[發(fā)明專利]一種激光波前探測調整裝置及方法

有效

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• 申請日: 2020-06-09
• 公開（公告）號: CN113783078B
• 公開（公告）日: 2023-03-28
• 發(fā)明（設計）人: 郭亞丁;彭欽軍;張林;邵崇峰;陳中正;李陽;薄勇
• 申請（專利權）人: 中國科學院理化技術研究所
• 主分類號: H01S3/00
• 分類號: H01S3/00;G01J9/00
• 代理公司: 北京中政聯(lián)科專利代理事務所(普通合伙) 11489
• 代理人: 鄭久興

本發(fā)明公開了一種激光波前探測調整裝置，包括：波前校正器，其包括鏡片和壓電陶瓷柱；激光探測器，其與所述波前校正器的壓電陶瓷柱集成設置且所述激光探測器與所述壓電陶瓷柱設置在所述鏡片同一側，用于檢測直接入射激光束與經(jīng)反射激光束在所述激光探測器上形成光斑的距離；自控主機，用于根據(jù)所述距離計算驅動電壓值，并根據(jù)該驅動電壓值調節(jié)波前校正器的驅動電壓。該裝置通過將激光的波前調整結構與激光探測器通過有序穿插的方式結合到一起，減少了系統(tǒng)復雜度，容易集成至各類激光設備中，提高了系統(tǒng)可靠性與實用性。此外，該裝置采用兩點探測并計算兩點之間距離的算法來計算壓電信號，測量為相對值，因此更為準確與精度高。

技術領域

本發(fā)明涉及激光波調整領域，特別涉及一種激光波前探測調整裝置及方法。

背景技術

激光調制就是利用激光作為載波進行調制的過程。激光具有極好的時間相干性和空間相干性，它與無線電波相似，易于調制，且光波的頻率極高，能傳遞信息的容量很大，加之激光束發(fā)散角小，光能高度集中，既能傳輸較遠距離，又易于保密，激光調制主要可分為內調制和外調制兩類。

在激光的外調制領域中，電光調制作為調制設備已在大范圍中使用，但是現(xiàn)有的調光設備系統(tǒng)較為復雜，系統(tǒng)性能較低，且存在誤差。

發(fā)明內容

(一)發(fā)明目的

本發(fā)明的目的是提供一種激光波前探測調整裝置及方法以解決現(xiàn)有技術激光波前調整存在誤差，需要校準，實際使用效率低的問題。

(二)技術方案

為解決上述問題，本發(fā)明的第一方面提供了一種激光波前探測調整裝置，包括：波前校正器，其包括鏡片和壓電陶瓷柱；激光探測器，其與所述波前校正器的壓電陶瓷柱集成設置且所述激光探測器與所述壓電陶瓷柱設置在所述鏡片同一側，用于檢測直接入射激光束與經(jīng)反射激光束在所述激光探測器上形成光斑的距離；自控主機，用于根據(jù)所述距離計算驅動電壓值，并根據(jù)該驅動電壓值調節(jié)波前校正器的驅動電壓。

進一步地，所述激光探測器包括：支架，其所述波前校正器的壓電陶瓷柱集成設置；透鏡，其設置在所述支架上，且所述透鏡與所述鏡片平行；CCD探測器，其所述透鏡同軸設置在所述支架上，且所述CCD探測器設置在所述透鏡背離所述鏡片一側。

進一步地，所述透鏡為凸面鏡結構。

進一步地，所述鏡片背離所述壓電陶瓷柱一側設置有高反膜，所述鏡片靠近所述壓電陶瓷柱一側設置有半反透膜。

進一步地，所述激光探測器與所述壓電陶瓷柱均為多個；所述激光探測器與所述壓電陶瓷柱間隔陣列排布。

進一步地，所述波前校正器還包括：基底，其設置有插排，所述插排集成有所述激光探測器和所述壓電陶瓷柱的導線插口；陶瓷驅動器，其通過所述插排與所述壓電陶瓷柱電連接。

進一步地，所述壓電陶瓷柱與所述基底固定連接，所述壓電陶瓷柱與所述鏡片膠性連接。

進一步地，所述基底是由碳化硅材料制作而成。

進一步地，所述自控主機通過所述插排分別與所述CCD探測器和所述陶瓷驅動器電連接。

根據(jù)本發(fā)明的另一個方面，提供一種激光波前探測調整方法，包括：獲取波前校正器的鏡片直接入射激光束與經(jīng)反射激光束在所述鏡面平行上形成光斑的距離；根據(jù)所述距離計算驅動電壓值，并根據(jù)該驅動電壓值調節(jié)波前校正器的驅動電壓，所述驅動電壓用于驅動所述波前校正器調節(jié)所述鏡片面型。

(三)有益效果

本發(fā)明的上述技術方案具有如下有益的技術效果：