[發明專利]一種嵌入式設備NandFlash I/O數據監測系統及方法

有效

• 申請號: 202010499774.9
• 申請日: 2020-06-04
• 公開（公告）號: CN111679792B
• 公開（公告）日: 2023-04-07
• 發明（設計）人: 張建新;郭甜;羅才華;康宏;吳金成
• 申請（專利權）人: 四川九州電子科技股份有限公司
• 主分類號: G06F3/06
• 分類號: G06F3/06
• 代理公司: 四川省成都市天策商標專利事務所(有限合伙) 51213
• 代理人: 張秀敏

1.一種嵌入式設備NandFlash?I/O數據監測方法，其特征在于，利用一種嵌入式設備NandFlash?I/O數據監測系統實現，系統包括通過串口通訊的嵌入式設備和PC，還包括植入嵌入式設備中的監控模塊和安裝在PC中的智能監測系統，所述智能監測系統包括智能數據分析模塊以及與所述智能數據分析模塊連接的界面顯示模塊、測試用例輸入模塊、定時模塊和測試報告自動生成模塊，所述監控模塊與所述智能數據分析模塊進行數據交互，方法包括：

步驟S100：嵌入式設備出廠前，預置Hour_TotalDatasize和Dailyusetime，所述Hour_TotalDatasize為NandFlash每小時擦寫數據量；所述Dailyusetime為推算產品每天使用時長的平均值；S＝Hour_TotalDatasize*Dailyusetime，S為每日數據擦寫總量；

步驟S200：將監控模塊植入嵌入式設備，在PC安裝智能監測系統，將嵌入式設備與PC建立通訊；

步驟S300：在智能監測系統的測試用例輸入模塊輸入測試用例參數、指定log文件和測試報告存儲的位置，所述測試用例參數包括NandFlash總容量R、NandFlash主控算顆粒P/E值PE、監測天數T、閾值百分比V和設計使用壽命L，L＝R×PE÷S；

步驟S400：智能監測系統的智能數據分析模塊驅動嵌入式設備的監控模塊，監控模塊對嵌入式設備所運行的進程對NandFlash?I/O擦寫數據進行實時監控；

步驟S500：根據監測模塊收集的每天擦寫數據量，計算出該NandFlash的使用壽命為L1＝R×PE÷S1，其中L1為在監測天數T內每天工作Dailyusetime小時的平均日擦寫數據量；

步驟S600：如果L1低于設計使用壽命L的閾值V，則由界面顯示模塊輸出預警信息，否則，測試結束后，由測試報告自動生成模塊輸出測試報告。

2.根據權利要求1所述的一種嵌入式設備NandFlash?I/O數據監測方法，其特征在于，所述智能數據分析模塊包括數據采集及存儲模塊、數據分析模塊、風險評估模塊和繼續測試模塊，所述數據分析模塊用于對數據采集及存儲模塊的數據進行分析，并根據分析結果輸出指令至繼續測試模塊或者風險評估模塊，所述風險評估模塊連接所述界面顯示模塊，所述繼續測試模塊連接所述測試報告自動生成模塊。

3.根據權利要求2所述的一種嵌入式設備NandFlash?I/O數據監測方法，其特征在于，所述數據采集及存儲模塊包括依次連接的數據采集模塊、數據預處理模塊和數據存儲模塊，其中數據預處理模塊用于篩選NandFlash?I/O擦寫數據。