[發(fā)明專利]一種簡易的場均勻性測試裝置及其測試方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 202010530764.7
• 申請日: 2020-06-11
• 公開（公告）號: CN111551794B
• 公開（公告）日: 2022-06-28
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 熊久良;黃劉宏;李躍波;張耀輝;楊杰;何為;潘征
• 申請（專利權(quán)）人: 中國人民解放軍軍事科學院國防工程研究院工程防護研究所
• 主分類號: G01R29/08
• 分類號: G01R29/08;G01R1/04
• 代理公司: 石家莊輕拓知識產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 13128
• 代理人: 黃輝本

1.一種簡易的場均勻性測試裝置，其特征在于包括一對固定夾具（1）、探頭（6）以及四個定滑輪（2），其中兩個定滑輪（2）分別固定于一對固定夾具（1）上，另外兩個定滑輪（2）分別通過兩個固定柱（4）與地面（15）固定，一對所述固定夾具（1）設(shè)置于輻射天線支撐架上，四個所述定滑輪（2）由牽引線（3）依次穿過，牽引線（3）兩端由靠近地面的兩個定滑輪（2）緊固繃緊，位于固定夾具（1）上兩個定滑輪（2）之間的牽引線（3）中段通過定滑輪固定線（8）懸掛小定滑輪（18），所述小定滑輪（18）由托盤牽引線（9）穿過，托盤牽引線（9）一端懸掛探頭托盤（5），另一端通過一個單獨的固定柱（4）與地面（15）固定，所述探頭托盤（5）內(nèi)中心位置設(shè)置探頭（6）；所述輻射天線支撐架上設(shè)置多組所述測試裝置，測試裝置中的牽引線（3）布置方向與輻射天線（13）垂直，且牽引線（3）帶動探頭（6）在輻射天線支撐架間沿著牽引線（3）無障礙移動。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的一種簡易的場均勻性測試裝置，其特征在于所述固定夾具（1）為空心半圓柱形的兩片尼龍板對稱扣合而成，形成的空心圓柱與輻射天線支撐架固定，所述尼龍板的下端通過固定螺絲（16）以及定滑輪支撐板（17）與定滑輪（2）連接。

3.一種場均勻性測試測試方法，其特征在于所述測試方法基于權(quán)利要求1所述的測試裝置，包括如下步驟：

步驟（1），對模擬器輻射場環(huán)境進行模擬，初步確定均勻區(qū)域大??；

步驟（2），考慮輻射場模擬器結(jié)構(gòu)對稱性、均勻區(qū)域分布一般規(guī)律和步驟（1）中的仿真結(jié)果，實際測試中以平行段正中心為中心點劃定立方體區(qū)域，并以沿輻射場傳播方向為對稱面，擬定預測試點位置，并考慮測試裝置的移動方便性，對測試點位置進行順序編號；

步驟（3），安裝三組場均勻性測試裝置，一組安裝在中心位置，一探頭固定放置在立方體區(qū)域中心，第二組安裝在立方體區(qū)域前方平面，第三組安裝在立方體區(qū)域后方平面；

步驟（4）按照步驟（2）中預定的測試點位置，將步驟（3）中對應的立方體區(qū)域前方平面一組測試裝置的探頭置于探頭托盤中，通過調(diào)整牽引線以調(diào)整探頭在寬度方向的位置，通過調(diào)整托盤牽引線以調(diào)整探頭在高度方向的位置，最終完成此平面內(nèi)所有擬測試點位置的場強；

步驟（5）將步驟（3）中對應的立方體區(qū)域中心位置平面一組測試裝置的探頭置于探頭托盤中，采用步驟（4）相同的方法完成此平面內(nèi)所有擬測試位置的場強；

步驟（6）將步驟（3）中對應的立方體區(qū)域后方平面一組測試裝置的探頭置于探頭托盤中，采用步驟（4）相同的方法完成此平面內(nèi)所有擬測試位置的場強；

步驟（7），綜合比較分析步驟（4）~（6）所記錄下的試驗數(shù)據(jù)，分析確定輻射場均勻性能。

4.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種場均勻性測試測試方法，其特征在于所述步驟（3）中，固定放置在立方體區(qū)域中心的探頭整個測試過程中位置不移動，作為標準測試結(jié)果。

5.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種場均勻性測試測試方法，其特征在于所述步驟（4）~（6）中，每個測試位置的重復試驗次數(shù)不得少于3次。

6.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種場均勻性測試測試方法，其特征在于所述步驟（4）-（6）中，每個測試位置的場值以多次重復試驗結(jié)果的平均值作為該測試位置的實測值。

7.根據(jù)權(quán)利要求3所述的一種場均勻性測試測試方法，其特征在于所述步驟（7）中，最終輻射場均勻性以不均勻度來表征，不均勻度計算時以測試區(qū)域內(nèi)所有測試位置的平均值為參考，計算各個測試值與平均值偏差，計算公式為，為測試區(qū)域的平均值，為測試值，以計算得到的所有偏差的最高值作為測試區(qū)域場不均勻度。