[發明專利]電流檢測裝置及電流檢測裝置的制造方法

在審

• 申請號: 202010523352.0
• 申請日: 2020-06-10
• 公開（公告）號: CN112114181A
• 公開（公告）日: 2020-12-22
• 發明（設計）人: 古川晃;秋田健一;佐佐木大輔
• 申請（專利權）人: 三菱電機株式會社
• 主分類號: G01R19/00
• 分類號: G01R19/00;G01R15/20;G01R3/00
• 代理公司: 上海專利商標事務所有限公司 31100
• 代理人: 陳力奕;宋俊寅

本發明的電流檢測裝置具有與通向交流旋轉電機的2n相各繞組的各電流路徑分別相對配置的磁性傳感器，n為3的倍數，設各繞組的電流的振幅都相同，將各磁性傳感器所獲得的2n個檢測電流dq轉換成兩軸坐標系，對以該dq轉換后的電流來表達的d軸和電流及q軸和電流各自的直流分量和交流分量分別按由互不相同的相位的正弦函數所表示的各項來進行匯總并進行表達，此時，在2n個各電流路徑配置位置上，將各電流路徑配置成通過將至少一個項中所包含的系數相抵消來抑制誤差分量或通過多項的值的抵消來抑制誤差分量的位置關系。

技術領域

本申請涉及電流檢測裝置。

背景技術

例如，在利用了對具有兩組三相繞組的交流旋轉電機的各相繞組的電流進行檢測的磁性傳感器的電流檢測裝置中，包含因其它相的電流所產生的磁場作為干擾磁場而混入各繞組的磁性傳感器中所導致的電流檢測誤差。提出了各種用于降低該誤差的結構。

專利文獻1所記載的電流檢測裝置以第1相對部和第2相對部的電流方向相反的方式配置第1磁性傳感器和第2磁性傳感器，來降低因干擾磁場所產生的電流檢測誤差。專利文獻2所記載的電流檢測裝置通過使與因其它相而受到影響的磁通的大小對應的校正電流流入校正導體，來降低因相鄰的其它相的磁通的影響所造成的電流檢測誤差。

現有技術文獻

專利文獻

專利文獻1：日本專利特開2018-96795號公報

專利文獻2：國際公開第2017/187813號

發明內容

發明所要解決的技術問題

專利文獻1所記載的電流檢測裝置需要兩個磁性傳感器以用于檢測1相的電流。例如，若為兩組三相電動機的情況，則需要12個磁性傳感器，因此與由1個檢測元件檢測各相的情況相比需要較多空間。

另外，專利文獻2所記載的電流檢測裝置需要用于使校正電流流動的校正導體，因此在需要較多空間的基礎上，與未安裝校正導體的情況相比溫度因校正導體的發熱而變得容易上升。為了在部件的容許溫度內使用，由于要抑制溫度上升因此在高溫時要限制電流量。對于在發熱嚴重的環境下使用的情況，根據校正導體的發熱而需要較早施加輸出轉矩的限制。

本申請公開了用于解決上述問題點的技術，其目的在于提供一種無需較多空間且電流檢測誤差較小的電流檢測裝置。

解決技術問題所采用的技術方案

本申請所公開的電流檢測裝置具有磁性傳感器，該磁性傳感器與通向交流旋轉電機的2n相(n為3的倍數)的各繞組的各電流路徑分別相對配置，所述電流檢測裝置中，由與k相的電流路徑相對配置的磁性傳感器來進行檢測的檢測電流i_ks通過2n相中第l相即l相(l＝1～2n)電流I_l、及l相的電流路徑與相對配置于2n相中第k相即k相(k＝1～2n)的電流路徑的磁性傳感器之間的耦合系數a_{l_k}來表達，設I_l的振幅都相同，將以所述檢測電流i_ks的公式

來表達的2n個檢測電流i_ks dq轉換成兩軸坐標系，對以該dq轉換后的電流來表達的d軸和電流及q軸和電流各自的直流分量和交流分量分別按由互不相同的相位的正弦函數所表示的各項來進行匯總并進行表達，

此時，在2n個各電流路徑配置位置上，將分別相對配置有磁性傳感器的電流路徑配置成滿足以下兩個條件中的至少一個條件的位置關系，即：通過在至少一個項中將該一個項中所包含的l≠k的多個系數a_{l_k}相互抵消來抑制成為誤差分量的項的振幅；以及

通過各個所述正弦函數的相位不同的多個項的值的相互抵消來抑制所述誤差分量。