[發(fā)明專利]一種分布式線束測試裝置及其方法

在審

• 申請?zhí)枺?/td>: 202010516252.5
• 申請日: 2020-06-09
• 公開（公告）號: CN111537918A
• 公開（公告）日: 2020-08-14
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 王家斌
• 申請（專利權(quán)）人: 上海贊太科技有限公司
• 主分類號: G01R31/58
• 分類號: G01R31/58;G01R31/54
• 代理公司: 北京中濟(jì)緯天專利代理有限公司 11429
• 代理人: 季永康

1.一種分布式線束測試裝置，其特征在于，包括：測試節(jié)點陣列，其包括若干測試節(jié)點，所述測試節(jié)點包括微處理器、信號發(fā)生單元、信號采樣單元和若干測試端子，所述的信號采樣單元的信號采集端連接到所有測試端子，各測試端子皆與選擇開關(guān)連接，信號發(fā)生單元包括多個信號發(fā)生設(shè)備，信號發(fā)生設(shè)備的信號輸出端連接至所有選擇開關(guān)的選擇端上，選擇開關(guān)的一個選擇端上最多連接一個信號發(fā)生設(shè)備，所述信號發(fā)生單元、信號采樣單元和選擇開關(guān)皆連接至微處理器；

公共線，包括全局公共線和內(nèi)部公共線，所有測試節(jié)點共用全局公共線，所有測試節(jié)點中分別設(shè)置有內(nèi)部公共線，單個測試節(jié)點中，測試端子可通過選擇開關(guān)連接到內(nèi)部公共線上；

控制系統(tǒng)，向測試節(jié)點發(fā)送命令信號，并接收測試節(jié)點發(fā)送的采集信號。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的分布式線束測試裝置，其特征在于，所述信號發(fā)生單元包括模擬信號發(fā)生設(shè)備、基準(zhǔn)電壓發(fā)生設(shè)備和接地信號設(shè)備，模擬信號發(fā)生設(shè)備輸入端連接微處理器，基準(zhǔn)電壓發(fā)生設(shè)備的控制端連接至微處理器。

3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的分布式線束測試裝置，其特征在于，所述模擬信號發(fā)生設(shè)備為數(shù)模轉(zhuǎn)換器。

4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的分布式線束測試裝置，其特征在于，所述的測試端子和選擇開關(guān)之間設(shè)有限流電阻。

5.根據(jù)權(quán)利要求1所述的分布式線束測試裝置，其特征在于，所述采樣單元為模數(shù)轉(zhuǎn)換器。

6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的分布式線束測試裝置，其特征在于，所述測試節(jié)點陣列中的測試節(jié)點呈矩陣排列，同一列測試節(jié)點通過同一條總線連接到控制系統(tǒng)。

7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的分布式線束測試裝置，其特征在于，所述的控制系統(tǒng)包括：FPGA控制器和嵌入式處理器，F(xiàn)PGA控制器和嵌入式處理器之間電連接，F(xiàn)PGA控制器還連接到總線驅(qū)動器陣列，總線驅(qū)動器即用來連接從測試節(jié)點接入的總線。

8.一種分布式線束測試方法，其特征在于，包括如下步驟：

向控制系統(tǒng)中輸入待測線束的拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)信息和測試機臺的配置信息；

獲取測試機臺上每個測試節(jié)點中測試端子的連接信息，并根據(jù)測試端子連接信息，將測試端子映射到待測線束的拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)中；

先進(jìn)行測試節(jié)點內(nèi)線束連通性測試，再進(jìn)行測試節(jié)點間線束連通性測試；

進(jìn)行線束中功能元件的參數(shù)測試；

分析測試內(nèi)容，生成測試結(jié)果。

9.如權(quán)利要求8所述的分布式線束測試方法，其特征在于，步驟B所述的測試端子連接信息獲得方式是：測試節(jié)點呈矩陣排列，共排成m排，n列，第一列中，測試節(jié)點分別為測試節(jié)點1-1、測試節(jié)點1-2、…、測試節(jié)點1-m，第二列中，測試節(jié)點分別為測試節(jié)點2-1、測試節(jié)點2-2、…、測試節(jié)點2-m，依次類推，第n列中，測試節(jié)點分別為測試節(jié)點n-1、測試節(jié)點n-2、…、測試節(jié)點n-m；

測試節(jié)點含有a個測試端子，則取名為，測試端子1、測試端子2、…、測試端子a，同一測試節(jié)點中，測試端子排序越小，優(yōu)先級越高，測試節(jié)點的優(yōu)先級為先列后排；

待測線束的第一待測點接入任一測試節(jié)點中的任一測試端子，并記錄該測試端子的引腳信息，待測線束第二待測點接入優(yōu)先級緊跟第一待測點所對應(yīng)測試端子的測試端子，待測線束第三待測點接入優(yōu)先級緊跟第二待測點所對應(yīng)測試端子的測試端子，依次類推，將待測線束的所有待測點接入到測試端子上，當(dāng)獲得待測線束的第一待測點對應(yīng)待測端子的引腳信息，則待測線束其他所有待測點對應(yīng)的待測端子的引腳信息都能得到，則獲得了測試機臺上每個測試節(jié)點中測試端子的連接信息。