[發明專利]一種觸摸屏防拆解繞線短路、開路的檢測方法

有效

• 申請號: 202010496629.5
• 申請日: 2020-06-03
• 公開（公告）號: CN111537867B
• 公開（公告）日: 2023-05-02
• 發明（設計）人: 鄭琦林;劉月豹;林旭權;張陽;廖曉芮;葉飛
• 申請（專利權）人: 安徽方興光電新材料科技有限公司
• 主分類號: G01R31/28
• 分類號: G01R31/28
• 代理公司: 昆明合眾智信知識產權事務所 53113
• 代理人: 周勇

1.一種觸摸屏防拆解繞線短路、開路的檢測方法，使用優化后的測試版端，該優化后的測試版端具有引腳Ⅰ(1)、MCU_SDA(2)、MCU_SCL(3)、MCU_GND(4)、引腳Ⅴ(5)、MCU_INT(6)、MCU_RST(7)、MCU_VDD(8)，所述引腳Ⅰ(1)、MCU_SDA(2)、MCU_SCL(3)、MCU_GND(4)、引腳Ⅴ(5)、MCU_INT(6)、MCU_RST(7)、MCU_VDD(8)從上至下依次排列，所述引腳Ⅰ(1)和引腳Ⅴ(5)短接，其特征在于：包括以下步驟：

步驟一：對外接測試版端的接線進行優化：將測試版端的引腳Ⅰ與引腳Ⅴ短接，MCU_VDD(8)引腳接到防拆解繞線B端；

步驟二：將待檢測的電容觸摸屏防拆解繞線接入優化后的測試版線路中，使其成為優化后的測試版MCU_VDD與TP_VDD連接線路中的一部分，待檢測的電容觸摸屏防拆解繞線接入測試版后電源的電流方向如下：MCU_VDD→防拆解繞線B端→防拆解繞線內部線路→防拆解繞線A端→引腳Ⅰ→TP_VDD，其中TP_VDD為防拆解繞線的電源引腳；

步驟三：進行防拆解繞線內部開路測試：

當防拆解繞線內部線路開路，MCU_VDD無法與TP_VDD連接，觸摸屏上電異常，無法完成常規的IIC通訊，判斷為NG，反之則正常，防拆解繞線內部開路測試完成；

步驟四：進行防拆解繞線內部與TP_GND短路測試：

當防拆解繞線內部與TP_GND短路，其中TP_GND為防拆解繞線的接地引腳，即MCU_VDD與TP_GND短路，其中TP_GND＝MCU_GND，觸摸屏上電異常，測試版MCU提示電流過大，無法完成常規的IIC通訊，判斷為NG，防拆解繞線內部短路檢測完成。