[發(fā)明專利]掃描鏈故障的診斷方法、裝置、測(cè)試設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)

有效

• 申請(qǐng)?zhí)枺?/td>: 202010475927.6
• 申請(qǐng)日: 2020-05-29
• 公開(kāi)（公告）號(hào): CN111650499B
• 公開(kāi)（公告）日: 2022-08-16
• 發(fā)明（設(shè)計(jì)）人: 劉君
• 申請(qǐng)（專利權(quán)）人: OPPO廣東移動(dòng)通信有限公司
• 主分類號(hào): G01R31/317
• 分類號(hào): G01R31/317;G01R31/3185;G06F30/333
• 代理公司: 北京三高永信知識(shí)產(chǎn)權(quán)代理有限責(zé)任公司 11138
• 代理人: 邢惠童

本申請(qǐng)實(shí)施例公開(kāi)了一種掃描鏈故障的診斷方法、裝置、測(cè)試設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)，屬于芯片測(cè)試領(lǐng)域，在第i次測(cè)試中，在對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)的第1個(gè)測(cè)試時(shí)鐘周期至第m?1個(gè)測(cè)試時(shí)鐘周期中采用第一測(cè)試參數(shù)，在對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)的第m個(gè)測(cè)試時(shí)鐘周期至第2n個(gè)測(cè)試時(shí)鐘周期中采用第二測(cè)試參數(shù)。在第i+1次測(cè)試中，在對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)的第1個(gè)測(cè)試時(shí)鐘周期至第m個(gè)測(cè)試時(shí)鐘周期中采用第一測(cè)試參數(shù)，在對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)的第m+1個(gè)測(cè)試時(shí)鐘周期至第2n個(gè)測(cè)試時(shí)鐘周期中采用第二測(cè)試參數(shù)。由于出現(xiàn)故障的數(shù)據(jù)移位元件在第一測(cè)試參數(shù)中出現(xiàn)異常且在第二測(cè)試參數(shù)中正常工作，因此本申請(qǐng)能夠從包含出現(xiàn)故障的數(shù)據(jù)移位元件的目標(biāo)掃描鏈中，確定出現(xiàn)故障的數(shù)據(jù)移位元件。

技術(shù)領(lǐng)域

本申請(qǐng)實(shí)施例涉及芯片測(cè)試領(lǐng)域，特別涉及一種掃描鏈故障的診斷方法、裝置、測(cè)試設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)。

背景技術(shù)

在芯片測(cè)試領(lǐng)域中，芯片的可測(cè)性設(shè)計(jì)大部分依賴于掃描鏈的測(cè)試。在通常的設(shè)計(jì)中，一個(gè)掃描鏈中可以串接上百個(gè)具有數(shù)據(jù)移位元件。

相關(guān)技術(shù)中，芯片中的掃描鏈的數(shù)量是巨大的。在一些設(shè)計(jì)場(chǎng)景中，一塊芯片的掃描鏈的數(shù)量可以高達(dá)上千條。為了保障掃描鏈本身的正確可用，本領(lǐng)域技術(shù)人員通常采用測(cè)試軟件對(duì)出現(xiàn)故障的掃描鏈進(jìn)行定位，可以從一塊芯片的上千條掃描鏈中確定出現(xiàn)故障的掃描鏈。

發(fā)明內(nèi)容

本申請(qǐng)實(shí)施例提供了一種掃描鏈故障的診斷方法、裝置、測(cè)試設(shè)備及存儲(chǔ)介質(zhì)。所述技術(shù)方案如下：

根據(jù)本申請(qǐng)的一方面內(nèi)容，提供了一種掃描鏈故障的診斷方法，所述方法包括：

將測(cè)試數(shù)據(jù)移入目標(biāo)掃描鏈，執(zhí)行第i次測(cè)試，所述目標(biāo)掃描鏈包括n個(gè)數(shù)據(jù)移位元件，所述數(shù)據(jù)移位元件用于將所述測(cè)試數(shù)據(jù)移動(dòng)至下一個(gè)所述數(shù)據(jù)移位元件中，i為正整數(shù)；

在對(duì)所述測(cè)試數(shù)據(jù)的第1個(gè)測(cè)試時(shí)鐘周期至第m-1個(gè)測(cè)試時(shí)鐘周期中采用第一測(cè)試參數(shù)，在對(duì)所述測(cè)試數(shù)據(jù)的第m個(gè)測(cè)試時(shí)鐘周期至第2n個(gè)測(cè)試時(shí)鐘周期中采用第二測(cè)試參數(shù)，記錄測(cè)試結(jié)果，所述第一測(cè)試參數(shù)高于所述第二測(cè)試參數(shù)，出現(xiàn)故障的所述數(shù)據(jù)移位元件在所述第一測(cè)試參數(shù)中出現(xiàn)異常且在所述第二測(cè)試參數(shù)中正常工作，m為大于1的正整數(shù)；

將所述測(cè)試數(shù)據(jù)移入所述目標(biāo)掃描鏈，執(zhí)行第i+1次測(cè)試；

在對(duì)所述測(cè)試數(shù)據(jù)的第1個(gè)測(cè)試時(shí)鐘周期至第m個(gè)測(cè)試時(shí)鐘周期中采用所述第一測(cè)試參數(shù)，在對(duì)所述測(cè)試數(shù)據(jù)的第m+1個(gè)測(cè)試時(shí)鐘周期至第2n個(gè)測(cè)試時(shí)鐘周期中采用第二測(cè)試參數(shù)，記錄測(cè)試結(jié)果；

若所述第i次測(cè)試的測(cè)試結(jié)果通過(guò)且所述第i+1次測(cè)試的測(cè)試結(jié)果不通過(guò)，則診斷所述目標(biāo)掃描鏈中的第m個(gè)所述數(shù)據(jù)移位元件出現(xiàn)故障。

根據(jù)本申請(qǐng)的另一方面內(nèi)容，提供了一種掃描鏈故障的診斷裝置，所述裝置包括：

第一測(cè)試模塊，用于將測(cè)試數(shù)據(jù)移入目標(biāo)掃描鏈，執(zhí)行第i次測(cè)試，所述目標(biāo)掃描鏈包括n個(gè)數(shù)據(jù)移位元件，所述數(shù)據(jù)移位元件用于將所述測(cè)試數(shù)據(jù)移動(dòng)至下一個(gè)所述數(shù)據(jù)移位元件中，i為正整數(shù)；

第一記錄模塊，用于在對(duì)所述測(cè)試數(shù)據(jù)的第1個(gè)測(cè)試時(shí)鐘周期至第m-1個(gè)測(cè)試時(shí)鐘周期中采用第一測(cè)試參數(shù)，在對(duì)所述測(cè)試數(shù)據(jù)的第m個(gè)測(cè)試時(shí)鐘周期至第2n個(gè)測(cè)試時(shí)鐘周期中采用第二測(cè)試參數(shù)，記錄測(cè)試結(jié)果，所述第一測(cè)試參數(shù)高于所述第二測(cè)試參數(shù)，出現(xiàn)故障的所述數(shù)據(jù)移位元件在所述第一測(cè)試參數(shù)中出現(xiàn)異常且在所述第二測(cè)試參數(shù)中正常工作，m為大于1的正整數(shù)；

第二測(cè)試模塊，用于將所述測(cè)試數(shù)據(jù)移入所述目標(biāo)掃描鏈，執(zhí)行第i+1次測(cè)試；

第二記錄模塊，用于在對(duì)所述測(cè)試數(shù)據(jù)的第1個(gè)測(cè)試時(shí)鐘周期至第m個(gè)測(cè)試時(shí)鐘周期中采用所述第一測(cè)試參數(shù)，在對(duì)所述測(cè)試數(shù)據(jù)的第m+1個(gè)測(cè)試時(shí)鐘周期至第2n個(gè)測(cè)試時(shí)鐘周期中采用第二測(cè)試參數(shù)，記錄測(cè)試結(jié)果；

故障診斷模塊，用于若所述第i次測(cè)試的測(cè)試結(jié)果通過(guò)且所述第i+1次測(cè)試的測(cè)試結(jié)果不通過(guò)，則診斷所述目標(biāo)掃描鏈中的第m個(gè)所述數(shù)據(jù)移位元件出現(xiàn)故障。