[發明專利]掃描鏈故障的診斷方法、裝置、測試設備及存儲介質

有效

• 申請號: 202010475927.6
• 申請日: 2020-05-29
• 公開（公告）號: CN111650499B
• 公開（公告）日: 2022-08-16
• 發明（設計）人: 劉君
• 申請（專利權）人: OPPO廣東移動通信有限公司
• 主分類號: G01R31/317
• 分類號: G01R31/317;G01R31/3185;G06F30/333
• 代理公司: 北京三高永信知識產權代理有限責任公司 11138
• 代理人: 邢惠童

1.一種掃描鏈故障的診斷方法，其特征在于，所述方法包括：

將測試數據移入目標掃描鏈，執行第i次測試，所述目標掃描鏈包括n個數據移位元件，所述數據移位元件用于將所述測試數據移動至下一個所述數據移位元件中，i為正整數；

在對所述測試數據的第1個測試時鐘周期至第m-1個測試時鐘周期中采用第一測試參數，在對所述測試數據的第m個測試時鐘周期至第2n個測試時鐘周期中采用第二測試參數，記錄測試結果，所述第一測試參數高于所述第二測試參數，出現故障的所述數據移位元件在所述第一測試參數中出現異常且在所述第二測試參數中正常工作，m為大于1的正整數；

將所述測試數據移入所述目標掃描鏈，執行第i+1次測試；

在對所述測試數據的第1個測試時鐘周期至第m個測試時鐘周期中采用所述第一測試參數，在對所述測試數據的第m+1個測試時鐘周期至第2n個測試時鐘周期中采用第二測試參數，記錄測試結果；

若所述第i次測試的測試結果通過且所述第i+1次測試的測試結果不通過，則診斷所述目標掃描鏈中的第m個所述數據移位元件出現故障。

2.根據權利要求1所述的方法，其特征在于，所述數據移位元件是移位寄存器。

3.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，所述第一測試參數和所述第二測試參數是作用于所述數據移位元件上的電壓，第m個所述移位寄存器出現保持時間違例的故障。

4.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，所述第一測試參數和所述第二測試參數是測試頻率，第m個所述移位寄存器出現建立時間違例的故障。

5.根據權利要求2所述的方法，其特征在于，所述測試結果通過用于指示所述測試數據經過所述目標掃描鏈后的輸出數據和預設數據相等，所述測試結果不通過用于指示所述測試數據經過所述目標掃描鏈后的輸出數據和預設數據不等。

6.根據權利要求1至5任一所述的方法，其特征在于，若所述第i次測試的測試結果通過且所述第i+1次測試的測試結果通過，則診斷出現故障的移位寄存器位于第m+1個所述移位寄存器至第n個所述移位寄存器中。

7.根據權利要求1至5任一所述的方法，其特征在于，若所述第i次測試的測試結果不通過且所述第i+1次測試的測試結果不通過，則診斷出現故障的移位寄存器位于第1個所述移位寄存器至第m-1個所述移位寄存器中。

8.一種掃描鏈故障的診斷裝置，其特征在于，所述裝置包括：

第一測試模塊，用于將測試數據移入目標掃描鏈，執行第i次測試，所述目標掃描鏈包括n個數據移位元件，所述數據移位元件用于將所述測試數據移動至下一個所述數據移位元件中，i為正整數；

第一記錄模塊，用于在對所述測試數據的第1個測試時鐘周期至第m-1個測試時鐘周期中采用第一測試參數，在對所述測試數據的第m個測試時鐘周期至第2n個測試時鐘周期中采用第二測試參數，記錄測試結果，所述第一測試參數高于所述第二測試參數，出現故障的所述數據移位元件在所述第一測試參數中出現異常且在所述第二測試參數中正常工作，m為大于1的正整數；

第二測試模塊，用于將所述測試數據移入所述目標掃描鏈，執行第i+1次測試；

第二記錄模塊，用于在對所述測試數據的第1個測試時鐘周期至第m個測試時鐘周期中采用所述第一測試參數，在對所述測試數據的第m+1個測試時鐘周期至第2n個測試時鐘周期中采用第二測試參數，記錄測試結果；

故障診斷模塊，用于若所述第i次測試的測試結果通過且所述第i+1次測試的測試結果不通過，則診斷所述目標掃描鏈中的第m個所述數據移位元件出現故障。

9.一種測試設備，其特征在于，所述測試設備包括處理器、和與所述處理器相連的存儲器，以及存儲在所述存儲器上的程序指令，所述處理器執行所述程序指令時實現如權利要求1至7任一所述的掃描鏈故障的診斷方法。

10.一種計算機可讀存儲介質，所述存儲介質中存儲有程序指令，其特征在于，所述程序指令被處理器執行時實現如權利要求1至7任一所述的掃描鏈故障的診斷方法。