[發明專利]一種簡易的場均勻性測試裝置及其測試方法

有效

• 申請號: 202010530764.7
• 申請日: 2020-06-11
• 公開（公告）號: CN111551794B
• 公開（公告）日: 2022-06-28
• 發明（設計）人: 熊久良;黃劉宏;李躍波;張耀輝;楊杰;何為;潘征
• 申請（專利權）人: 中國人民解放軍軍事科學院國防工程研究院工程防護研究所
• 主分類號: G01R29/08
• 分類號: G01R29/08;G01R1/04
• 代理公司: 石家莊輕拓知識產權代理事務所(普通合伙) 13128
• 代理人: 黃輝本

本發明公開了一種簡易的場均勻性測試裝置及其測試方法，測試裝置包括一對固定夾具、探頭以及四個定滑輪，由定滑輪支撐牽引線，帶動探頭在輻射天線的支撐架下方移動，實現對場均勻性測試。本發明中試裝置配套材料易于獲取，費用低廉，避免了外加動力的需求，并避免了測試裝置自身對外界電磁環境的影響，調試安裝方便，易于拆卸、組裝和放置，對輻射場空間無限制，適用性強；基于該測試設備的測試方法，科學合理，步驟清晰，操作性強。

技術領域

本發明涉及一種簡易的場均勻性測試裝置及其測試方法，屬于電磁環境測試技術領域。

背景技術

為有效模擬電磁環境，通常需要建立相應指標的模擬器。模擬器輻射場環境是否滿足試驗需求，需要進行前期的測試和校準。其中，場均勻性測試是模擬器輻射場環境指標確定和試驗的前提。目前，國內外對場均勻性測試都有相應的測試標準，通常采用同一垂直平面內的9點或16點測試位置的測試結果評價輻射場均勻性。

為準確評價場均勻性，對場均勻性測試設備和方法提出了較高的要求。首先，測試設備在輻射場區應盡量減小設備自身對場環境的影響，這就要求設備為非金屬，且對場的影響盡量小；其次，不論采用幾個測試點進行測試，都需要保證各個測試點測試結果的準確性，并且后續均勻性評價時也需要采用一定的數據處理方法以減小評估誤差。為解決以上問題，多項專利在場均勻性測試設備或校準方法方面開展了研究。

專利《一種測試天線輻射場均勻性的自動測試裝置，申請號CN201720652440.4》提出了一種測試天線輻射場均勻性的自動測試裝置，利用可伸縮的定位桿調整測試距離，將測試探頭固定在定位桿上。在測試截面上設置有若干個用于測試的探頭，其中中心探頭與發射天線處于同一軸線，其他每一個探頭沿著測試截面的軸向可以移動，使得探頭的測試位置變化，從而實現不同位置場的測試。專利《場均勻性校準支架，申請號CN201720774643.0》提出了一種場均勻性校準支架，通過設置不同的支桿插槽和探頭連接槽改變測試位置，每測試一個測試點只需要將場強探頭連接于對應的探頭連接槽。這種裝置定位準確，減少了定位和測試的時間，減少了測量的不確定性因素，提高了測試的可重復性，提高了測試效率。專利《具有場均勻性功能的測試架，申請號CN201210456015.X》提出了一種具有場均勻性功能的測試架，通過在多個橫向連接結構上設有用于測量的場強探頭進行同時測試，其測試架拆分成幾個部分，便于攜帶，組裝后形成一個面，測試過程中測試架不再移動，能精確的完成測試要求，同時節省測試時間。專利《用于快速校準瞬變電磁場場均勻性的新型系統，申請號CN201220430226.1》提出了一種用于快速校準瞬變電磁場場均勻性的新型系統，不僅能夠用于支撐和固定探頭，而且能夠用于調節探頭的位置和角度，對瞬變電磁場場均勻性的校準速度明顯加快，對探頭的位置和角度的調整精度高。專利《瞬變電磁場的場均勻性的校準方法，申請號CN201210209542.0》提出了一種瞬變電磁場的場均勻性的校準方法，通過選定一個參考點和多個測量點，測試計算測量點的歸一化場強值，從而得到場均勻性評價指標。

以上多項公開專利中提出的場均勻性測試裝置或方法都在一定程度上解決了前述的兩個問題，提高了測試準確度。然而在實際使用過程中還存在以下幾個方面的問題：

（1）目前提出的場均勻性測試裝置一般為可移動可伸縮的天線支架，涉及固定桿、移動桿、伸縮桿、定位環、轉盤等輔助設備，結構復雜，且各個輔助設備的調整一般都需要前期計算好相應的測試位置并配套調整，保證各個輔助設備處于規定位置，調整起來也較為繁瑣；

（2）由于結構復雜，前期的設備加工和安裝費時費力，并且費用也較高；

（3）考慮到盡量減小測試設備自身對場環境的影響，多數專利中提供的測試設備一般為尼龍或聚四氟乙烯材料。但實際上即使采用上述材料，其材料本身對輻射場環境也有一定的影響，特別是在室外測試中，由于環境影響若導致測試設備出現潮濕等現象時，測試設備對輻射場的影響更為嚴重和明顯；