，則多次性能測試穩定性失敗，如果不大于，則多次性能測試穩定性通過。

7.根據權利要求6所述的硬盤性能測試優化方法，其特征是，所述第二閾值為硬盤多次性能測試中穩態值slope(y)的平均值的10％。

8.一種硬盤性能測試優化裝置，其特征是，包括：

配置模塊，配置硬盤性能測試環境；

寫預熱模塊，對硬盤進行多次寫預熱測試，直至硬盤處于穩定狀態；

綁定模塊，將不同硬盤性能測試進程對應的CPU進行綁定；

測試模塊，設置性能測試參數，利用測試工具進行性能測試，性能測試過程中CPU不斷輪詢硬盤IO讀寫結果；

獲取分析模塊，獲取硬盤多次性能測試結果，并對測試結果進行分析。

9.根據權利要求8所述的硬盤性能測試優化裝置，其特征是，獲取分析模塊包括：

第一獲取分析子模塊，獲取硬盤多次性能測試結果，判斷單次性能測試結果中同一性能測試參數在測試過程中的最大值與最小值的差值是否大于第一閾值，如果大于，則此次性能測試穩定性失敗，如果不大于，則此次性能測試穩定性通過。

10.根據權利要求9所述的硬盤性能測試優化裝置，其特征是，獲取分析模塊還包括：

第二獲取分析子模塊，獲取硬盤多次性能測試結果，建立穩態值公式：

其中，x為第x次性能測試，為性能測試次數的平均值，y為第x次性能測試的測試結果，為多次性能測試的測試結果的平均值，slope(y)為第x次穩態值，判斷slope(y)的最大值與最小值的差值是否大于第二閾值，如果大于，則硬盤多次性能測試穩定性失敗，如果不大于，則硬盤多次性能測試穩定性通過。