[發明專利]一種分布式線束測試裝置及其方法

在審

• 申請號: 202010516252.5
• 申請日: 2020-06-09
• 公開（公告）號: CN111537918A
• 公開（公告）日: 2020-08-14
• 發明（設計）人: 王家斌
• 申請（專利權）人: 上海贊太科技有限公司
• 主分類號: G01R31/58
• 分類號: G01R31/58;G01R31/54
• 代理公司: 北京中濟緯天專利代理有限公司 11429
• 代理人: 季永康

本發明提供的分布式線束測試裝置及其方法，其中裝置包括：測試節點陣列，其包括若干測試節點，測試節點包括微處理器、信號發生單元、信號采樣單元和若干測試端子，該信號采樣單元的信號采集端連接到所有測試端子，每個測試端子都連接有一個選擇開關，信號發生單元包括多個信號發生設備，信號發生設備的信號輸出端連接至所有選擇開關的選擇端上，選擇開關的選擇端與信號發生設備連接，信號發生單元、信號采樣單元和選擇開關都連接至微處理器；所有測試節點共用全局公共線，所有測試節點中分別設置有內部公共線，單個測試節點中，測試端子可通過選擇開關連接到內部公共線上；控制系統，向測試節點發送命令信號，并接收測試節點發送的采集信號。

技術領域

本發明涉及線路檢測領域，具體涉及一種分布式線束測試裝置及其方法。

背景技術

在汽車、航空、工業控制等領域，大量使用到各種型號的線束，線束的連接正確性以及線束中的功能元件參數正確性關系到一個系統能否可靠的工作。

線束測試是對系統中連接各電氣部件的接線部件及線束中包含的電阻、電容、二極管等功能元件進行測試，一般需要測量線束的導通、功能元件參數等。

傳統的線束測試裝置采用多個接線母板級聯的方式，由接線母板、線束接插件、測試電路和方法組成集成式的測試裝置。待測線束通過多個線束接插件轉換后，線束按照接插件分組排列，依次連接到接線母板的IO陣列上。IO陣列的引腳數目一般為128個。多個接線母板的IO陣列級聯在一起，組成更大規模的IO陣列。

傳統的方式通過人工組裝線束。組裝過程中需要查找IO陣列上的引腳位置和線束接插件之間的對應關系。安裝過程費時費力，容易出錯，嚴重影響生產效率。傳統的線束測試方法基于傳統的線束測試電路，通過測試電路對IO陣列進行串行掃描，逐一建立線束接插件在測試算法中的對應關系。該過程也是費時費力，容易出錯，嚴重影響生產效率。

發明內容

本發明的主要目的在于提供一種分布式線束測試裝置及其方法，以解決線束測試安裝費時費力，以及測試過程復雜的問題。

為了實現上述目的，根據本發明的一個方面，該分布式線束測試裝置，包括：

測試節點陣列，其包括若干測試節點，所述測試節點包括微處理器、信號發生單元、信號采樣單元和若干測試端子，所述的信號采樣單元的信號采集端連接到所有測試端子，每個測試端子都連接有一個選擇開關，信號發生單元包括多個信號發生設備，信號發生設備的信號輸出端連接至所有選擇開關的選擇端上，選擇開關的一個選擇端上最多連接一個信號發生設備，所述信號發生單元、信號采樣單元和選擇開關都連接至微處理器；

公共線，包括全局公共線和內部公共線，所有測試節點共用全局公共線，所有測試節點中分別設置有內部公共線，單個測試節點中，測試端子可通過選擇開關連接到內部公共線上；

控制系統，向測試節點發送命令信號，并接收測試節點發送的采集信號。

通過將測試節點按陣列布置，每個測試節點結構相同，測試節點中每個測試端子結構相同，所以待測線束按順序接在測試端子上，只需要通過轉換不同的信號發生設備，即可對線束進行測試。

上述線束順序安裝在測試端子上，是指線束進行拓撲，線束一般將各點進行編號，各點按編號順序接入測試端子上，并且測試端子的接線優先級也有設定，首先測試節點組成的矩陣中，按先列后排的方式，即從第一列第一排開始，依次第一列第一排、第一列第二排，依次類推第一列中測試節點中所有測試端子使用完畢后，就使用第二列，規則同上，一直至最后一列。而測試節點中的測試端子使用優先級是，測試節點中的測試端子一般是32個，或者64個，將測試端子按編號0-31，或者0-63，使用時也按照編號順序即可。

進一步，上述信號發生單元包括模擬信號發生設備、基準電壓發生設備和接地信號設備，模擬信號發生設備輸入端連接微處理器，基準電壓發生設備的控制端連接至微處理器。