[發明專利]熱阻測量裝置及方法

在審

• 申請號: 202010510089.1
• 申請日: 2020-06-05
• 公開（公告）號: CN111521263A
• 公開（公告）日: 2020-08-11
• 發明（設計）人: 陳展耀;戴書麟;劉風雷
• 申請（專利權）人: 浙江水晶光電科技股份有限公司
• 主分類號: G01J1/42
• 分類號: G01J1/42;G01J9/00;G01M11/02
• 代理公司: 北京超凡宏宇專利代理事務所(特殊普通合伙) 11463
• 代理人: 崔熠

1.一種熱阻測量裝置，用于測量激光模組的熱阻，其特征在于，包括溫度控制器、光功率計以及波長測量儀；所述溫度控制器的工作面用于設置激光模組并控制其溫度，所述激光模組具有出光方向分別朝向所述光功率計和所述波長測量儀的第一狀態和第二狀態，所述光功率計用于測量所述激光模組的出光功率，所述波長測量儀用于測量所述激光模組的出光波長。

2.如權利要求1所述的熱阻測量裝置，其特征在于，所述熱阻測量裝置還包括滑軌，所述溫度控制器滑動設置于所述滑軌上，所述光功率計和所述波長測量儀沿所述滑軌的延伸方向分別設置于所述溫度控制器遠離所述滑軌的一側。

3.如權利要求1所述的熱阻測量裝置，其特征在于，所述溫度控制器的工作面設置有導熱板。

4.如權利要求1所述的熱阻測量裝置，其特征在于，所述光功率計包括光電型積分球。

5.如權利要求1所述的熱阻測量裝置，其特征在于，所述光功率計沿所述激光模組第一狀態時的出光方向滑動設置。

6.如權利要求1至5任一項所述的熱阻測量裝置，其特征在于，所述光功率計的量程為0至10瓦。

7.如權利要求2所述的熱阻測量裝置，其特征在于，所述滑軌為直線型，且所述滑軌的長度為0.8米至1.2米之間。

8.如權利要求1至5任一項所述的熱阻測量裝置，其特征在于，所述溫度控制器的控溫范圍為0至70攝氏度。

9.一種熱阻測量方法，其特征在于，用于測量激光模組的熱阻，所述方法包括：

調節激光模組的溫度，并獲取各所述溫度及其分別對應的所述激光模組的出光波長；

根據各所述溫度及其對應的所述出光波長，計算得到所述激光模組的出光波長關于其溫度的導數；

調節激光模組的光功率，獲取各所述光功率及其分別對應的所述激光模組的出光波長，并根據各所述光功率分別計算對應的所述激光模組的熱功率；

根據各所述熱功率及所述出光波長，計算得到所述激光模組的出光波長關于其熱功率的導數；

根據所述出光波長關于所述溫度的導數，以及所述出光波長關于所述熱功率的導數，計算得到所述激光模組的熱阻。

10.如權利要求9所述的熱阻測量方法，其特征在于，所述調節激光模組的光功率，獲取各所述光功率及其分別對應的所述激光模組的出光波長，并根據各所述光功率分別計算對應的所述激光模組的熱功率，包括：

調節所述激光模組的驅動電流；

獲取各所述驅動電流下所述激光模組分別對應的所述光功率及所述出光波長；

根據所述驅動電流及其對應的所述光功率，計算得到所述熱功率。