[發(fā)明專利]一種嵌入式設(shè)備NandFlash I/O數(shù)據(jù)監(jiān)測系統(tǒng)及方法

有效

• 申請?zhí)枺?/td>: 202010499774.9
• 申請日: 2020-06-04
• 公開（公告）號: CN111679792B
• 公開（公告）日: 2023-04-07
• 發(fā)明（設(shè)計）人: 張建新;郭甜;羅才華;康宏;吳金成
• 申請（專利權(quán)）人: 四川九州電子科技股份有限公司
• 主分類號: G06F3/06
• 分類號: G06F3/06
• 代理公司: 四川省成都市天策商標專利事務(wù)所(有限合伙) 51213
• 代理人: 張秀敏

本發(fā)明公開了一種嵌入式設(shè)備NandFlash?I/O數(shù)據(jù)監(jiān)測系統(tǒng)，包括通過串口通訊的嵌入式設(shè)備和PC，還包括植入嵌入式設(shè)備中的監(jiān)控模塊和安裝在PC中的智能監(jiān)測系統(tǒng)，智能監(jiān)測系統(tǒng)包括智能數(shù)據(jù)分析模塊以及與所述智能數(shù)據(jù)分析模塊連接的界面顯示模塊、測試用例輸入模塊、定時模塊和測試報告自動生成模塊，監(jiān)控模塊與所述智能數(shù)據(jù)分析模塊進行數(shù)據(jù)交互。還公開了一種嵌入式設(shè)備Flash?I/O數(shù)據(jù)監(jiān)測方法。本發(fā)明通過監(jiān)測Flash擦寫異常實現(xiàn)對電子產(chǎn)品的監(jiān)控告警功能，可以提前發(fā)現(xiàn)電子產(chǎn)品由于產(chǎn)品軟件設(shè)計、使用第三方軟件等造成Flash擦寫異常的情況，發(fā)出警示，終止相關(guān)應(yīng)用的使用，提高電子產(chǎn)品的使用壽命。

技術(shù)領(lǐng)域

本發(fā)明涉及NandFlash技術(shù)領(lǐng)域，具體的說，是一種嵌入式設(shè)備NandFlash?I/O數(shù)據(jù)監(jiān)測系統(tǒng)及方法。

背景技術(shù)

目前，NandFlash已經(jīng)廣泛應(yīng)用于手機、機頂盒、電視機、固態(tài)硬盤、U盤等電子產(chǎn)品中，用于存儲電子產(chǎn)品的各類參數(shù)數(shù)據(jù)。NandFlash的主要種類包括SLC、MLC、TLC、QLC。根據(jù)這種NandFlash的特點，在產(chǎn)品使用過程中，對NandFlash不斷擦寫，擦寫數(shù)據(jù)的次數(shù)或數(shù)據(jù)總量達到NandFlash芯片廠商規(guī)定的限值時，NandFlash的使用壽命即到期。為了用戶的數(shù)據(jù)安全，芯片廠商不建議用戶再繼續(xù)使用。

關(guān)于NandFlash使用壽命的計算，還存在其它一些因素，如目前各類嵌入式設(shè)備的功能越來越齊全，尤其如AI智能類嵌入式設(shè)備擔(dān)負起越來越多的創(chuàng)新業(yè)務(wù)，這些產(chǎn)品在用戶實際環(huán)境工作中除系統(tǒng)運行自帶進程外，還會運行其它第三方應(yīng)用進程。如果嵌入式設(shè)備自身的系統(tǒng)軟件存在設(shè)計缺陷，或在用戶實際環(huán)境中運行的第三方的應(yīng)用軟件未經(jīng)過嚴格測試，導(dǎo)致對嵌入式設(shè)備的NandFlash讀寫次數(shù)或擦寫數(shù)據(jù)量遠遠大于正常理論值時，就會影響到嵌入式設(shè)備NandFlash正常使用壽命(如正常工作壽命5年的嵌入式設(shè)備，實際工作壽命縮短到1年)。對NandFlash監(jiān)測的現(xiàn)有技術(shù)眾多，但大部分為對NandFlash壞塊進行管理、使用壽命進行檢測，判斷NandFlash品質(zhì)是否合格。本發(fā)明通過對嵌入式產(chǎn)品NandFlash的I/O進行數(shù)據(jù)擦寫實時監(jiān)控保存并實時分析，達到攔截影響嵌入式設(shè)備NandFlash正常使用壽命的嵌入式設(shè)備系統(tǒng)軟件、第三方應(yīng)用軟件缺陷目的，確保嵌入式設(shè)備正常使用壽命。

發(fā)明內(nèi)容

本發(fā)明的目的在于提供一種嵌入式設(shè)備NandFlash?I/O數(shù)據(jù)監(jiān)測系統(tǒng)及方法，用于解決現(xiàn)有技術(shù)中無法監(jiān)測因系統(tǒng)軟件或第三方應(yīng)用軟件問題引起NandFlash擦寫異常的問題。

本發(fā)明通過下述技術(shù)方案解決上述問題：

一種嵌入式設(shè)備NandFlash?I/O數(shù)據(jù)監(jiān)測系統(tǒng)，包括通過串口通訊的嵌入式設(shè)備和PC，還包括植入嵌入式設(shè)備中的監(jiān)控模塊和安裝在PC中的智能監(jiān)測系統(tǒng)，所述智能監(jiān)測系統(tǒng)包括智能數(shù)據(jù)分析模塊以及與所述智能數(shù)據(jù)分析模塊連接的界面顯示模塊、測試用例輸入模塊、定時模塊和測試報告自動生成模塊，所述監(jiān)控模塊與所述智能數(shù)據(jù)分析模塊進行數(shù)據(jù)交互。

模擬系統(tǒng)正常使用場景，待測嵌入式設(shè)備在取得用戶許可的情況下在線或者離線執(zhí)行測試用例輸入模塊中輸入的測試用例，測試用例將監(jiān)測參數(shù)傳遞至智能數(shù)據(jù)分析模塊，定時模塊開始計時，在設(shè)定的監(jiān)測時間段內(nèi)，植入嵌入式設(shè)備的監(jiān)控模塊監(jiān)控設(shè)備各應(yīng)用進程，間接得知NandFlash?I/O擦寫數(shù)據(jù)情況，并傳遞至智能數(shù)據(jù)分析模塊，由智能數(shù)據(jù)分析模塊評估分析NandFlash及產(chǎn)品使用壽命，并判斷嵌入式設(shè)備系統(tǒng)軟件或第三方應(yīng)用軟件是否存在異常擦寫NandFlash?I/O情況，若有，則由界面顯示模塊進行界面顯示預(yù)警及輸出詳細風(fēng)險評估報告；若無，則繼續(xù)測試，直至測試結(jié)束，由測試報告自動生成模塊輸出測試報告。