[發(fā)明專(zhuān)利]一種晶圓級(jí)封裝方法在審
| 申請(qǐng)?zhí)枺?/td> | 202010501967.3 | 申請(qǐng)日: | 2020-06-04 |
| 公開(kāi)(公告)號(hào): | CN111554585A | 公開(kāi)(公告)日: | 2020-08-18 |
| 發(fā)明(設(shè)計(jì))人: | 張文斌 | 申請(qǐng)(專(zhuān)利權(quán))人: | 廈門(mén)通富微電子有限公司 |
| 主分類(lèi)號(hào): | H01L21/56 | 分類(lèi)號(hào): | H01L21/56;H01L23/31;H01L23/498 |
| 代理公司: | 深圳市威世博知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理事務(wù)所(普通合伙) 44280 | 代理人: | 黎堅(jiān)怡 |
| 地址: | 361000 福建省廈門(mén)市中國(guó)(福建)自由貿(mào)易試驗(yàn)區(qū)*** | 國(guó)省代碼: | 福建;35 |
| 權(quán)利要求書(shū): | 查看更多 | 說(shuō)明書(shū): | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索關(guān)鍵詞: | 一種 晶圓級(jí) 封裝 方法 | ||
1.一種晶圓級(jí)封裝方法,其特征在于,所述晶圓級(jí)封裝方法包括:
將包括多個(gè)芯片的晶圓設(shè)置在承載片上,每個(gè)所述芯片的功能面上設(shè)置有多個(gè)焊盤(pán),且每個(gè)所述芯片的所述功能面朝向所述承載片;
在所述晶圓遠(yuǎn)離所述承載片的一側(cè)形成多個(gè)第一凹槽,分屬于不同芯片的相鄰的至少兩個(gè)所述焊盤(pán)具有從同一個(gè)所述第一凹槽中露出區(qū)域;
在所述晶圓遠(yuǎn)離所述承載片的一側(cè)以及所述第一凹槽內(nèi)形成再布線層,所述再布線層與從所述第一凹槽中露出的所述焊盤(pán)電連接。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的晶圓級(jí)封裝方法,其特征在于,所述在所述晶圓遠(yuǎn)離所述承載片的一側(cè)形成多個(gè)第一凹槽,包括:
利用蝕刻工藝在所述晶圓遠(yuǎn)離所述承載片的一側(cè)形成多個(gè)所述第一凹槽,且所述焊盤(pán)從所述第一凹槽中露出的區(qū)域面積超過(guò)所述焊盤(pán)面積的一半。
3.根據(jù)權(quán)利要求1所述的晶圓級(jí)封裝方法,其特征在于,所述將包括多個(gè)芯片的晶圓設(shè)置在承載片上,包括:
利用鍵合膠將所述多個(gè)芯片的所述功能面與所述承載片固定連接;
研磨所述晶圓遠(yuǎn)離所述承載片的一側(cè)以使所述晶圓的厚度減小。
4.根據(jù)權(quán)利要求1-3任一項(xiàng)所述的晶圓級(jí)封裝方法,其特征在于,
所述在所述晶圓遠(yuǎn)離所述承載片的一側(cè)以及所述第一凹槽內(nèi)形成再布線層之前包括:
在所述晶圓遠(yuǎn)離所述承載片的一側(cè)形成絕緣層,所述絕緣層對(duì)應(yīng)所述第一凹槽的位置設(shè)置有第一開(kāi)口,所述第一凹槽位置處的所有所述焊盤(pán)包括從所述第一開(kāi)口中露出的部分;
所述在所述晶圓遠(yuǎn)離所述承載片的一側(cè)以及所述第一凹槽內(nèi)形成再布線層,包括:
在所述絕緣層和從所述絕緣層中露出的所述焊盤(pán)表面形成所述再布線層。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的晶圓級(jí)封裝方法,其特征在于,
所述第一開(kāi)口的寬度小于所述第一凹槽的寬度,所述絕緣層覆蓋所述晶圓遠(yuǎn)離所述承載片的一側(cè)以及所述第一凹槽的側(cè)壁,所述再布線層與從所述第一開(kāi)口中露出的所述焊盤(pán)的表面電連接。
6.根據(jù)權(quán)利要求1所述的晶圓級(jí)封裝方法,其特征在于,所述在所述晶圓遠(yuǎn)離所述承載片的一側(cè)以及所述第一凹槽內(nèi)形成再布線層之后,包括:
在所述再布線層上形成保護(hù)層,所述保護(hù)層覆蓋所述再布線層以及未被所述再布線層覆蓋的所述焊盤(pán);
在所述保護(hù)層表面形成第二開(kāi)口,所述再布線層從所述第二開(kāi)口中露出;
在所述第二開(kāi)口內(nèi)形成焊球。
7.根據(jù)權(quán)利要求6所述的晶圓級(jí)封裝方法,其特征在于,所述在所述第二開(kāi)口內(nèi)形成焊球之后,還包括:
在所述承載片設(shè)置有所述晶圓一側(cè)形成第一塑封層,所述焊球從所述第一塑封層中露出;
切割掉相鄰所述芯片之間的部分所述承載片、所述晶圓以及所述第一塑封層。
8.根據(jù)權(quán)利要求6所述的晶圓級(jí)封裝方法,其特征在于,所述在所述第二開(kāi)口內(nèi)形成焊球之后,還包括:
切割掉相鄰所述芯片之間的部分所述承載片以及所述晶圓,以獲得包含單顆所述芯片的芯片封裝體。
9.根據(jù)權(quán)利要求8所述的晶圓級(jí)封裝方法,其特征在于,所述切割掉相鄰所述芯片之間的部分所述承載片以及所述晶圓,以獲得包含單顆所述芯片的芯片封裝體之后,包括:
將多個(gè)所述芯片封裝體黏貼在載板上;
在所述芯片封裝體的兩側(cè)以及所述芯片封裝體遠(yuǎn)離所述載板的一側(cè)形成第二塑封層,所述焊球從所述第二塑封層中露出。
10.根據(jù)權(quán)利要求9所述的晶圓級(jí)封裝方法,其特征在于,所述在所述芯片封裝體的兩側(cè)以及所述芯片封裝體遠(yuǎn)離所述載板的一側(cè)形成第二塑封層之后,包括:
切割掉相鄰的所述芯片封裝體之間的所述第二塑封層;
將所述載板去除。
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