[發(fā)明專利]薄膜電阻層制備方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202010533987.9 | 申請(qǐng)日: | 2020-06-12 |
| 公開(公告)號(hào): | CN113445012A | 公開(公告)日: | 2021-09-28 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 邱正中;盧契佑 | 申請(qǐng)(專利權(quán))人: | 光頡科技股份有限公司 |
| 主分類號(hào): | C23C14/35 | 分類號(hào): | C23C14/35;C23C14/08;C23C14/06;C23C14/58 |
| 代理公司: | 北京三友知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限公司 11127 | 代理人: | 姚亮;張德斌 |
| 地址: | 中國(guó)臺(tái)*** | 國(guó)省代碼: | 臺(tái)灣;71 |
| 權(quán)利要求書: | 查看更多 | 說(shuō)明書: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 薄膜 電阻 制備 方法 | ||
本發(fā)明提供一種薄膜電阻層制備方法。該方法利用磁控濺鍍方法于基板表面形成氮化鉭層,再形成五氧化二鉭層于氮化鉭層上,最后經(jīng)退火處理以得到具低電阻值變化率的薄膜電阻層。
技術(shù)領(lǐng)域
本發(fā)明是關(guān)于一種薄膜電阻層制備方法,特別有關(guān)一種具穩(wěn)定電阻值的薄膜電阻層制備方法。
背景技術(shù)
一般反應(yīng)式直流濺鍍方式,是將反應(yīng)性氣體與濺射粒子在基材表面進(jìn)行反應(yīng)。而鍍膜的成分與反應(yīng)性氣體分壓有關(guān),分壓過(guò)低造成反應(yīng)物不足;反之,使得反應(yīng)性氣體不能與濺射粒子完全反應(yīng),導(dǎo)致殘留氣體與靶材表面發(fā)生反應(yīng)形成化合物,而被化合物包覆的靶材則會(huì)降低濺射產(chǎn)率,稱為靶中毒(target poisoning)。
另外,隨著電子工業(yè)技術(shù)水平的進(jìn)步以及精密電子設(shè)備長(zhǎng)時(shí)間運(yùn)作的需求,對(duì)于電阻組件的電阻值穩(wěn)定性亦有進(jìn)一步的要求。
發(fā)明內(nèi)容
本發(fā)明提供一種薄膜電阻層制備方法,利用磁控濺鍍方法于基板表面形成氮化鉭層,再形成五氧化二鉭層于氮化鉭層上以得到具穩(wěn)定電阻值的薄膜電阻層。此方法所形成的薄膜電阻層具有良好的附著性、致密度高、薄膜厚度均勻、沉積速度快等優(yōu)點(diǎn),以及可解決一般反應(yīng)式直流濺鍍方式造成的靶中毒現(xiàn)象。
附圖說(shuō)明
圖1為本發(fā)明薄膜電阻層制備流程圖。
圖2為本發(fā)明薄膜電阻的側(cè)剖面示意圖。
主要附圖標(biāo)號(hào)說(shuō)明:
10薄膜電阻,11基板,12電極,13氮化鉭層,14五氧化二鉭層,15保護(hù)層,16電阻層,S101-S107步驟。
具體實(shí)施方式
以下將詳述本發(fā)明的各實(shí)施例,并配合圖式作為例示,以利讀者具有較佳的理解。除了這些詳細(xì)說(shuō)明的外,本發(fā)明亦可廣泛地施行于其它的實(shí)施例中,任何所述實(shí)施例的輕易替代、修改、等效變化都應(yīng)理解被包含在本發(fā)明的范圍內(nèi),專利范圍的界定應(yīng)以權(quán)利要求書為準(zhǔn)。特別注意的是,圖式僅為示意之用,并非代表組件實(shí)際的尺寸或數(shù)量,有些細(xì)節(jié)可能未完全繪出,以求圖式的簡(jiǎn)潔。
請(qǐng)參考圖1,為本發(fā)明薄膜電阻層制備流程圖。首先,準(zhǔn)備鉭(Ta)靶材及基板于腔體內(nèi),如步驟S101所示,其中鉭靶材純度大于99.99wt%;將所述腔體抽真空,使處于真空狀態(tài),如步驟S102所示;通入氮?dú)庵燎惑w,如步驟S103所示;于基板表面以脈沖直流磁控濺鍍(Impulse DC magnetron sputtering)氮化鉭(TaN)層,如步驟S104所示;通入氧氣至腔體,如步驟S105所示;于氮化鉭層表面以脈沖直流磁控濺鍍五氧化二鉭(Ta2O5)層,以得到半成品薄膜電阻層,如步驟S106所示;最后,將半成品薄膜電阻層于150-750℃環(huán)境下,退火(Annealing)處理5分鐘至24小時(shí),以得到薄膜電阻層,所述薄膜電阻的電阻溫度系數(shù)(TCR)為0±3ppm/℃,如步驟S107所示。在一些實(shí)施例中,前述通入氮?dú)庖源趴貫R鍍形成氮化鉭層及通入氧氣以磁控濺鍍形成五氧化二鉭層的步驟,可在不同且獨(dú)立或不同且相連接的腔體進(jìn)行。
在通入氮?dú)饧把鯕庵燎惑w的步驟中,可同時(shí)通入非反應(yīng)性氣體至腔體,如氬氣或其同族元素氣體等。在此實(shí)施例中,氮?dú)馀c氬氣比例為1:4-1:999,以及氧氣與氬氣比例為1:1.5-1:999。
在脈沖直流磁控濺鍍步驟中,氮化鉭層及五氧化二鉭層的濺鍍溫度為100-450℃、濺鍍功率為0.25-2.5千瓦(kW)及濺鍍時(shí)間為5-50分鐘,其中濺鍍溫度較佳為200±2℃。
接著參考圖2,為本發(fā)明薄膜電阻的側(cè)剖面示意圖。在此實(shí)施例中,薄膜電阻10包含基板11、氮化鉭層13、五氧化二鉭層14及二電極12,其中氮化鉭層13及五氧化二鉭層14作為電阻層16,以及氮化鉭層13及五氧化二鉭層14是由上述制備流程取得。
該專利技術(shù)資料僅供研究查看技術(shù)是否侵權(quán)等信息,商用須獲得專利權(quán)人授權(quán)。該專利全部權(quán)利屬于光頡科技股份有限公司,未經(jīng)光頡科技股份有限公司許可,擅自商用是侵權(quán)行為。如果您想購(gòu)買此專利、獲得商業(yè)授權(quán)和技術(shù)合作,請(qǐng)聯(lián)系【客服】
本文鏈接:http://www.szxzyx.cn/pat/books/202010533987.9/2.html,轉(zhuǎn)載請(qǐng)聲明來(lái)源鉆瓜專利網(wǎng)。
- 同類專利
- 專利分類
C23C 對(duì)金屬材料的鍍覆;用金屬材料對(duì)材料的鍍覆;表面擴(kuò)散法,化學(xué)轉(zhuǎn)化或置換法的金屬材料表面處理;真空蒸發(fā)法、濺射法、離子注入法或化學(xué)氣相沉積法的一般鍍覆
C23C14-00 通過(guò)覆層形成材料的真空蒸發(fā)、濺射或離子注入進(jìn)行鍍覆
C23C14-02 .待鍍材料的預(yù)處理
C23C14-04 .局部表面上的鍍覆,例如使用掩蔽物
C23C14-06 .以鍍層材料為特征的
C23C14-22 .以鍍覆工藝為特征的
C23C14-58 .后處理
- 一種數(shù)據(jù)庫(kù)讀寫分離的方法和裝置
- 一種手機(jī)動(dòng)漫人物及背景創(chuàng)作方法
- 一種通訊綜合測(cè)試終端的測(cè)試方法
- 一種服裝用人體測(cè)量基準(zhǔn)點(diǎn)的獲取方法
- 系統(tǒng)升級(jí)方法及裝置
- 用于虛擬和接口方法調(diào)用的裝置和方法
- 線程狀態(tài)監(jiān)控方法、裝置、計(jì)算機(jī)設(shè)備和存儲(chǔ)介質(zhì)
- 一種JAVA智能卡及其虛擬機(jī)組件優(yōu)化方法
- 檢測(cè)程序中方法耗時(shí)的方法、裝置及存儲(chǔ)介質(zhì)
- 函數(shù)的執(zhí)行方法、裝置、設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)





