[發明專利]一種黑白密度片的校驗檢測方法在審
| 申請號： | 202010491305.2 | 申請日： | 2020-06-02 |
| 公開（公告）號： | CN111693403A | 公開（公告）日： | 2020-09-22 |
| 發明（設計）人： | 龍成章;黃成偉;周云森;李勝春;王雙玲;高申星;劉輝;牛國棟;王攀峰;毛哲;唐盟;李靜;高穎;李潔;常昱斌 | 申請（專利權）人： | 河南省計量科學研究院 |
| 主分類號： | G01N9/00 | 分類號： | G01N9/00 |
| 代理公司： | 鄭州科碩專利代理事務所(普通合伙) 41157 | 代理人： | 侯立曼 |
| 地址： | 450000 河*** | 國省代碼： | 河南;41 |
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| 摘要： | |||
| 搜索關鍵詞： | 一種 黑白 密度 校驗 檢測 方法 | ||
【權利要求書】：
1.一種黑白密度片的校驗檢測方法，其特征在于，包括以下步驟：
步驟一：對階梯試塊進行X光線照射，在示值裝置上顯示階梯試塊的底片；
步驟二：根據階梯試塊的底片得出不同厚度處的黑白密度值；
步驟三：根據計算公式在坐標軸中繪制階梯試塊不同厚度和黑白密度值函數曲線，同時根據步驟二中得出的黑白密度值繪制擬合曲線；
步驟四：將黑白密度值函數曲線與擬合曲線進行對比，并對擬合曲線進行修正；
步驟五：根據修正后的擬合曲線由不同厚度的階梯試塊處得出其對應的黑白密度值作為其真實黑白密度值。
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