[發明專利]一種黑白密度片的校驗檢測方法

在審

• 申請號: 202010491305.2
• 申請日: 2020-06-02
• 公開（公告）號: CN111693403A
• 公開（公告）日: 2020-09-22
• 發明（設計）人: 龍成章;黃成偉;周云森;李勝春;王雙玲;高申星;劉輝;牛國棟;王攀峰;毛哲;唐盟;李靜;高穎;李潔;常昱斌
• 申請（專利權）人: 河南省計量科學研究院
• 主分類號: G01N9/00
• 分類號: G01N9/00
• 代理公司: 鄭州科碩專利代理事務所(普通合伙) 41157
• 代理人: 侯立曼

本發明涉及一種黑白密度片的校驗檢測方法，通過擬合曲線與階梯試塊不同厚度和黑白密度值函數曲線作對比，得出不同厚度的階梯試塊處的真實黑白密度值，利用此種方法更貼近于真實情況，提高了工作黑白密度片校驗的準確性。

技術領域

本發明屬于檢驗檢測技術領域，特別是涉及一種黑白密度片的校驗檢測方法。

背景技術

黑白密度片主要是用于檢定和校準各類透射式光學密度計的密度示值的計量器具。其中黑白密度片分為標準黑白密度片和工作黑白密度片，標準黑白密度片由特殊配方的鹵化銀感光乳劑加工處理而成，其外觀特點為單乳劑面的黑白密度光楔。工作黑白密度片種類繁多，應根據應用領域的實際需要進行選擇和加工。其中醫院的X光機輻射值就需要定期對其進行檢測，以便對X光機的輻射值進行評估，因此加工制作的工作黑白密度片的密度示值準確性顯得尤為重要，現有的工作黑白密度片多是程式化生產出來的，其校驗方法過于機械程式化，這樣并不符合實際情況，測量出來的密度值就會較大的誤差，影響其判斷結果。

發明內容

本發明的目的是為了提供一種黑白密度片的校驗檢測方法，解決現有工作黑白密度片機械程式化校驗方法存在較大誤差的問題。

本發明為了解決上述問題所采取的技術方案是，提供了一種黑白密度片的校驗檢測方法，包括以下步驟：

步驟一：對階梯試塊進行X光線照射，在示值裝置上顯示階梯試塊的底片；

步驟二：根據階梯試塊的底片得出不同厚度處的黑白密度值；

步驟三：根據計算公式在坐標軸中繪制階梯試塊不同厚度和黑白密度值函數曲線，同時根據步驟二中得出的黑白密度值繪制擬合曲線；

步驟四：將黑白密度值函數曲線與擬合曲線進行對比，并對擬合曲線進行修正；

步驟五：根據修正后的擬合曲線由不同厚度的階梯試塊處得出其對應的黑白密度值作為其真實黑白密度值。

本發明的有益效果：該發明通過擬合曲線與階梯試塊不同厚度和黑白密度值函數曲線作對比，得出不同厚度的階梯試塊處的真實黑白密度值，利用此種方法更貼近于真實情況，提高了工作黑白密度片校驗的準確性。

具體實施方式

為使本發明的目的、技術方案和有益效果更加清楚，下面對本發明實施方式作進一步詳細描述。

本發明提供了一種黑白密度片的校驗檢測方法，包括以下步驟：

步驟一：對階梯試塊進行X光線照射，在示值裝置上顯示階梯試塊的底片；

步驟二：根據階梯試塊的底片得出不同厚度處的黑白密度值；

步驟三：根據計算公式在坐標軸中繪制階梯試塊不同厚度與黑白密度值函數曲線，同時根據步驟二中得出的黑白密度值繪制擬合曲線；

步驟四：將黑白密度值函數曲線與擬合曲線進行對比，并對擬合曲線進行修正；

步驟五：根據修正后的擬合曲線由不同厚度的階梯試塊處得出其對應的黑白密度值作為其真實黑白密度值。

以上顯示和描述了本發明的基本原理、主要特征和本發明的優點。本行業的技術人員應該了解，本發明不受上述實施例的限制，上述實施例和說明書中描述的只是說明本發明的原理，在不脫離本發明精神和范圍的前提下本發明還會有各種變化和改進，這些變化和改進都落入要求保護的發明范圍內。本發明要求保護范圍由所附的權利要求書及等同物界定。