[發明專利]基于氧化損傷堿基的熒光探針及用于直接檢測DNA甲基化的試劑盒與方法有效
| 申請號: | 202010518312.7 | 申請日: | 2020-06-09 |
| 公開(公告)號: | CN111778316B | 公開(公告)日: | 2022-12-27 |
| 發明(設計)人: | 張春陽;張艷;李琛琛 | 申請(專利權)人: | 山東師范大學 |
| 主分類號: | C12Q1/6827 | 分類號: | C12Q1/6827;C12Q1/682;C12Q1/6886;C12N15/11 |
| 代理公司: | 濟南圣達知識產權代理有限公司 37221 | 代理人: | 鄭平 |
| 地址: | 250014 山*** | 國省代碼: | 山東;37 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 基于 氧化 損傷 堿基 熒光 探針 用于 直接 檢測 dna 甲基化 試劑盒 方法 | ||
1.一種非疾病診斷目的的直接檢測DNA甲基化的方法,其特征在于,包括:
亞硫酸氫鹽處理要檢測的靶DNA;
將熒光探針與亞硫酸氫鹽處理過的DNA雜交,形成雙鏈DNA;
所述雙鏈DNA在hOGG1酶的輔助下誘導熒光探針的循環裂解;
檢測熒光信號,對DNA甲基化進行定性/定量分析;
所述熒光探針的序列為:ROX-ATC C
2.如權利要求1所述的直接檢測DNA甲基化的方法,其特征在于,甲基化DNA的濃度為10-13M至10-9M范圍內和2×10-9M至10-7M范圍內,熒光強度與甲基化DNA的濃度對數線性關系。
3.如權利要求1所述的直接檢測DNA甲基化的方法,其特征在于,甲基化DNA的濃度在10-13M至10-9M范圍內時,回歸方程為F=1466+101.7log10C,F是605nm處的熒光強度,C是甲基化DNA濃度。
4.如權利要求1所述的直接檢測DNA甲基化的方法,其特征在于,甲基化DNA的濃度在2×10-9M至10-7M范圍內時,回歸方程為F=12506+1367log10C,F是605nm處的熒光強度,C是甲基化DNA濃度。
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