[發明專利]進程自啟停的基于頻域電磁響應的集成電路版圖優化方法在審
| 申請號: | 202010515411.X | 申請日: | 2020-06-08 |
| 公開(公告)號: | CN111881643A | 公開(公告)日: | 2020-11-03 |
| 發明(設計)人: | 唐章宏;鄒軍;黃承清;王芬;汲亞飛 | 申請(專利權)人: | 北京智芯仿真科技有限公司 |
| 主分類號: | G06F30/392 | 分類號: | G06F30/392 |
| 代理公司: | 深圳市行一知識產權代理事務所(特殊普通合伙) 44453 | 代理人: | 楊賢 |
| 地址: | 100000 北京市海淀區信*** | 國省代碼: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索關鍵詞: | 進程 基于 電磁 響應 集成電路 版圖 優化 方法 | ||
1.一種進程自啟停的基于頻域電磁響應的集成電路版圖優化方法,其特征在于,包括:
步驟100,將集成電路頻域電磁響應計算過程中相同類型的所有獨立完整計算劃分為多個并行粗顆粒,其中,每個所述并行粗顆粒執行相應的獨立計算任務;
步驟200,選取反映整個設定頻段范圍要求的電磁響應特征的至少一個初始頻率點,形成頻率點有序序列;
步驟300,通過第一并行粗顆粒,依據集成電路版圖優化目標定義目標函數并利用優化算法對所述頻率點有序序列進行迭代運算,直到所述目標函數緩慢收斂或達到優化目標,獲得最優集成電路版圖模型個體;
步驟400,通過第二并行粗顆粒,計算所述最優集成電路版圖模型個體在所述設定頻段內的電磁響應特征,獲得最優集成電路版圖模型個體的頻率響應曲線,并比較最優集成電路版圖模型個體的頻率響應曲線與所述優化目標;
步驟500,通過第三并行粗顆粒,判斷是否存在不滿足所述集成電路版圖優化目標的頻率點,在判定不存在時完成優化,否則在所述設定頻段內選取k個優化頻率點,從該k個優化頻率點中確定出kn個新的優化頻率點,判斷所述kn個新的優化頻率點是否符合加入所述頻率點有序序列的條件,其中,在判定符合條件時將所述kn個新的優化頻率點有序地加入所述頻率點有序序列并將新的頻率點有序序列代入上述步驟300并執行步驟300,否則優化失敗;其中,
在通過所述并行粗顆粒進行計算時,統計當前的并行粗顆粒中分配有計算任務的進程完成計算任務所需的分配內存大小,并檢測當前可用物理內存的大小,在所述分配內存小于所述可用物理內存時執行該計算任務,否則暫停該進程在之后預設時間內的運算,并重新檢測當前可用物理內存的大小,直至所述分配內存小于所述可用物理內存。
2.如權利要求1所述的方法,其特征在于,所述目標函數緩慢收斂包括:連續經過預設次數的迭代且集成電路版圖優化的目標函數下降速度不高于預設速度。
3.如權利要求1所述的方法,其特征在于,所述在所述設定頻段內選取k個優化頻率點,從該k個優化頻率點中確定出kn個新的優化頻率點,包括:
按照頻率點間距最小原則從設定頻段內選取k個優化頻率點,然后分別計算k個優化頻率點的電磁響應曲線與集成電路版圖優化目標的偏差,將算出的偏差進行降序排序得到偏差序列,選取所述偏差序列中的前kn個頻率點作為新的優化頻率點。
4.如權利要求3所述的方法,其特征在于,所述頻率點間距最小原則為:在將新的優化頻率點加入所述頻率點有序序列后,得到的新的頻率點有序序列中相鄰頻率點的間距大于Δd,Δd=(fmax-fmin)/C,fmax、fmin分別為所述設定頻段內的最高頻率和最低頻率,C為大于正在優化頻率點數的常數值。
5.如權利要求1至4中任一項所述的方法,其特征在于,所述判斷所述kn個新的優化頻率點是否符合加入所述頻率點有序序列的條件,包括:
當選取的新的優化頻率點數量kn=0時,判斷所述目標函數收斂緩慢的判斷規則是否有效,若有效則降低集成電路版圖優化的目標函數的收斂速度,所述kn個新的優化頻率點符合加入頻率點有序序列的條件,若無效則所述kn個新的優化頻率點不符合加入頻率點有序序列的條件;
當選取的新的優化頻率數量kn>0時,直接判定所述kn個新的優化頻率點符合加入頻率點有序序列的條件。
6.如權利要求5所述的方法,其特征在于,所述降低集成電路版圖優化的目標函數的收斂速度包括:增加迭代次數M的值并降低集成電路版圖優化的目標函數下降速度6的值,其中M的值不超過預設的最大迭代次數Mmax,且目標函數下降速度δ≥0。
7.如權利要求1至6中任一項所述的方法,其特征在于,在為所述并行粗顆粒的進程分配內存之前,該方法還包括:主進程基于動態分配計算任務策略和文件標記策略將所述并行粗顆粒中的每個計算任務以及相應的輸入參數動態分配到所有進程中。
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