[發明專利]一種觸摸屏防拆解繞線短路、開路的檢測方法

有效

• 申請號: 202010496629.5
• 申請日: 2020-06-03
• 公開（公告）號: CN111537867B
• 公開（公告）日: 2023-05-02
• 發明（設計）人: 鄭琦林;劉月豹;林旭權;張陽;廖曉芮;葉飛
• 申請（專利權）人: 安徽方興光電新材料科技有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 昆明合眾智信知識產權事務所 53113
• 代理人: 周勇

本發明公開了一種觸摸屏防拆解繞線短路、開路的檢測裝置及檢測方法，包括引腳1、MCU_SCL、MCU_SDA、MCU_GND、引腳Ⅴ、MCU_INT、MCU_RST、MCU_VDD，所述引腳1和引腳Ⅴ短接，使其成為改進后的測試版MCU_VDD與TP_VD連接線路中的一部分，待檢測的電容觸摸屏線路板防拆解繞線接入測試版后電源的電流方向如下：MCU_VDD→測試版的8腳→防拆解繞線B端→防拆解繞線內部線路→防拆解繞線A端→測試版引腳Ⅰ→TP_VDD；進行防拆解繞線內部開路測試和短路測試，本發明通過將待檢測的電容觸摸屏線路板防拆解繞線接入優化后的測試版線路中，使其成為常規檢測線路中電源線的一部分，無需通過萬用表即可完成檢測，提高了良品率和檢測效率，適合廣泛推廣。

技術領域

本發明涉及電容式觸摸屏線路板防拆解繞線測試方法技術領域，具體為一種觸摸屏防拆解繞線短路、開路的檢測方法。

背景技術

傳統檢測FPC(柔性線路板)上防拆解的繞線線路是否存在短路、開路故障時，是將FPC接入傳統測試版的線路中，通過人工使用萬用表的二極管檔去測量防拆解繞線的導通性，在FPC量產的時候需要增加一道檢測防拆解繞線是否有開路、短路的工序，此時需要用萬用表的表筆去扎FPC上的引腳，此種檢測手段會造成FPC外觀不良，從而導致良品率低、同時增加了檢測工序從而影響檢測效率。

本發明的目的在于設計一種不增加測試人員和測試裝置，在不影響原有測試效果的情況下完成對FPC防拆解繞線短路、開路高效率檢測的一種觸摸屏防拆解繞線短路、開路的檢測方法。

發明內容

本發明的目的在于提供一種觸摸屏防拆解繞線短路、開路的檢測方法，以解決上述背景技術中提出的問題。

為實現上述目的，本發明提供如下技術方案：

一種觸摸屏防拆解繞線短路、開路的檢測方法，使用優化后的測試版端，該優化后的測試版端具有引腳Ⅰ、MCU_SDA、MCU_SCL、MCU_GND、引腳Ⅴ、MCU_INT、MCU_RST、MCU_VDD，其特征在于：所述引腳Ⅰ、MCU_SDA、MCU_SCL、MCU_GND、引腳Ⅴ、MCU_INT、MCU_RST、MCU_VDD從上至下依次排列，所述引腳Ⅰ和引腳Ⅴ短接，包括以下步驟：

步驟一：對外接測試版端的接線進行優化：將測試版端的引腳Ⅰ與引腳Ⅴ短接，MCU_VDD引腳接到防拆解繞線B端；

步驟二：將待檢測的電容觸摸屏防拆解繞線接入優化后的測試版線路中，使其成為優化后的測試版MCU_VDD與TP_VDD連接線路中的一部分，待檢測的電容觸摸屏防拆解繞線接入測試版后電源的電流方向如下：MCU_VDD→防拆解繞線B端→防拆解繞線內部線路→防拆解繞線A端→引腳Ⅰ→TP_VDD，其中TP_VDD為防拆解繞線的電源引腳；

步驟三：進行防拆解繞線內部開路測試：

當防拆解繞線內部線路開路，MCU_VDD無法與TP_VDD連接，觸摸屏上電異常，無法完成常規的IIC通訊，判斷為NG，反之則正常，防拆解繞線內部開路測試完成；

步驟四：進行防拆解繞線內部與TP_GND短路測試：

當防拆解繞線內部與TP_GND短路，其中TP_GND為防拆解繞線的接地引腳，即MCU_VDD與TP_GND短路，其中即TP_GND＝MCU_GND，觸摸屏上電異常，測試版MCU提示電流過大，無法完成常規的IIC通訊，判斷為NG，防拆解繞線內部短路檢測完成。

與現有技術相比，本發明的有益效果是：

1、本發明通過將待檢測的電容觸摸屏防拆解繞線接入優化后的測試版線路中即可完成檢測，無需通過萬用表的表筆去接觸FPC上的引腳，因此規避了因為萬用表扎刺導致的FPC外觀不良狀況，提高了良品率；